ZH
EN
ES

ширина зерна на половине максимума

ширина зерна на половине максимума, Всего: 19 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к ширина зерна на половине максимума, являются: Напитки, Полупроводниковые материалы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Электронные компоненты в целом, Полупроводниковые приборы, Неразрушающий контроль.

Group Standards of the People's Republic of China, ширина зерна на половине максимума

T/BJWA 004-2022 Низкогерцовый 17O-ЯМР FWHM природная питьевая вода
T/BJWA 005-2022 Определение 17O-ЯМР FWHM в воде Метод ЯМР
T/IAWBS 017-2022 Метод испытаний на полную ширину на половине высоты кривой рентгеновского качания двойного кристалла монокристаллической алмазной подложки
T/IAWBS 015-2021 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Метод рентгеновского испытания кривой качания двойного кристалла на полувысоте для одиночной пластины карбида кремния

Professional Standard - Electron, ширина зерна на половине максимума

SJ 2355.7-1983 Метод измерения пиковой длины волны излучения и спектральной полосы пропускания излучения светоизлучающих устройств
SJ 2658.12-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения пиковой длины волны излучения и полуширины спектра
SJ/T 2658.12-2015 Метод измерения полупроводниковых инфракрасных диодов. Часть 12: Пиковая длина волны излучения и спектральная полоса излучения.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ширина зерна на половине максимума

GB/T 32188-2015 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN
GB/T 23413-2009 Определение размера кристаллитов и микродеформации наноматериалов. Метод уширения линий рентгеновской дифракции.

International Electrotechnical Commission (IEC), ширина зерна на половине максимума

IEC 62435-5:2017 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 5. Устройства на кристаллах и пластинах.

British Standards Institution (BSI), ширина зерна на половине максимума

BS EN 62435-5:2017 Электронные компоненты - Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. - Часть 5: Устройства на кристаллах и пластинах.

BE-NBN, ширина зерна на половине максимума

NBN A 23-114-1983 Магнитная холоднокатаная полоса из неориентированной легированной стали, поставка полуфабриката

Association Francaise de Normalisation, ширина зерна на половине максимума

NF A04-503:1988 Полуфабрикаты из алюминия, меди, никеля и их сплавов. Определение размера зерна. Алюминий и алюминиевые сплавы.
NF A04-505:1988 Полуфабрикаты из алюминия, меди, никеля и их сплавов. Определение размера зерна. Никель и никелевые сплавы.

Defense Logistics Agency, ширина зерна на половине максимума

DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ, РАДИАЦИОННО УСТОЙЧИВЫЕ (ПОЛНАЯ ДОЗА И ОДНОСОБЫТНЫЕ ЭФФЕКТЫ) ТРАНЗИСТОРЫ, N-КАНАЛЬНЫЙ КРЕМНИевый, ТИПА 2N7405, 2N7406, 2N7407 И 2N7408, JANSD И JANSR
DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ УСТРОЙСТВА, РАДИАЦИОННО УСТОЙЧИВЫЕ ПОЛЕВЫЕ (ОБЩАЯ ДОЗА И ОДИНОЧНЫЕ ЭФФЕКТЫ) ТРАНЗИСТОР, N-КАНАЛЬНЫЙ, КРЕМНИЕВЫЕ ТИПА 2N7488T3, 2N7489T3 И 2N7490T3, JANTXVR И JANSR
DLA MIL-PRF-19500/658 VALID NOTICE 2-2011 Полупроводниковый прибор, полевой радиационно-стойкий транзистор (общая доза и однократное воздействие), кремниевый P-канальный транзистор типа 2N7438 и 2N7439 JANSD и JANSR
DLA MIL-PRF-19500/706 A VALID NOTICE 1-2010 Полупроводниковый прибор, полевой радиационно-стойкий транзистор (общая доза и одиночное воздействие) Транзистор, N-канальный, кремниевый, типы 2N7497T2, 2N7498T2 и 2N7499T2, JANTXVR и JANSR