실리콘 웨이퍼 두께 측정기

모두 186항목의 실리콘 웨이퍼 두께 측정기와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 실리콘 웨이퍼 두께 측정기와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 절연유체, 반도체 소재, 비철금속, 태양광 공학, 금속 재료 테스트, 길이 및 각도 측정, 분석 화학, 플라스틱, 제지 산업 장비, 의료 장비, 페인트 및 바니시, 약국, 철강 제품, 도로 차량 장치, 비금속 광물, 사진 기술, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 고무 및 플라스틱 제품, 유체 흐름 측정, 표면 처리 및 도금, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 광학 장비, 회전 모터, 항공우주 제조용 재료, 원자력공학, 섬유제품, 반도체 개별 장치, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

GB/T 6618-1995 실리콘 웨이퍼 두께 및 총 두께 변화 테스트 방법
GB/T 6618-2009 실리콘 웨이퍼 두께 및 총 두께 변화 테스트 방법
GB/T 30867-2014 탄화규소 단일 웨이퍼의 두께 및 전체 두께 변화에 대한 테스트 방법
GB/T 30869-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 두께 및 전체 두께 변화 시험 방법
GB/T 29507-2013 실리콘 웨이퍼 평탄도, 두께, 전체 두께 변화를 테스트하는 자동 비접촉 스캐닝 방법
GB/T 31225-2014 엘립소메트리를 이용한 실리콘 표면의 얇은 이산화규소 층 두께 측정 방법
GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
GB/T 30857-2014 사파이어 기판의 두께 및 두께 변화에 대한 테스트 방법
GB/T 6619-1995 실리콘 웨이퍼 굽힘 시험 방법
GB/T 6619-2009 실리콘 웨이퍼 굽힘 시험 방법
GB/T 15615-1995 실리콘 웨이퍼 굽힘 강도 시험 방법
GB/T 20220-2006 플라스틱 필름 및 시트 평균 시료 두께, 평균 롤 두께 및 단위 질량 면적 측정 계량 방법(두께 계량)
GB/T 6621-2009 실리콘 웨이퍼 표면 평탄도 테스트 방법
GB/T 42905-2023 적외선 반사법을 이용한 탄화규소 에피층 두께 테스트
GB/T 42789-2023 실리콘 웨이퍼 표면광택 시험방법
GB/T 11378-2005 금속 코팅 코팅 두께 측정 프로파일로미터 방법
GB/T 6620-1995 실리콘 웨이퍼 Warpage의 비접촉식 테스트 방법
GB/T 6621-1995 실리콘 연마 웨이퍼의 표면 평탄도 테스트 방법
GB/T 6620-2009 실리콘 웨이퍼 Warpage의 비접촉식 테스트 방법
GB/T 32278-2015 실리콘 카바이드 단일 웨이퍼 평탄도 테스트 방법
GB/T 6672-2001 플라스틱 필름 및 시트의 두께 측정을 위한 기계적 측정 방법
GB/T 42897-2023 미세전자기계시스템(MEMS) 기술 실리콘 기반 MEMS 나노두께 필름 인장강도 시험 방법
GB/T 32280-2015 실리콘 웨이퍼 Warpage 테스트를 위한 자동 비접촉 스캐닝 방법
GB/T 30859-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 Warpage 및 Waviness 테스트 방법
GB/T 29505-2013 실리콘 웨이퍼의 평평한 표면의 표면 거칠기 측정 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

KS D 0259-2012(2017) 고르지 못한 두께의 두께 측정 또는 보우 실리콘 웨이퍼 방식
KS D 0259-2012(2022) 실리콘 웨이퍼 두께, 두께 변화 및 굽힘 측정 방법
KS D 0259-2012 실리콘 웨이퍼의 두께, 두께 변화 및 곡률 측정 방법
KS B ISO 9339-1:2004 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈 두께 측정 1부: 직접 콘택트 렌즈
KS B ISO 9339-1:2014 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈 두께 측정 1부: 직접 콘택트 렌즈
KS B ISO 9339-2:2004 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈 두께 측정 2부: 하이드로겔 콘택트 렌즈
KS B ISO 9339-2:2014 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈 두께 측정 2부: 하이드로겔 콘택트 렌즈
KS M 3089-2009 플라스틱 필름 및 시트의 두께 측정
KS M 3089-1994 플라스틱 필름 및 시트의 두께 시험 방법
KS M 3089-2013 플라스틱 필름 및 시트의 두께 시험 방법
KS D ISO 4518-2012(2017) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 프로파일러 방법
KS M ISO 4591:2007 플라스틱 시트 및 필름 중량 측정 기술(중량 측정 두께)을 사용하여 시편의 평균 두께와 롤의 부피 및 평균 두께를 결정합니다.
KS D ISO 4519:2009 금속 코팅 코팅 두께 측정 표면 측광 프로파일로메트리 방법
KS L 5106-1995 통기성 측정기를 이용한 포틀랜드 시멘트의 분말도 측정 방법
KS D ISO 3497-2002(2017) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - X선 분광계 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JIS H 0611:1994 실리콘 웨이퍼의 두께, 두께 변화 및 굽힘 측정 방법
JIS K 7130:1999 플라스틱, 필름 및 시트, 두께 측정
JIS K 7130:1992 플라스틱 필름 및 시트의 두께 시험 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

ASTM F533-96 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 변화에 대한 표준 테스트 방법
ASTM F533-02 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 변화에 대한 표준 테스트 방법
ASTM F1530-94 자동화된 비접촉 스캐닝을 통해 실리콘 웨이퍼의 평탄도, 두께 및 두께 변화를 측정하는 표준 테스트 방법
ASTM F534-97 실리콘 웨이퍼 곡률에 대한 표준 테스트 방법
ASTM F1527-00 실리콘 저항률 측정 장비의 교정 및 제어를 위한 실리콘 표준 물질 및 표준 실리콘 웨이퍼 사용에 대한 표준 가이드
ASTM D4166-99 디지털 자력계를 이용한 비자성체의 두께 측정 표준시험방법

German Institute for Standardization, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 2-1부: 실리콘 웨이퍼 기하학적 치수 측정 실리콘 웨이퍼 두께
DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 2-2부: 실리콘 웨이퍼의 기하학적 치수 측정 두께 변화
DIN V VDE V 0126-18-3:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 3부: 결정질 실리콘 웨이퍼의 알칼리성 부식 손상 단결정 및 다결정 실리콘 웨이퍼의 부식 속도 결정 방법.
DIN 50933:2015 코팅 두께 측정 스타일러스 기구를 이용한 차동 측정에 의한 코팅 두께 측정
DIN 50933:2015-08 코팅 두께 측정 코팅의 두께는 스타일러스 장비를 사용한 차등 측정으로 측정됩니다.
DIN 50441-1:1996 반도체 공정 재료 테스트 반도체 웨이퍼 기하학적 치수 측정 1부: 두께 및 두께 변화
DIN ISO 4593:2019-06 기계적 스캐닝을 통한 플라스틱 필름 및 시트의 두께 측정
DIN IEC 61336:1999-05 원자력 계측용 전리방사선을 활용한 두께 측정 시스템의 정의 및 시험 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

GB/T 40279-2021 실리콘 웨이퍼 표면의 막 두께를 측정하는 광학 반사 방법
GB/T 37361-2019 도막 두께 측정 초음파 두께 측정법
GB/T 37051-2018 태양광 등급 다결정 실리콘 잉곳 및 웨이퍼의 결정 결함 밀도 측정 방법
GB/T 32280-2022 실리콘 웨이퍼 휨 및 곡률 테스트를 위한 자동 비접촉 스캐닝 방법

Professional Standard - Light Industry, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

QB 1055-1991 두께 측정기
QB/T 5837-2023 화장지 두께 측정기
QB/T 1055-2004 종이 및 판지 두께 측정기
QB/T 1055-1998 종이 및 판지 두께 측정기
QB/T 1268-1991 완성된 모피 시험편의 두께와 폭 결정

CZ-CSN, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

CSN 64 0181-1986 필름 및 시트 두께 테스트 방법
CSN ISO 4518:1994 금속 코팅. 코팅 두께 측정. 프로필로메트리
CSN ISO 1879:1993 프로파일로메트리 방법을 사용하여 표면 두께를 측정하는 장비입니다. 용어
CSN ST SEV 1379-1978 전기 기계. 회전 정류자 시트 절연체. 두께 그룹
CSN ISO 1880:1993 프로파일로메트리 방법을 사용하여 표면 두께를 측정하는 장비입니다. 점진적인 윤곽 변환이 가능한 접촉식(스타일러스) 유형의 기기입니다. 프로필 기록기

PL-PKN, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

PN D54051-1968 목공 도구. 톱날 두께

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JJF(纺织) 020-2010 원단 두께 게이지 교정 사양
JJF(纺织)020-2010 원단 두께 게이지 교정 사양
JJF 1965-2022 솔더 페이스트 두께 측정기 교정 사양
JJF(纺织) 13-1985 Y531 원단 두께 측정기의 교정 방법
JJF(纺织) 101-2021 레버형 토목섬유 두께 측정기의 교정 사양
JJF 1224-2009 강철 보호층 및 바닥 두께 측정기의 교정 사양
JJF(纺织)101-2021 레버형 토목섬유 두께 측정기의 교정 사양
JJF(纺织) 025-2015 카드 울 길이 분석기의 교정 사양
JJF(纺织)025-2015 카드 울 길이 분석기의 교정 사양
JJF(纺织) 025-2006 카드 울 길이 분석기의 교정 사양

HU-MSZT, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

MNOSZ 22307-1955 측정기(목재 두께 측정)

Professional Standard - Machinery, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JB/T 20104-2007 정제 경도 시험기
JB/T 8393-1996 자기 및 와전류 코팅 두께 측정기

工业和信息化部, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JB/T 20104-2022 정제 경도 시험기

Society of Automotive Engineers (SAE), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

SAE J1058-1999 표준 강판 두께 및 공차

SAE - SAE International, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

SAE J1058-1991 표준 강판 두께 및 공차
SAE J1058-1976 표준 강판 두께 및 공차
SAE J1058-2015 표준 강판 두께 및 공차

The Society for Protective Coatings (SSPC), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

SSPC PA 9-2015 초음파 두께 측정기를 사용하여 건조 코팅 두께 측정
SSPC PA 9-2008 초음파 두께 측정기를 사용하여 시멘트질 기질의 건조 코팅 두께 측정

SSPC - The Society for Protective Coatings, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

PA 9-2015 초음파 두께 측정기를 사용하여 건조 코팅 두께 측정
PA 9-2008 초음파 두께 측정기를 사용하여 시멘트질 기질의 건조 코팅 두께 측정
PA GUIDE 9-2008 초음파 두께 측정기를 사용하여 시멘트질 기질의 건조 코팅 두께 측정

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

CNS 6499-1980 운모 플레이크, 플레이크, 라멜라 및 플레이크의 두께 측정 방법
CNS 13923-1997 플라스틱 필름 및 시트의 두께 시험 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

T/CAMS 127-2023 케이블 절연체 두께 측정기
T/IAWBS 007-2018 4H 탄화규소 호모에피택시층 두께에 대한 적외선 반사 측정 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

YB/T 045-2005 편상흑연의 두께 측정방법
YB/T 045-1993 편상흑연의 두께 측정방법

GM Daewoo, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

GMKOREA EDS-T-2108-2011 클러치 라이닝 두께 측정

UNKNOWN, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

YB/T 045-93 편상흑연의 두께 측정방법

SE-SIS, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

SIS SS IEC 577:1981 핵실험 장비. 전리방사선 두께 측정기

Professional Standard - Chemical Industry, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

HG/T 3009-1999 기계적 스캐닝 방법을 통한 필름 및 필름 베이스 두께 측정

Defense Logistics Agency, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

DLA SMD-5962-87780-1989 실리콘 모놀리식 악기 스피커 선형 마이크로회로
DLA SMD-5962-88630 REV E-2006 실리콘 모놀리식 악기 스피커 선형 마이크로회로
DLA SMD-5962-87780 REV A-2011 마이크로회로, 선형, 계측 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-89871 REV B-1995 실리콘 모놀리식, 고속 정밀 비교기, 선형 마이크로회로
DLA DSCC-VID-V62/13625-2013 마이크로회로, 선형, 저전력 계측 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-99503 REV A-2009 마이크로회로, 선형, 마이크로파워, 계측 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-87719 REV E-2010 마이크로회로, 선형, 프로그래밍 가능 이득 계측 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-88539 REV F-2011 마이크로회로, 선형, 방사선 경화, 정밀 계측 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA DSCC-VID-V62/11618-2011 마이크로회로, 선형, 온도 센서, 모놀리식 실리콘
DLA DSCC-VID-V62/06608 REV A-2012 마이크로회로, 디지털, 온도 센서, 모놀리식 실리콘
DLA DSCC-VID-V62/05618 REV B-2013 마이크로회로, 디지털, 온도 센서, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-95529 REV A-2004 계측기 예산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로 사용
DLA SMD-5962-89904 REV B-2004 실리콘 모놀리식, 4중 저전력 정밀 비교기, 선형 마이크로회로
DLA SMD-5962-88539 REV E-2005 실리콘 모놀리식 정밀 기기 스피커 방사선 경화 선형 미세 회로
DLA SMD-5962-90507 REV A-2000 실리콘 모놀리식, 온도 센서, 선형 마이크로 회로
DLA SMD-5962-96687 REV B-2007 정밀 온도 센서 실리콘 모놀리식 회로 마이크로회로
DLA SMD-5962-77037 REV H-2011 마이크로회로, 디지털, CMOS, 4비트 진폭 비교기, 모놀리식 실리콘
DLA MIL-M-38510/150 D VALID NOTICE 1-2009 마이크로회로, 디지털, 양극, TTL, 진폭 비교기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-89711 REV B-2006 실리콘 모놀리식, 64비트 출력 상관기, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로

BR-ABNT, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

ABNT P-PB-52-1964 주석도금강판[강판]의 두께와 공차

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

GJB 3766-1999 충격 디스크 뇌관의 경질 폭발박 두께 측정 방법 - 표면 프로파일로미터 방법
GJB 3766-1999(XG1-2015) 충격 디스크 뇌관의 경질 기반 폭발성 포일의 두께를 측정하는 방법 - 표면 프로파일로미터 방법 수정 시트 1-2015
GJB 8687-2015 광학 필름 굴절률 및 두께 측정기의 교정 절차

ES-UNE, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

UNE-ISO 3034:2016 골판지. 단일 조각 두께 결정

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JJG 818-2005 자기 및 와전류 코팅 두께 측정기
JJG(轻工) 50-1990 종이 및 판지 두께 측정 장비의 교정 절차
JJG 819-1993 베어링 링 두께 변화 검사기의 교정 절차
JJG 818-2018 자기 및 와전류 코팅 두께 측정 장비의 교정 절차

RU-GOST R, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

GOST 8.502-1984 ГСИ 코팅 두께 측정기 교정 방법 및 도구
GOST 24680-1981 회전 전기 기계 절연 정류자 장벽 두께 시리즈
GOST 8.495-1983 ГСИ.초음파 두께 측정기에 문의 교정 방법 및 도구

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

DB44/T 1207-2013 자기 및 와전류 코팅 두께 측정기

International Organization for Standardization (ISO), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

ISO 4518:1980 금속 코팅 두께 측정 프로파일로미터 방법
ISO 4591:1992 플라스틱 필름 및 시트 샘플의 평균 두께, 롤의 평균 두께 및 단위 질량 면적 결정(계량 방법)
ISO 8255-1:1986 광학 및 광학 기기 현미경 커버슬립 1부: 치수 공차, 두께 및 광학 특성
ISO 5972:1978 운모 블록, 플레이크, 필름 및 분할 라미네이트 두께 결정
IEC TR 63258:2021 나노기술 나노필름의 두께를 추정하기 위한 엘립소메트리 적용 가이드
IEC/TR 63258:2021 나노기술 나노필름의 두께를 추정하기 위한 엘립소메트리 적용 가이드
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정

Association Francaise de Normalisation, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

NF EN ISO 12625-3:2014 티슈 페이퍼 및 티슈 제품 - 파트 3: 다중 부품 시트의 두께, 평균 두께, 평균 밀도 및 부피 결정
NF A91-114:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 프로파일로미터 방법
NF C96-050-9*NF EN 62047-9:2012 반도체 장치 - 미세 전자기계 장치 - 파트 9: 미세 전자기계 시스템 실리콘 웨이퍼의 실리콘 결합 강도 테스트.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

YS/T 23-2016 실리콘 에피층 두께의 적층 결함 크기 측정 방법
YS/T 23-1992 실리콘 에피층 두께의 적층 결함 크기 측정 방법
YS/T 15-1991 그라인딩 앵글 염색법을 이용한 실리콘 에피층 및 확산 두께 측정
YS/T 14-2015 헤테로에피텍셜층 및 실리콘 다결정층의 두께를 측정하는 방법
YS/T 14-1991 헤테로에피텍셜층 및 실리콘 다결정층의 두께를 측정하는 방법
YS/T 15-2015 그라인딩 앵글 염색법을 이용한 실리콘 에피층 및 확산층 두께 결정

RO-ASRO, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

STAS 7200-1973 플라스틱 제품. 필름 및 시트의 두께 측정

IN-BIS, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

IS 9044-1979 운모 블록, 플레이크, 필름 및 운모 플레이크의 두께 측정 방법
IS 12434-1988 코팅/도금 두께 측정기 사양 파괴형
IS 12554 Pt.1-1988 비파괴 코팅 두께 측정 장비 사양 1 부 와전류 장비

ZA-SANS, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

SANS 4591:2003 플라스틱 필름 및 시트 샘플의 평균 두께, 롤의 평균 두께 및 단위 질량 면적(계량 두께) 결정
SANS 4518:1980 금속 도금. 코팅 두께 측정. 표면 광도 측정법
SANS 4593:2003 플라스틱 필름 및 시트의 두께 측정. 기계적 측정 방법
SANS 10834:2003 바닥 깔개 카펫 바닥 위 파일 두께의 비파괴 측정 WRONZ 두께 게이지 측정 방법

PT-IPQ, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

NP 2214-1986 플라스틱 소재. 필름, 시트, 직접 측정보다 더 쉽게 두께 측정
NP 770-1988 종이와 판지. 판지 밀도 계산 및 개별 종이 두께 측정

British Standards Institution (BSI), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

BS EN ISO 4518:1980 금속 클래딩 클래딩 두께 측정 프로파일러 방법
BS TA 57:1974 티타늄-알루미늄-몰리브덴-주석-실리콘 합금판 사양(인장강도 1030~1220MPa)(최대두께 65mm)
BS ISO 8255-1:2011 현미경, 표지 전표, 치수 공차, 두께 및 광학 특성.
BS IEC 61336:1996 원자력 계측용 전리방사선을 활용한 두께 측정 시스템의 정의 및 시험 방법
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

NEMA MS 5-2003 진단 자기공명영상에서 슬라이스 두께 결정

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

NEMA MS 5-2010 진단 자기공명영상에서 슬라이스 두께 결정
NEMA MS 5-1991 진단 자기공명영상에서 슬라이스 두께 결정
NEMA MS 5-2018 진단 자기공명영상에서 슬라이스 두께 결정

AENOR, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

UNE-ISO 4591:2010 중량 측정 기술을 사용하여 샘플의 평균 두께, 롤의 평균 두께 및 플라스틱 필름 및 시트의 수율(중량 측정 두께) 결정

YU-JUS, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JUS C.A6.037-1991 금속 클래딩. 클래딩 두께 측정. 프로필로미터 방법

European Committee for Standardization (CEN), 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

EN ISO 4518:2021 금속 코팅 코팅 두께 측정 표면 측광 프로파일로메트리 방법
EN ISO 4518:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 표면 포토프로필로미터 방법(ISO 4518-1990)
EN 20534:1993 종이 및 판지의 두께 및 겉보기 벌크 밀도 또는 겉보기 시트 밀도 결정(ISO 534:1988)

工业和信息化部/国家能源局, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 실리콘 웨이퍼 두께 측정기

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