ZH

EN

ES

Полупроводниковые стандарты

Полупроводниковые стандарты, Всего: 124 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Полупроводниковые стандарты, являются: Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Графические символы, Полупроводниковые приборы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Механические конструкции электронного оборудования, Качество воды, Качество воздуха, Защита от огня, Защита окружающей среды, Системы промышленной автоматизации, Электрические аксессуары, Технические рисунки, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Полупроводниковые материалы, Продукция химической промышленности, Печатные схемы и платы, Языки, используемые в информационных технологиях, Измерения радиации.


Standard Association of Australia (SAA), Полупроводниковые стандарты

  • AS 4424:1996 Справочное руководство по стандартам на полупроводниковые приборы

Professional Standard - Machinery, Полупроводниковые стандарты

  • JB/T 7059-1993 Руководство по подготовке стандарта на силовые полупроводниковые модули
  • JB/T 5631-1991 Эпитаксиальная печь для полупроводниковых приборов. Стандарт энергоэффективности

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Полупроводниковые стандарты

  • IPC/EIA J-STD-026 CD-1999 Стандарт проектирования полупроводников для приложений с перевернутым кристаллом
  • IPC/EIA J-STD-026-1999 Стандарт проектирования полупроводников для приложений с перевернутым кристаллом

JP-JEITA, Полупроводниковые стандарты

  • JEITA ED7500A-2-2006 Стандарт размеров полупроводниковых приборов (Дискретные полупроводниковые приборы)
  • JEITA ED 7300A-2008 Рекомендуемая практика по стандарту подготовки эскизных чертежей полупроводниковой упаковки

British Standards Institution (BSI), Полупроводниковые стандарты

  • BS 3934-1:1992 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Рекомендации по составлению чертежей полупроводниковых приборов.
  • BS EN 60191-4:2014+A1:2018 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • PD IEC TR 63378-1:2021 Термическая стандартизация полупроводниковых корпусов. Термическое сопротивление и термические параметры полупроводниковых корпусов типа BGA, QFP
  • BS IEC 60191-2:1966+A21:2020 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Размеры
  • BS EN 60191-4:2014 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов
  • BS IEC 60191-2:1966+A18:2011 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Размеры
  • BS EN 60191-6:2010 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Общие правила оформления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа
  • BS EN 60191-6:2005 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Общие правила составления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа.
  • BS EN 60191-6:2004 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6. Общие правила подготовки габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа.
  • BS EN 60191-6:2009 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Общие правила составления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа.
  • BS IEC 62526:2007 Стандарт для расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Полупроводниковые стандарты

  • TIA J-STD-026-1999 Стандарт проектирования полупроводников для приложений с перевернутым кристаллом IPC/EIA J-STD-026

Underwriters Laboratories (UL), Полупроводниковые стандарты

  • UL 1557-2022 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств
  • UL 1557 BULLETIN-2014 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОЧНО: 13 ОКТЯБРЯ 2014 г.)
  • UL 1557 BULLETIN-2012 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОЧНО: 22 июля 2012 г.)
  • UL 1557 BULLETIN-2011 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОК СРОК: 19 ДЕКАБРЯ 2011 г.)
  • UL 1557-2018 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (шестое издание)
  • UL 1557 BULLETINS-2006 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (11.04.2006 (4p); 26.01.2006 (4p))

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Полупроводниковые стандарты

  • IPC J-STD-026-1999 Стандарт проектирования полупроводников для приложений с перевернутым кристаллом IPC/EIA J-STD-026

TIA - Telecommunications Industry Association, Полупроводниковые стандарты

  • J-STD-026-1999 Стандарт проектирования полупроводников для приложений с перевернутым кристаллом (IPC/EIA J-STD-026)

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Полупроводниковые стандарты

  • IEEE 1005-1991 Стандартные определения и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором
  • IEEE 1005-1998 Стандартные определения и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором
  • IEEE 216-1960 СТАНДАРТЫ НА ТВЕРДОТЕЛЕВЫЕ УСТРОЙСТВА: ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ТЕРМИНОВ
  • IEEE 641-1987 СТАНДАРТНЫЕ ОПРЕДЕЛЕНИЯ И ХАРАКТЕРИСТИКИ МЕТАЛЛ-НИТРИД-ОКСИД-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАССИВЫ
  • IEEE 662-1992 Стандартная терминология полупроводниковой памяти (документ IEEE Computer Society)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Полупроводниковые стандарты

  • DB44/T 1639.1-2015 Общие правила для полупроводникового освещения. Стандартные оптические компоненты. Часть 1. Иерархическое деление.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Полупроводниковые стандарты

  • IEEE Std 255-1963 Стандартные буквенные обозначения IEEE для полупроводниковых устройств
  • ANSI/IEEE Std 662-1980 Стандартная терминология IEEE для полупроводниковой памяти
  • IEEE 662-1980 Стандартная терминология IEEE для полупроводниковой памяти
  • IEEE Std 662-1992 Стандартная терминология IEEE для полупроводниковой памяти
  • AIEE No 59-1962 (Supersedes AIEE No. 59, 1956 and Стандарт AIEE для компонентов полупроводникового выпрямителя
  • IEEE Std 1005-1991 Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором
  • IEEE Std 1005-1998 Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц с плавающим затвором
  • IEEE Std 216-1960 Стандарты IRE на твердотельные устройства: определения полупроводниковых терминов
  • IEEE 216*61 IRE 28 S1 Стандарты IEEE на твердотельные устройства: определения полупроводниковых терминов, 1960 г.
  • NFPA (Fire) 318 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников, редакция 2022 г.
  • ANSI/IEEE Std 641-1987 Стандартные определения IEEE и характеристики полупроводниковых матриц из оксидов металлов
  • AIEE No 426-1958 Предлагаемый AIEE стандарт графических символов для полупроводниковых устройств

SE-SIS, Полупроводниковые стандарты

  • SIS SEN 43 32 00-1973 Полупроводниковые приборы. Обзор стандартов. Действительность международных рекомендаций как шведского стандарта

Professional Standard - Electron, Полупроводниковые стандарты

  • SJ/Z 9021.1-1987 Механическая стандартизация полупроводниковых компонентов. Часть 1. Подготовка чертежей полупроводниковых компонентов.
  • SJ/Z 9021.2-1987 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2: Размеры.
  • SJ/T 9533-1993 Классификационный стандарт качества полупроводниковых дискретных приборов
  • SJ/T 9534-1993 Классификационный стандарт качества полупроводниковых интегральных схем
  • SJ/Z 9021.4-1987 Механическая стандартизация полупроводниковых компонентов. Часть 4. Классификация и система кодирования контуров корпусов полупроводниковых компонентов.

International Electrotechnical Commission (IEC), Полупроводниковые стандарты

  • IEC 60191-1:1966 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 1: Подготовка чертежей полупроводниковых приборов.
  • IEC 60191-1A:1969 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 1: Подготовка чертежей полупроводниковых приборов.
  • IEC 60191-1C:1974 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 1: Подготовка чертежей полупроводниковых приборов.
  • IEC 60191-2:1966 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2: Размеры
  • IEC 60191-2:2012 DB Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры.
  • IEC 60191-2:1966/AMD5:2002 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры.
  • IEC 60191-4:2013+AMD1:2018 CSV Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • IEC 62526:2007 Стандарт для расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.
  • IEC 60191-4:2002 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • IEC 60191-4:1987 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам корпусов полупроводниковых приборов.
  • IEC 60191-2-DB:2012 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры.
  • IEC 60191-2:1966/AMD18:2011 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры.
  • IEC TR 63378-1:2021 Термическая стандартизация полупроводниковых корпусов. Часть 1. Термическое сопротивление и тепловые параметры полупроводниковых корпусов типов BGA, QFP.
  • IEC 60191-4:1999 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • IEC 60191-4:2013 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств.
  • IEC 60191-4:2018 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств.
  • IEC 60191-2Y:2000 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2: Размеры (23-е дополнение к публикации 60191-2:1966).
  • IEC 60191-2:1966/AMD2:2001 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Поправка 2
  • IEC 60191-2U:1997 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Приложение 19
  • IEC 60191-2T:1996 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Приложение 18
  • IEC 60191-2Z:2000 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Приложение 24
  • IEC 60191-2X:1999 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Приложение 22
  • IEC 60191-2W:1999 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Приложение 21
  • IEC 60191-2V:1998 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры; Дополнение 20
  • IEC 60759:1983 Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых рентгеновских энергетических спектрометров

Defense Logistics Agency, Полупроводниковые стандарты

  • DLA MIL-STD-750 F-2012 СТАНДАРТ МЕТОДА ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
  • DLA MIL-STD-750 E-2006 СТАНДАРТ МЕТОДА ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
  • DLA MIL STD 750 3-2012 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ТРАНЗИСТОРОВ ДЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ЧАСТЬ 3: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 3000 ПО 3999
  • DLA MIL STD 750 1-2012 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ЭКОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. ЧАСТЬ 1: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 1000 ПО 1999 Г.
  • DLA MIL STD 750 2-2012 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ МЕХАНИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. ЧАСТЬ 2: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 2001 ПО 2999 ГГ.
  • DLA MIL STD 750 4 E-2012 МЕТОД ИСПЫТАНИЯ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ДИОДОВ ДЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. ЧАСТЬ 4: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 4000 ПО 4999.
  • DLA MIL-STD-750-1 CHANGE 1-2013 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ЭКОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. ЧАСТЬ 1: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 1000 ПО 1999 Г.
  • DLA MIL-STD-750-2 CHANGE 3-2013 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ МЕХАНИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. ЧАСТЬ 2: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 2001 ПО 2999 ГГ.
  • DLA MIL-STD-750-1 CHANGE 2-2013 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ЭКОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. ЧАСТЬ 1: МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ С 1000 ПО 1999 Г.
  • DLA DSCC-DWG-94022 REV G-2000 ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО, ДИОД, СТАНДАРТНОЕ ВОССТАНОВЛЕНИЕ

American National Standards Institute (ANSI), Полупроводниковые стандарты

  • ANSI/UL 1557-2013 Стандарт безопасности для электрически изолированных полупроводниковых устройств
  • ANSI/NFPA 318-2011 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников
  • ANSI/IEEE 592:2007 Стандарт на открытые полупроводниковые экраны на соединениях высоковольтных кабелей и разъемных разъемах

American Society for Testing and Materials (ASTM), Полупроводниковые стандарты

  • ASTM D5127-13(2018) Стандартное руководство для сверхчистой воды, используемой в электронной и полупроводниковой промышленности
  • ASTM F72-17e1 Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
  • ASTM F72-95 Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
  • ASTM F72-17 Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
  • ASTM F72-21 Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
  • ASTM F978-90(1996)e1 Стандартный метод испытаний для определения характеристик глубоких уровней полупроводников с помощью методов измерения переходной емкости
  • ASTM D5127-07 Стандартное руководство для сверхчистой воды, используемой в электронной и полупроводниковой промышленности

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Полупроводниковые стандарты

  • DB32/ 3747-2020 Нормы выбросов загрязняющих веществ для полупроводниковой промышленности

未注明发布机构, Полупроводниковые стандарты

  • BS IEC 62526:2007(2010) Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников

Association Francaise de Normalisation, Полупроводниковые стандарты

  • NF C96-611/A1:1972 Полупроводники Переходные транзисторы. Особые стандарты.
  • NF EN 60191-4/A1:2018 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация формы корпусных структур для полупроводниковых приборов.
  • NF EN 60191-4:2014 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация формы корпусных структур для полупроводниковых приборов.
  • NF C96-013-4/A2*NF EN 60191-4/A2:2003 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4: система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • NF C96-013-4*NF EN 60191-4:2014 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • NF C96-013-4*NF EN 60191-4:2000 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4: система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • NF C96-013-4/A1*NF EN 60191-4/A1:2002 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4: система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.

German Institute for Standardization, Полупроводниковые стандарты

  • DIN EN 60191-4:2003 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов (IEC 60191-4:1999 + A1:2001 + A2:2002); Немецкая версия EN 60191-4:1999 + A1:2002 + A2:2002
  • DIN EN 60191-6-16:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007); Немецкая версия EN 60191-6-16:2007.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Полупроводниковые стандарты

  • JIS C 7040:1969 Общие правила механической стандартизации полупроводниковых интегральных схем

National Fire Protection Association (NFPA), Полупроводниковые стандарты

  • NFPA 318-2005 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников, издание 2006 г.
  • NFPA 318-2012 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников. Дата вступления в силу: 20.06.2011.
  • NFPA 318-2015 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников (дата вступления в силу: 19.05.2014)
  • NFPA 318-2009 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников. Дата вступления в силу: 10.10.2008.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Полупроводниковые стандарты

  • KS C IEC 62526:2015 Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников
  • KS C IEC 60759:2009 Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых рентгеновских энергетических спектрометров
  • KS C IEC 60759-2009(2019) Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых рентгеновских энергетических спектрометров

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Полупроводниковые стандарты

  • GB/T 15879.4-2019 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств.

Danish Standards Foundation, Полупроводниковые стандарты

  • DS/EN 60191-4/A2:2002 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • DS/EN 60191-4:2001 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.
  • DS/EN 60191-4/A1:2002 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых приборов.

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, Полупроводниковые стандарты

  • DB34/ 4294-2022 Нормы сброса загрязнителей воды в полупроводниковой промышленности

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Полупроводниковые стандарты

  • EN 60191-4:2014 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств (включает поправку A1: 2018 г.)

Lithuanian Standards Office , Полупроводниковые стандарты

  • LST EN 60191-4+A1-2002 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств (IEC 60191-4:1999+A1:2001).

CZ-CSN, Полупроводниковые стандарты

  • CSN 35 6575 Z1-1997 Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых рентгеновских энергетических спектрометров

ES-UNE, Полупроводниковые стандарты

  • UNE-EN 60191-4:2014/A1:2018 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 4. Система кодирования и классификация по формам контуров корпусов полупроводниковых устройств (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2018 г.)




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.