Принцип электрических испытаний

Принцип электрических испытаний, Всего: 34 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Принцип электрических испытаний, являются: Интегральные схемы. Микроэлектроника, Неразрушающий контроль.

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Принцип электрических испытаний

VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 BLATT 9.1-2009 Калибровка измерительного оборудования электрических величин - испытательные устройства для определения электробезопасности - электрические устройства согласно DIN VDE 0701-0702
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 BLATT 9.1-2019 Калибровка измерительного оборудования электрических величин - испытательные устройства для определения электробезопасности - электрические устройства согласно DIN VDE 0701-0702

Professional Standard - Electron, Принцип электрических испытаний

SJ/T 10735-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ТТЛ-схем.
SJ/T 10736-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения HTL-схем.
SJ/T 10737-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ЭСЛ-схем.
SJ/T 10741-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП схем.
SJ/T 10741-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП-схем.
SJ/T 10803-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения линейных цепей.
SJ/T 11005-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем аудиоканалов.
SJ/T 11006-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения для схем строчной и вертикальной развертки.
SJ/T 11004-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем канала изображения.
SJ/T 10401-1993 Общие принципы методов измерения стабилизаторов скорости двигателей полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10402-1993 Общие принципы методов измерения автоматических музыкальных селекторов полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10400-1993 Общие принципы методов измерения графических эквалайзеров полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 11007-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем обработки видеосигналов и сигналов цветности.
SJ/T 10804-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения преобразователя уровня.
SJ/T 10805-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
SJ/T 10738-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения операционных усилителей (напряжения)
SJ/T 10805-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
SJ/T 10804-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения для преобразователей уровней.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Принцип электрических испытаний

GB/T 14030-1992 Общие принципы методов измерения таймерных схем полупроводниковых интегральных схем
GB 14030-1992 Основные принципы методов временного тестирования полупроводниковых интегральных схем
GB/T 15136-1994 Общие принципы методов измерения кварцевых часов и часовых схем полупроводниковых интегральных схем
GB/T 6798-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения
GB/T 4377-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения регуляторов напряжения
GB/T 12843-1991 Общие принципы методов измерения параметров микропроцессоров и цепей периферийного интерфейса полупроводниковых интегральных схем
GB 12843-1991 Основные принципы методов контроля электрических параметров полупроводниковых интегральных схем микропроцессоров и схем периферийных интерфейсов
GB/T 14028-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых ключей для полупроводниковых интегральных схем
GB 14028-2018 Основные принципы методов испытаний аналоговых переключателей полупроводниковых интегральных схем
GB 3442-1986 Основные принципы методов испытаний операционных усилителей (напряжения) полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14114-1993 Общие принципы методов измерения преобразователей V/F и F/V для полупроводниковых интегральных схем

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Принцип электрических испытаний

GJB 3289-1998 Принципы предотвращения и устранения неисправностей при испытаниях электрических характеристик спутника

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Принцип электрических испытаний

JIS Z 2359:2021 Принцип тензоиспытаний

German Institute for Standardization, Принцип электрических испытаний

DIN 66054:2017-08 Сравнительное тестирование – Технические принципы