ZH
EN
ES

тестирование полупроводников

тестирование полупроводников, Всего: 21 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к тестирование полупроводников, являются: Разработка программного обеспечения и системная документация, Неорганические химикаты, Полупроводниковые приборы, Линейные и угловые измерения, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование.

HU-MSZT, тестирование полупроводников

MSZ 700/23.lap-1965 STMicroelectronics тестирует кокс
MSZ 700/36.lap-1961 Испытание полупроводников в угольной шахте
MNOSZ 700-8.lap-1955 STMicroelectronics тестирует углерод и желтуху
MSZ 700/27.lap-1962 Определение тестовой вспышки STMicroelectronics
MSZ 700/26.lap-1961 Тестирование STMicroelectronics. Определение зольности экспресс-методом
MSZ 700/41.lap-1961 Тестирование STMicroelectronics. Быстрое определение общего содержания серы
MSZ 700/24.lap-1965 STMicroelectronics: испытание кокса

Group Standards of the People's Republic of China, тестирование полупроводников

T/SHDSGY 113-2022 Программное обеспечение для радиочастотного тестирования полупроводников
T/ZACA 041-2022 Оборудование для испытания полупроводниковых приборов смешанного сигнала

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), тестирование полупроводников

KS M 1804-2008(2018) Метод испытания плавиковой кислоты для полупроводников

Danish Standards Foundation, тестирование полупроводников

DS/EN 60191-6-16:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA.

German Institute for Standardization, тестирование полупроводников

DIN EN 60191-6-16:2007-11 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007); Немецкая версия EN 60191-6-16:2007 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN 60191-6-16 (2013-...).

Defense Logistics Agency, тестирование полупроводников

DLA MIL-STD-750 F-2012 СТАНДАРТ МЕТОДА ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
DLA MIL-STD-750 F CHANGE 1-2013 МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, тестирование полупроводников

JJG(电子) 04008-1987 Правила пробной проверки для тестера полупроводниковых трубок с двойной базой QE1A

Lithuanian Standards Office , тестирование полупроводников

LST EN 60191-6-16-2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для прожига для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007)

British Standards Institution (BSI), тестирование полупроводников

13/30284029 DC БС ЕН 60191-6-16. Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6-16. Глоссарий тестов полупроводников и розеток для прожига для BGA, LGA, FBGA и FLGA

ES-UNE, тестирование полупроводников

UNE-EN 60191-6-16:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для прожига для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007). (Одобрено AENOR в октябре 2007 г.)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, тестирование полупроводников

GB/T 31359-2015 Методы испытаний полупроводниковых лазеров

CZ-CSN, тестирование полупроводников

CSN 35 1540-1979 Испытания силовых полупроводниковых преобразователей

RO-ASRO, тестирование полупроводников

STAS 11066/2-1980 ТИРИСТОРЫ Методы испытаний