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电 测试 原理

本专题涉及电 测试 原理的标准有34条。

国际标准分类中,电 测试 原理涉及到集成电路、微电子学、无损检测。

在中国标准分类中,电 测试 原理涉及到半导体集成电路、技术管理、微电路综合。


VDI - Verein Deutscher Ingenieure,关于电 测试 原理的标准

行业标准-电子,关于电 测试 原理的标准

  • SJ/T 10735-1996 半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10736-1996 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10737-1996 半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10741-1996 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10803-1996 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 11005-1996 半导体电视集成电路伴音通道电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 11006-1996 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 11004-1996 半导体电视集成电路图象通道电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10401-1993 半导体集成音响电路马达稳速电路.测试方法的基本原理
  • SJ/T 10402-1993 半导体集成音响电路自动选曲电路.测试方法的基本原理
  • SJ/T 10400-1993 半导体集成音响电路图示均衡电路.测试方法的基本原理
  • SJ/T 11007-1996 半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理
  • SJ/T 10804-2000 半导体集成电路.电平转换器测试方法的基本原理
  • SJ/T 10805-2000 半导体集成电路.电压比较器测试方法的基本原理
  • SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
  • SJ/T 10805-1996 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理
  • SJ/T 10804-1996 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理

国家质检总局,关于电 测试 原理的标准

  • GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
  • GB 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
  • GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
  • GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
  • GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
  • GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
  • GB 12843-1991 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
  • GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
  • GB 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
  • GB 3442-1986 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
  • GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理

国家军用标准-总装备部,关于电 测试 原理的标准

日本工业标准调查会,关于电 测试 原理的标准

德国标准化学会,关于电 测试 原理的标准





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