ZH
EN
ES

Вторичный электронографический анализ

Вторичный электронографический анализ, Всего: 74 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Вторичный электронографический анализ, являются: Словари, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Цветные металлы, Топливо, Нефтепродукты в целом, Керамика, Пищевые масла и жиры. Масличные культуры.

International Organization for Standardization (ISO), Вторичный электронографический анализ

ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
ISO 22415:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины аргонового кластерного распыления органических материалов.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Вторичный электронографический анализ

GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Вторичный электронографический анализ

GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

British Standards Institution (BSI), Вторичный электронографический анализ

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS ISO 22415:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины аргонового кластерного распыления органических материалов
BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
BS EN 16294:2012 Нефтепродукты и производные жиров и масел. Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК). Оптико-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно связанной плазмой (ICP OES)
BS EN 14538:2006 Производные жиров и масел. Метиловый эфир жирных кислот (FAME). Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптико-эмиссионного спектрального анализа с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Association Francaise de Normalisation, Вторичный электронографический анализ

NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
NF M07-151*NF EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Вторичный электронографический анализ

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.

German Institute for Standardization, Вторичный электронографический анализ

DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN EN 14538:2006-09 Производные жиров и масел - Метиловый эфир жирных кислот (FAME) - Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптического эмиссионного спектрального анализа с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES); Немецкая версия EN 14538:2006.
DIN EN 16294:2013-02 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES); Немецкая версия EN 16294:2012.

RU-GOST R, Вторичный электронографический анализ

GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна

Professional Standard - Electron, Вторичный электронографический анализ

SJ/T 10553-2021 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в ZrO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10552-2021 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в TiO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10552-1994 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в TiO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10553-1994 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в ZrO2 для использования в электронной керамике
SJ/T 10551-1994 Метод эмиссионного спектрохимического анализа примесей в АЛ203 для использования в электронной керамике
SJ/T 10551-2021 Измерение эмиссионного спектрального анализа оксида алюминия, используемого в электронной керамике.

工业和信息化部, Вторичный электронографический анализ

YS/T 1342.4-2019 Методы химического анализа отходов вторичных аккумуляторов. Часть 4. Определение содержания лития. Пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия.
YS/T 1342.1-2019 Методы химического анализа отходов аккумуляторных батарей. Часть 1. Определение содержания никеля диацетилоксимным гравиметрическим методом и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрией.
YS/T 1342.3-2019 Методы химического анализа отходов вторичных аккумуляторов. Часть 3. Определение содержания марганца методами потенциометрического титрования и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии.
YS/T 1342.2-2019 Методы химического анализа отходов вторичных аккумуляторов. Часть 2. Определение содержания кобальта методами потенциометрического титрования и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии.
YS/T 1200.2-2017 Методы химического анализа 1,1'-бисдифенилфосфинферроценпалладия дихлорида. Часть 2. Определение содержания свинца, никеля, меди, кадмия, хрома, платины, золота, родия и иридия методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой.
YS/T 1395.2-2020 Методы химического анализа дихлорида палладия. Часть 2. Определение серебра, золота, платины, родия, иридия, свинца, никеля, меди, железа, олова, хрома методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой.

Lithuanian Standards Office , Вторичный электронографический анализ

LST EN 16294-2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Danish Standards Foundation, Вторичный электронографический анализ

DS/EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

AENOR, Вторичный электронографический анализ

UNE-EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Вторичный электронографический анализ

YS/T 1046.6-2015 Методы химического анализа медношлаковых концентратов. Часть 6. Определение содержания оксида алюминия. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой.
YS/T 715.2-2009 Методы химического анализа диоксида селена. Часть 2. Определение содержания мышьяка, кадмия, железа, ртути, свинца. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.

Professional Standard - Commodity Inspection, Вторичный электронографический анализ

SN/T 3322.2-2015 Химический анализ титановых концентратов. Часть 2. Определение содержания пентаоксида ванадия и полуторного оксида хрома. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.

KR-KS, Вторичный электронографический анализ

KS L 1671-2023 Метод химического анализа порошков диоксида титана с использованием оптико-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой

ES-UNE, Вторичный электронографический анализ

UNE-EN 14538:2006 Производные жиров и масел. Метиловый эфир жирных кислот (FAME). Определение содержания Ca, K, Mg и Na методом оптического эмиссионного спектрального анализа с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES).