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SEM 엑스레이 스캐닝 방법

모두 142항목의 SEM 엑스레이 스캐닝 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 SEM 엑스레이 스캐닝 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 범죄 예방, 기르다, 분석 화학, 길이 및 각도 측정, 물리학, 화학, 광학 및 광학 측정, 페인트 및 바니시, 어휘, 비파괴 검사, 의료 장비, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 표면 처리 및 도금, 계측 및 측정 합성, 광전자공학, 레이저 장비, 비철금속, 섬유 섬유, 공기질, 철강 제품, 세라믹, 정보 기술 응용, 전자기 호환성(EMC), 도로 차량 장치, 페인트 성분.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
  • GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
  • GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
  • GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
  • GB/T 16594-1996 미크론 수준의 길이를 주사전자현미경으로 측정하는 방법
  • GB/T 17722-1999 금속캡층 두께의 주사전자현미경 측정방법
  • GB/T 16594-2008 미크론 단위 길이의 주사 전자 현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 20307-2006 나노크기 길이의 주사전자현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 43618-2023 비파괴 검사 공정 타워 감마선 스캐닝 방식
  • GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
  • GB/T 25758.1-2010 비파괴 검사를 위한 산업용 X-Ray 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법
  • GB/T 14593-2008 캐시미어, 양모 및 이들의 혼합섬유의 정량분석법 주사전자현미경법
  • GB/T 32869-2016 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 주사전자현미경 및 에너지 분산형 X선 분광학 특성 분석 방법
  • GB/T 25189-2010 마이크로빔 분석주사형 전자현미경 에너지 분광계의 정량 분석 매개변수 결정 방법
  • GB/T 28873-2012 나노입자 생물형태 효과에 대한 환경주사전자현미경 검출 방법의 일반 원리
  • GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법

Professional Standard - Judicatory, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

国家能源局, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

Professional Standard - Public Safety Standards, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
  • GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학
  • GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 909-2010 흔적 증거물 추출 및 포장 방법 총격 잔재물 검출을 위한 주사전자현미경/에너지분광법

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

Professional Standard - Machinery, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

Professional Standard - Education, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법

International Organization for Standardization (ISO), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
  • ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
  • ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
  • ISO 16000-27:2014 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 섬유 먼지 측정(직접 방법)

Professional Standard - Commodity Inspection, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경
  • SN/T 3009-2011 금속 표면의 해수 부식을 주사전자현미경으로 식별하는 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
  • ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
  • ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E3309-21 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 통한 법의학 프라이밍 총상 잔류물(pGSR) 분석 보고를 위한 표준 가이드
  • ASTM B748-90(1997) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
  • ASTM B748-90(2006) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
  • ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E3284-23 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 사용한 프라이머 잔류물 법의학적 검사(pGSR) 교육을 위한 표준 관행
  • ASTM B748-90(2010) 주사전자현미경 단면 측정을 통한 금속 코팅 두께 측정을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM B748-90(2021) 주사전자현미경을 이용한 단면적 측정을 통한 금속코팅 두께 측정의 표준시험방법
  • ASTM E2767-13(2018) X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 테스트 방법(DICOND)의 비파괴 평가에서 디지털 영상 및 통신에 대한 표준 관행
  • ASTM E2767-21 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 테스트 방법(DICONDE)의 비파괴 평가에서 디지털 영상 및 통신에 대한 표준 관행
  • ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM B748-90(2016) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 시험방법
  • ASTM E2767-13 X-Ray Extreme 및 단층 촬영 40, CT 41 디지털 영상 및 통신의 비파괴 평가를 위한 테스트 방법 40, DICONDE 41의 표준 실행
  • ASTM B748-90(2001) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 표준시험방법
  • ASTM F1372-93(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1372-93(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D605-82(1996)e1 주사전자현미경을 사용하여 작업 환경 내 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D6059-96(2011) 주사전자현미경을 사용하여 작업 환경 내 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법

Professional Standard - Petroleum, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • DB44/T 1527-2015 마이크로빔 분석 주사전자현미경 이미지 선명도 평가 방법
  • DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
  • DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GJB 737.11-1993 불꽃 화학 물질에 대한 테스트 방법 입자 크기 측정 주사 전자 현미경

RU-GOST R, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GOST R 56109-2014 의료 전기 장비 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비와 결합된 양전자 방출 단층 촬영 장비 정부 조달을 위한 기술 요구 사항
  • GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
  • GOST 8.594-2009 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사전자현미경 식별방법
  • GOST R 8.631-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사형 전자 측정 현미경 검증 방법
  • GOST R IEC 60601-2-44-2013 의료 전기 장비 2-44부 컴퓨터 단층촬영용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

GOSTR, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

Group Standards of the People's Republic of China, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • T/CSIQ 3103-2015 도자기 작품의 내부 미세구조 시험 방법 X선 컴퓨터 단층촬영
  • T/NLIA 004-2021 적층 가공된 알루미늄 합금의 주사전자현미경 현장 인장 시험 방법

SE-SIS, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

工业和信息化部, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • YS/T 1491-2021 주사전자현미경을 이용한 니켈계 고온합금분말의 구형도 측정방법
  • SJ/T 11759-2020 태양전지 전극 그리드 라인 종횡비 레이저 스캐닝 공초점 현미경 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GB/T 38783-2020 귀금속 복합재료의 코팅 두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법

ES-UNE, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • UNE-EN ISO 9220:2022 금속코팅의 코팅두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법
  • UNE-EN 60601-2-44:2009/A1:2012 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • UNE-EN 60601-2-44:2009/A2:2016 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

British Standards Institution (BSI), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • BS ISO 23159:2020 비파괴 검사를 위한 프로세스 컬럼의 감마선 스캐닝 방법
  • BS EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 스캐닝 방법
  • BS EN 12543-1:1999(2008) 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 스캐닝 방법
  • BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
  • 19/30373364 DC BS ISO 23159 비파괴 검사를 위한 프로세스 컬럼의 감마선 스캐닝 방법
  • DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
  • BS EN 60601-2-44:2009+A2:2016 의료 전기 장비용 컴퓨터 단층 촬영 및 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
  • BS EN 60601-2-44:2009 의료전기기기 - 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구사항
  • BS EN 60601-2-44:2009+A11:2011 의료전기기기 - 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구사항
  • BS EN 60601-2-44:2009+A1:2012 의료전기기기 - 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구사항

Danish Standards Foundation, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • DS/EN 12543-1:2002 비파괴 검사를 위한 산업용 X-Ray 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • DS/EN 60601-2-44/A11:2011 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • DS/EN 60601-2-44:2009 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • DS/EN 60601-2-44/A1:2012 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Association Francaise de Normalisation, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • NF EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선관 방출 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경을 이용한 이미지 선명도 평가 방법
  • XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 - 주사 전자 현미경 - 이미지 선명도 평가 방법
  • NF A09-231-1*NF EN 12543-1:1999 비파괴 검사 산업용 X선 시스템의 비파괴 검사 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 의료용 전기 장비 전기광학 X선 영상 증폭 장치의 특성 1부: 입사 스캐닝 필드 크기 결정
  • NF EN 60601-2-44/A2:2016 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-44/A1:2012 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-44/A11:2012 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-44:2009 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 섬유 낙진 측정(직접 방법)

German Institute for Standardization, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • DIN EN 12543-1:1999-12 비파괴 검사 비파괴 검사 산업용 X선 시스템 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • DIN EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 핵심 특성 1부: 스캐닝 방법
  • DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
  • DIN EN 16016-4:2012 비파괴 검사 방사선 방법 컴퓨터 단층 촬영 파트 4: 자격 독일어 버전 EN 16016-4-2011

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • GJB 5891.6-2006 불꽃놀이 시험 방법 6부: 입자 크기 측정을 위한 주사 전자 현미경 방법

Lithuanian Standards Office , SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • LST EN 12543-1-2001 비파괴 검사를 위한 산업용 X-Ray 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법

AENOR, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • UNE-EN 12543-1:2000 비파괴 검사 산업용 X선 시스템의 비파괴 검사 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • UNE-EN 60601-2-44:2010/A11:2012 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

European Committee for Standardization (CEN), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
  • JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법

未注明发布机构, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • DIN EN 16016-4 E:2009-11 비파괴 검사 - 방사선 방법 - 컴퓨터 단층 촬영 - 4부: 자격
  • DIN ISO 16000-27 E:2012-12 실내 공기 - 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면의 침전된 섬유성 먼지 측정(직접 방법)

American National Standards Institute (ANSI), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • ANSI/ASTM D6059:2001 주사전자현미경을 이용하여 작업환경 공기 중 단결정 세라믹 위스커의 농도를 측정하는 방법

IEC - International Electrotechnical Commission, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • IEC 60601-2-44/AMD1:2001 수정안 1 의료 전기 장비 파트 2-44: 컴퓨터 단층 촬영 X선 장비의 안전을 위한 특별 요구 사항(버전 2.0)

Standard Association of Australia (SAA), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • AS/NZS IEC 60601.2.44:2022 의료 전기 장비 2.44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Professional Standard - Post and Telecommunication, SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • YD/T 1690.3-2007 통신장비 내부 전자파 방출 진단을 위한 기술 요구사항 및 측정 방법(150 kHz ~ 1 GHz) 제3부: 복사 방출 측정을 위한 표면 스캐닝 방법

Society of Automotive Engineers (SAE), SEM 엑스레이 스캐닝 방법

  • SAE J1752-2-2011 10MHz ~ 3GHz의 집적 회로 표면 스캐닝 방법(루프 감지 방법)을 사용한 방사 방출 측정




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