ZH

EN

ES

Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы, Всего: 143 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы, являются: Обработка поверхности и покрытие, Керамика, Изоляционные жидкости.


Association Francaise de Normalisation, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ - определение условий облучения для проверки фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов.
  • XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
  • NF ISO 10677:2011 Техническая керамика - источники УФ-излучения для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов
  • NF ISO 14605:2013 Техническая керамика. Источники света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения.
  • NF ISO 22197-4:2021 Техническая керамика. Методы испытаний полупроводниковых фотокаталитических материалов для очистки воздуха. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • NF B44-103*NF ISO 10677:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Источник ультрафиолетового света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • NF ISO 22197-5:2021 Техническая керамика. Методы испытаний полупроводниковых фотокаталитических материалов для очистки воздуха. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • NF B44-105*NF ISO 14605:2013 Fine Ceramics (современная керамика, передовая техническая керамика) — источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
  • NF B44-101-4:2013 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4: удаление формальдегида.
  • NF B44-101-5:2013 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5: удаление метилмеркаптана.
  • NF B44-101-5*NF ISO 22197-5:2021 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • NF B44-101-4*NF ISO 22197-4:2021 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • NF ISO 18560-1:2014 Техническая керамика. Метод испытаний для измерения характеристик полупроводниковых фотокаталитических материалов для очистки воздуха методом испытательной камеры в условиях внутреннего освещения. Часть 1. Устранение...
  • NF B44-411-1*NF EN 16845-1:2017 Фотокатализ. Химическая активность против загрязнения с использованием адсорбированных органических веществ в твердом/твердом состоянии. Часть 1: красители на пористых поверхностях.
  • NF EN 16845-1:2017 Фотокатализ. Химическая активность против обрастания с использованием адсорбированных органических материалов в твердых/твердых состояниях. Часть 1: красители на пористых поверхностях.
  • NF B44-106-1*NF ISO 18560-1:2014 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов методом испытательной камеры при внутреннем освещении. Часть 1: удаление формальдегида.

European Committee for Standardization (CEN), Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
  • CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
  • EN 16845-1:2017 Фотокатализ. Химическая активность против загрязнения с использованием адсорбированных органических веществ в твердом/твердом состоянии. Часть 1. Красители на пористых поверхностях.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • JIS R 1708:2016 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытаний для определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода.
  • JIS R 1712:2022 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения противоводорослевой активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • JIS R 1750:2012 Тонкая керамика. Источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых при внутреннем освещении.

British Standards Institution (BSI), Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • BS PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерение этих условий
  • BS ISO 19722:2017 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытаний для определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода
  • BS ISO 19635:2016 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод определения противоводорослевой активности полупроводниковых фотокаталитических материалов
  • BS ISO 27447:2019 Отслеживаемые изменения. Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов
  • BS ISO 27447:2009 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • BS ISO 10676:2010 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода
  • BS ISO 10677:2011 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Источник ультрафиолетового света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов
  • BS ISO 17094:2014 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов при внутреннем освещении
  • BS ISO 10676:2011 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода
  • BS ISO 18061:2014 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов. Метод испытания с использованием бактериофага Q-бета
  • BS ISO 22197-2:2019 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление ацетальдегида
  • BS ISO 22551:2020 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Определение степени снижения количества бактерий с помощью полупроводниковых фотокаталитических материалов при освещении в помещении. Полусухой метод оценки антибактериальной активности на…
  • BS ISO 22197-3:2019 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление толуола
  • BS ISO 13125:2013 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания противогрибковой активности полупроводниковых фотокаталитических материалов
  • BS ISO 22197-4:2013 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление формальдегида
  • BS ISO 22197-3:2011 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление толуола
  • BS ISO 22197-2:2011 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление ацетальдегида
  • BS ISO 22197-1:2008 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление оксида азота.
  • BS ISO 22197-5:2013 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление метилмеркаптана
  • BS ISO 14605:2013 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
  • BS ISO 18071:2016 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов при освещении помещений. Метод испытания с использованием бактериофага Q-бета
  • BS ISO 22197-4:2021 Отслеживаемые изменения. Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление формальдегида
  • BS ISO 22197-1:2016 Отслеживаемые изменения. Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление оксида азота
  • BS ISO 27448:2009 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
  • BS ISO 17168-2:2018 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Удаление ацетальдегида
  • BS ISO 22197-5:2021 Отслеживаемые изменения. Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Удаление метилмеркаптана
  • BS ISO 17168-4:2018 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Удаление формальдегида
  • BS EN 16845-1:2017 Фотокатализ. Химическая активность против загрязнения с использованием адсорбированных органических веществ в условиях твердое/твердое. Красители на пористых поверхностях
  • BS ISO 17168-1:2018 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Удаление оксида азота
  • BS ISO 17168-5:2018 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Удаление метилмеркаптана
  • 21/30425873 DC БС ИСО 22197-4. Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида
  • BS ISO 17168-3:2018 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Удаление толуола
  • BS ISO 24448:2023 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Светодиодный источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
  • 21/30425876 DC БС ИСО 22197-5. Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5. Удаление метилмеркаптана
  • BS ISO 22601:2019 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытаний для определения эффективности окислительного разложения фенола полупроводниковых фотокаталитических материалов путем количественного анализа общего органического углерода (ТОС)
  • BS ISO 19810:2017 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой
  • BS ISO 19652:2018 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания характеристик полного разложения полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Разложение ацетальдегида
  • BS ISO 18560-1:2014 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытаний эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов методом испытательной камеры в условиях внутреннего освещения. Удаление формальдегида
  • 21/30403033 DC BS EN ISO 24448. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Светодиодный источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
  • BS ISO 19810:2023 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой

German Institute for Standardization, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 Фотокатализ - Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий; Немецкая версия CEN/TS 16599:2014.
  • DIN ISO 22197-1:2018-12 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота (ISO 22197-1:2016).
  • DIN 19287:2020-07 Специальная подготовка образцов строительных материалов для определения их фотокаталитической активности.
  • DIN ISO 22197-1:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота (ISO 22197-1:2016).
  • DIN ISO 22197-1:2016 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота (ISO 22197-1:2007).
  • DIN 50455-2:1999-11 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Методы характеристики фоторезистов - Часть 2. Определение фоточувствительности позитивных фоторезистов
  • DIN EN 16845-1:2017-05 Фотокатализ. Химическая активность против загрязнения с использованием адсорбированных органических веществ в твердом/твердом состоянии. Часть 1. Красители на пористых поверхностях; Немецкая версия EN 16845-1:2017

International Organization for Standardization (ISO), Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • ISO 19722:2017 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения фотокаталитической активности полупроводниковых фотокаталитических материалов по потреблению растворенного кислорода.
  • ISO 19635:2016 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод испытания противоводорослевой активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • ISO 27447:2019 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • ISO 27447:2009 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • ISO 17094:2014 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения.
  • ISO 10676:2010 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода.
  • ISO 18061:2014 Тонкая керамика (Advanced Ceramics, Advanced Техническая керамика) - Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов - Метод испытаний с использованием бактериофага Q-бета
  • ISO 13125:2013 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод испытания противогрибковой активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • ISO 22197-1:2016 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • ISO 18071:2016 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Определение противовирусной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Метод испытаний с использованием бактериофага Q-бета.
  • ISO 22197-3:2019 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 3. Удаление толуола.
  • ISO 22197-2:2019 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 2. Удаление ацетальдегида.
  • ISO 10677:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Источник ультрафиолетового света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • ISO 22197-2:2011 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 2. Удаление ацетальдегида.
  • ISO 22197-3:2011 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 3. Удаление толуола.
  • ISO 22197-4:2021 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • ISO 22197-5:2021 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • ISO 22197-4:2013 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • ISO 22197-5:2013 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • ISO 22197-1:2007 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • ISO 22551:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Определение степени уменьшения количества бактерий с помощью полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Полусухой метод.
  • ISO 19810:2023 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик самоочистки полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой.
  • ISO 24448:2023 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) — светодиодный источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
  • ISO 19810:2017 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик самоочистки полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой.
  • ISO 19652:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания на полное разложение полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Разложение ацетальдегида.
  • ISO 17168-1:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • ISO 17168-2:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 2. Удаление ацетальдегида.
  • ISO 17168-3:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 3. Удаление толуола.
  • ISO 17168-4:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • ISO 22601:2019 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения эффективности окислительного разложения фенола полупроводниковых фотокаталитических материалов количественным путем.
  • ISO 17168-5:2018 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • ISO 27448:2009 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
  • ISO 18560-1:2014 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов методом испытательной камеры в условиях внутреннего освещения. Часть 1. Удаление формальдегида.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • KS L ISO 27447-2011(2016) Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • KS L ISO 27447-2011(2021) Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • KS L ISO 27447:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • KS L ISO 10676-2012(2022) Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения формообразующей способности активного кислорода.
  • KS L ISO 10676:2012 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения образующей способности активного кислорода.
  • KS L ISO 10676-2012(2017) Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) – метод испытания эффективности очистки воды полупроводниковыми фотокаталитическими материалами путем измерения формообразующей способности активного кислорода.
  • KS L ISO 22197-2:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 2. Удаление ацетальдегида.
  • KS L ISO 22197-3:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 3. Удаление толуола.
  • KS L ISO 22197-4:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • KS L ISO 22197-1:2018 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • KS L ISO 27448-2011(2021) Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
  • KS L ISO 27448-2011(2016) Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
  • KS L ISO 22197-5:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • KS L ISO 22197-1:2008 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1: Удаление оксида азота.
  • KS L ISO 22197-1:2022 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • KS L ISO 17168-1:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 1: Удаление.
  • KS L ISO 17168-2:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 2: Удаление.
  • KS L ISO 17168-3:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 3: Удаление.
  • KS L ISO 17168-4:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 4: Удаление.
  • KS L ISO 27448:2011 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания самоочищающихся полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла контакта с водой.
  • KS L ISO 17168-5:2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 5: Удаление.

KR-KS, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • KS L ISO 27447-2023 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения антибактериальной активности полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • KS L ISO 10677-2023 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) — источник ультрафиолетового света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов.
  • KS L ISO 14605-2023 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) — источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых в условиях внутреннего освещения.
  • KS L ISO 22197-2-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 2. Удаление ацетальдегида.
  • KS L ISO 22197-4-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 4. Удаление формальдегида.
  • KS L ISO 22197-3-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 3. Удаление толуола.
  • KS L ISO 22197-1-2018 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • KS L ISO 22197-5-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 5. Удаление метилмеркаптана.
  • KS L ISO 22197-1-2022 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания характеристик очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1. Удаление оксида азота.
  • KS L ISO 17168-1-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 1: Удаление.
  • KS L ISO 17168-2-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 2: Удаление.
  • KS L ISO 17168-4-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 4: Удаление.
  • KS L ISO 17168-3-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 3: Удаление.
  • KS L ISO 17168-5-2020 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Часть 5: Удаление.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • GB/T 42349-2023 Определение противовирусной активности фотокаталитических материалов методом Q-бета-бактериофагового теста.
  • GB/T 4298-1984 Метод активационного анализа для определения элементарных примесей в полупроводниковых кремниевых материалах

AENOR, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • UNE 83321:2017 EX Бетон с фотокаталитической активностью. Определение разложения оксида азота (NO) в воздухе фотокаталитическими материалами. Метод испытания в непрерывном потоке
  • UNE-ISO 22197-1:2012 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов. Часть 1: Удаление оксида азота
  • UNE 127197-1:2013 Применение метода испытаний для оценки эффективности очистки воздуха полупроводниковых фотокаталитических материалов, пропитанных сборными железобетонными изделиями. Часть 1: Удаление оксида азота.

ES-UNE, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы

  • UNE-EN 16845-1:2019 Фотокатализ. Химическая активность против загрязнения с использованием адсорбированных органических веществ в твердом/твердом состоянии. Часть 1. Красители на пористых поверхностях.

  Полупроводниковые фотокаталитические материалы, Полупроводниковые фотокаталитические материалы, Полупроводниковые фотокаталитические материалы, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Фотокатализ органических полупроводниковых материалов, Фотокаталитические полупроводниковые материалы, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Фотокаталитические полупроводниковые материалы, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Фотокаталитическая активность полупроводниковых материалов, Какова общая фотокаталитическая активность полупроводников?, Как проверить фотокалитическую активность полупроводников, фотокаталитическая активность полупроводников, Фотокатализ полупроводниковых материалов, Основные полупроводники, фотокаталитические материалы, Косвенный фотокатализ полупроводниковых материалов, Что такое полупроводниковые фотокаталитические материалы?, Полупроводниковые материалы и полупроводниковые фотокаталитические материалы, Фотокаталитически активные полупроводниковые материалы, Антимикробная активность полупроводниковых материалов.

 




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.