ZH
EN
ES

Мицеллярная концентрация

Мицеллярная концентрация, Всего: 14 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Мицеллярная концентрация, являются: Продукция химической промышленности.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Мицеллярная концентрация

GB/T 11276-2007 Определение критической концентрации мицеллообразования ПАВ
GB/T 11278-1989 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью кольца.
GB/T 11276-1989 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды). Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения активности противоионов.

BE-NBN, Мицеллярная концентрация

NBN T 63-129-1980 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Мицеллярная концентрация

KS M ISO 6840:2003 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды). Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения активности противоионов.
KS M ISO 6840:2013 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды) – Определение критической концентрации мицеллообразования – Метод измерения активности противоионов.
KS M ISO 6840-2003(2008) Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды) – Определение критической концентрации мицеллообразования – Метод измерения активности противоионов.
KS M ISO 4311-2003(2018) Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
KS M ISO 4311:2003 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.

International Organization for Standardization (ISO), Мицеллярная концентрация

ISO 6840:1982 Катионные поверхностно-активные вещества (гидрохлориды и гидробромиды); Определение критической концентрации мицеллообразования; Метод измерения активности противоионов.
ISO 4311:1979 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества; Определение критической концентрации мицеллообразования; Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, хомута или кольца.

Association Francaise de Normalisation, Мицеллярная концентрация

NF T73-411:1980 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.

KR-KS, Мицеллярная концентрация

KS M ISO 4311-2003(2023) Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.

TH-TISI, Мицеллярная концентрация

TIS 1765-1999 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения пластинкой, стремечкой или кольцом.