ZH

EN

ES

Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп, Всего: 104 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп, являются: Оптика и оптические измерения, Метрология и измерения в целом, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Образование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Материалы для армирования композитов, Физика. Химия, Качество воздуха, Линейные и угловые измерения, Защита от опасных грузов.


Professional Standard - Machinery, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
  • T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
  • JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
  • JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

International Organization for Standardization (ISO), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
  • ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
  • ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
  • GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
  • GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
  • GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
  • GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
  • GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
  • BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
  • BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
  • BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
  • BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
  • BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
  • PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
  • BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
  • KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
  • KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом

KR-KS, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

工业和信息化部, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
  • ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
  • ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
  • ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
  • ASTM D6056-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом просвечивающей электронной микроскопии
  • ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
  • ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
  • ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
  • ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
  • ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
  • ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
  • ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • ASTM D6281-06 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
  • ASTM D6281-04 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
  • ASTM D6281-09 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
  • ASTM D6281-15 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
  • ASTM D6281-98 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
  • ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • ASTM D8526-23 Стандартный метод испытаний аналитической процедуры с использованием просвечивающей электронной микроскопии для определения концентрации углеродных нанотрубок и частиц, содержащих углеродные нанотрубки, в окружающей среде

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
  • GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа
  • GB/T 33839-2017 Методы просвечивающей электронной микроскопии для биологических образцов, содержащих углеродные наноматериалы, обладающие биологическим действием

German Institute for Standardization, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

PH-BPS, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.

Association Francaise de Normalisation, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
  • NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии

European Committee for Standardization (CEN), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
  • prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

AENOR, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.

ES-UNE, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)

AT-ON, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
  • JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.

未注明发布机构, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

GOSTR, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • PNST 507-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика с помощью просвечивающей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

IX-IX-IEC, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.

RU-GOST R, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа

American National Standards Institute (ANSI), Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп

  • ASTM D6281-23 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ) (стандартный + Redline PDF-пакет)

  просвечивающий электронный микроскоп, сверхкомпактный ТЭМ, Просвечивающий электронный микроскоп, Просвечивающая электронная микроскопия, Просвечивающий электронный микроскоп, Просвечивающая электронная микроскопия, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп, ТЭМ-калибровка, Параметры просвечивающей электронной микроскопии, Образец ПЭМ, Сверхкомпактный просвечивающий электронный микроскоп, Просвечивающая электронная микроскопия. Полевая просвечивающая электронная микроскопия., просвечивающий электронный микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп,, Просвечивающая 2 электронная микроскопия, пропускание электронного микроскопа, Трансмиссионная + электронная микроскопия, Просвечивающий электронный микроскоп ---, Просвечивающая электронная микроскопия, Просвечивающий электронный микроскоп Просвечивающий электронный микроскоп.

 




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.