ZH
EN
ES
Мицеллярная концентрация
Мицеллярная концентрация, Всего: 14 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Мицеллярная концентрация, являются: Продукция химической промышленности.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Мицеллярная концентрация
- GB/T 11276-2007 Определение критической концентрации мицеллообразования ПАВ
- GB/T 11278-1989 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью кольца.
- GB/T 11276-1989 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды). Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения активности противоионов.
BE-NBN, Мицеллярная концентрация
- NBN T 63-129-1980 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Мицеллярная концентрация
- KS M ISO 6840:2003 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды). Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения активности противоионов.
- KS M ISO 6840:2013 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды) – Определение критической концентрации мицеллообразования – Метод измерения активности противоионов.
- KS M ISO 6840-2003(2008) Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды) – Определение критической концентрации мицеллообразования – Метод измерения активности противоионов.
- KS M ISO 4311-2003(2018) Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
- KS M ISO 4311:2003 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
International Organization for Standardization (ISO), Мицеллярная концентрация
- ISO 6840:1982 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды); Определение критической концентрации мицеллообразования; Метод измерения активности противоионов.
- ISO 4311:1979 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества; Определение критической концентрации мицеллообразования; Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, хомута или кольца.
Association Francaise de Normalisation, Мицеллярная концентрация
- NF T73-411:1980 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
KR-KS, Мицеллярная концентрация
- KS M ISO 4311-2003(2023) Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
TH-TISI, Мицеллярная концентрация
- TIS 1765-1999 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения пластинкой, стремечкой или кольцом.