Электронная дифракция Вторичная дифракция

Электронная дифракция Вторичная дифракция, Всего: 84 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронная дифракция Вторичная дифракция, являются: Словари, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Испытание металлов, Защита от огня, Линейные и угловые измерения, Пищевые масла и жиры. Масличные культуры, Топливо, Нефтепродукты в целом.

United States Navy, Электронная дифракция Вторичная дифракция

NAVY UFGS-01 33 29-2010 ДОКУМЕНТАЦИЯ LEED(TM)

International Organization for Standardization (ISO), Электронная дифракция Вторичная дифракция

ISO/CD 23699 Микролучевой анализ. Дифракция обратно рассеянных электронов. Словарь
ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронная дифракция Вторичная дифракция

GB/T 19501-2004 Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 19501-2013 Микролучевой анализ. Общее руководство по анализу дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 36165-2018 Определение среднего размера зерна металла. Метод дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).
GB/T 30703-2014 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов.
GB/T 38532-2020 Микролучевой анализ — Дифракция обратного рассеяния электронов — Измерение среднего размера зерна
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 20724-2006 Метод измерения толщины тонкого кристалла методом дифракции сходящегося пучка электронов

工业和信息化部, Электронная дифракция Вторичная дифракция

YB/T 4677-2018 Определение текстуры в стали методом дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронная дифракция Вторичная дифракция

DB31/T 1156-2019 Метод дифракции обратного рассеяния электронов для технической идентификации следов электропожара

Association Francaise de Normalisation, Электронная дифракция Вторичная дифракция

NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

German Institute for Standardization, Электронная дифракция Вторичная дифракция

DIN ISO 13067:2021-08 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2011)
DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067:2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020).
DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN EN 14107:2003-10 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP); Немецкая версия EN 14107:2003.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Электронная дифракция Вторичная дифракция

YS/T 1652-2023 Испытание текстуры циркония и циркониевого сплава. Метод дифракции обратного рассеяния электронов.

British Standards Institution (BSI), Электронная дифракция Вторичная дифракция

BS ISO 13067:2011 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 13067:2020 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 24173:2024 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
19/30365236 DC BS ISO 13067. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 23703:2022 Микролучевой анализ. Рекомендации по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
21/30395106 DC BS ISO 23703. Микролучевой анализ. Руководство по анализу разориентации для оценки механического повреждения аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
BS EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
BS EN 16294:2012 Нефтепродукты и производные жиров и масел. Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (МЭЖК). Оптико-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно связанной плазмой (ICP OES)

未注明发布机构, Электронная дифракция Вторичная дифракция

DIN ISO 13067 E:2021-01 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
ASTM RR-E04-1008 2013 E2627-Практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах

GSO, Электронная дифракция Вторичная дифракция

GSO ISO 24173:2015 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
GSO ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
OS GSO ISO 13067:2015 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.
OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Электронная дифракция Вторичная дифракция

GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
GB/T 20724-2021 Микролучевой анализ - метод измерения толщины тонких кристаллов методом дифракции электронов сходящимся пучком.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Электронная дифракция Вторичная дифракция

GB/T 34172-2017 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Метод фазового анализа металла и сплава.

SCC, Электронная дифракция Вторичная дифракция

DIN ISO 24173 E:2012 Проект документа. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)
DIN ISO 13067 E:2021 Проект документа. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна (ISO 13067:2020); Текст на немецком и английском языках
NS-EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
DANSK DS/EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
ISO 17109:2015/DAmd 1 Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

RU-GOST R, Электронная дифракция Вторичная дифракция

GOST R 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивности на дифракционных картинах. Метод измерения с помощью электронного дифрактометра
GOST R ISO 13067-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна

Professional Standard - Commodity Inspection, Электронная дифракция Вторичная дифракция

SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

Group Standards of the People's Republic of China, Электронная дифракция Вторичная дифракция

T/CNIA 0177-2023 Определение размера зерна и доли площади рекристаллизации деформированного алюминия и алюминиевых сплавов - Метод дифракции обратных электронов

IX-IX-IEC, Электронная дифракция Вторичная дифракция

IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронная дифракция Вторичная дифракция

ASTM E2627-13 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2627-13(2019) Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM E2627-10 Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах

GOSTR, Электронная дифракция Вторичная дифракция

GOST R EN 14107-2009 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).
GOST R EN 14538-2009 Производные жиров и масел. Метиловый эфир жирных кислот (FAME). Определение содержания Ca, K, Mg и Na оптико-эмиссионным спектральным методом с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

AENOR, Электронная дифракция Вторичная дифракция

UNE-EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП).
UNE-EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Danish Standards Foundation, Электронная дифракция Вторичная дифракция

DS/EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
DS/EN 16294:2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

Lithuanian Standards Office , Электронная дифракция Вторичная дифракция

LST EN 14107-2004 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).
LST EN 16294-2013 Нефтепродукты и производные жиров и масел - Определение содержания фосфора в метиловых эфирах жирных кислот (FAME) - Опто-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой (ICP OES)

European Committee for Standardization (CEN), Электронная дифракция Вторичная дифракция

EN 14107:2003 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).

ZA-SANS, Электронная дифракция Вторичная дифракция

SANS 54107:2007 Производные жиров и масел. Метиловые эфиры жирных кислот (FAME). Определение содержания фосфора методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP).