ZH
EN
ES

Фотокатализ полупроводниковых материалов

Фотокатализ полупроводниковых материалов, Всего: 19 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Фотокатализ полупроводниковых материалов, являются: Керамика, Обработка поверхности и покрытие.

Association Francaise de Normalisation, Фотокатализ полупроводниковых материалов

• XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ - определение условий облучения для проверки фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов.
• NF ISO 10677:2011 Техническая керамика - источники УФ-излучения для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов
• NF ISO 14605:2013 Техническая керамика. Источники света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения.
• NF B44-105*NF ISO 14605:2013 Fine Ceramics (современная керамика, передовая техническая керамика) — источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
• NF B44-103*NF ISO 10677:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Источник ультрафиолетового света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов.
• XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.

British Standards Institution (BSI), Фотокатализ полупроводниковых материалов

• BS ISO 14605:2013 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
• BS ISO 24448:2023 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Светодиодный источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
• 21/30403033 DC BS EN ISO 24448. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Светодиодный источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
• BS PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерение этих условий
• BS ISO 22197-3:2011 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление толуола

International Organization for Standardization (ISO), Фотокатализ полупроводниковых материалов

• ISO 24448:2023 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) — светодиодный источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
• ISO 27447:2009 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.

European Committee for Standardization (CEN), Фотокатализ полупроводниковых материалов

• PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
• CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.

German Institute for Standardization, Фотокатализ полупроводниковых материалов

• DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 Фотокатализ - Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий; Немецкая версия CEN/TS 16599:2014.

AENOR, Фотокатализ полупроводниковых материалов

• UNE 127197-1:2013 Применение метода испытаний для оценки эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов, пропитанных сборными железобетонными изделиями. Часть 1: Удаление оксида азота.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Фотокатализ полупроводниковых материалов

• KS L ISO 27447:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Фотокатализ полупроводниковых материалов

• JIS R 1708:2016 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытаний для определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода.

Другие:   Полупроводниковые фотокаталитические материалы, Полупроводниковые фотокаталитические материалы, Полупроводниковые фотокаталитические материалы, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Фотокатализ органических полупроводниковых материалов, Фотокаталитические полупроводниковые материалы, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Фотокаталитические полупроводниковые материалы, Фотокатализ полупроводниковых материалов, фотокаталитический полупроводник, Фотокаталитическая активность полупроводниковых материалов, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Роль полупроводникового фотокатализа, Основные полупроводники, фотокаталитические материалы, Косвенный фотокатализ полупроводниковых материалов, Обнаружение фотокаталитических материалов, Что такое полупроводниковые фотокаталитические материалы?, Полупроводниковые материалы и полупроводниковые фотокаталитические материалы, полупроводниковый материал, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы.