ZH
EN
ES

Полупроводниковые характеристики

Полупроводниковые характеристики, Всего: 22 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Полупроводниковые характеристики, являются: Полупроводниковые приборы, Обработка поверхности и покрытие, Аналитическая химия, Экологические испытания, Резиновые и пластмассовые изделия, Защита от огня.

HU-MSZT, Полупроводниковые характеристики

• MSZ 771/5-1979 Механические свойства полупроводниковых материалов

British Standards Institution (BSI), Полупроводниковые характеристики

• BS EN 62779-2:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Характеристика сопряженных характеристик
• BS IEC 62951-7:2019 Полупроводниковые приборы. Гибкие и растягивающиеся полупроводниковые устройства. Метод испытаний для определения барьерных характеристик тонкопленочной герметизации гибких органических полупроводников.
• BS IEC 62830-4:2019 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковые устройства для сбора и генерации энергии. Методы испытаний и оценки гибких пьезоэлектрических устройств для сбора энергии.
• BS IEC 62830-7:2021 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковые устройства для сбора и генерации энергии. Линейный скользящий режим сбора трибоэлектрической энергии
• BS EN 61207-7:2014 Выражение производительности газоанализаторов. Перестраиваемые полупроводниковые лазерные газоанализаторы
• BS EN 61207-7:2013 Выражение производительности газоанализаторов. Перестраиваемые полупроводниковые лазерные газоанализаторы
• BS PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерение этих условий

RO-ASRO, Полупроводниковые характеристики

• STAS 6693/2-1975 Полупроводниковые приборы ТРАНЗИСТОРЫ Методы измерения электрических свойств

Association Francaise de Normalisation, Полупроводниковые характеристики

• XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ - определение условий облучения для проверки фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов.
• NF C96-779-2*NF EN 62779-2:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 2. Характеристика характеристик интерфейса.
• NF EN 62779-2:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи через тело человека. Часть 2. Характеристика характеристик интерфейса.
• XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
• NF ISO 22197-4:2021 Техническая керамика. Методы испытаний полупроводниковых фотокаталитических материалов для очистки воздуха. Часть 4. Удаление формальдегида.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Полупроводниковые характеристики

• EN 62779-2:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 2. Характеристика характеристик интерфейса.

ES-UNE, Полупроводниковые характеристики

• UNE-EN 62779-2:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 2. Характеристика характеристик интерфейса (одобрено AENOR в июле 2016 г.).

European Committee for Standardization (CEN), Полупроводниковые характеристики

• PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
• CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Полупроводниковые характеристики

• DB13/T 5120-2019 Спецификации для испытаний на постоянном токе полупроводниковых лазерных чипов FP и DFB для оптической связи

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Полупроводниковые характеристики

• KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем

German Institute for Standardization, Полупроводниковые характеристики

• DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 Фотокатализ - Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий; Немецкая версия CEN/TS 16599:2014.

American National Standards Institute （ANSI), Полупроводниковые характеристики

• ANSI/UL 2360-2004 Методы испытаний для определения характеристик горючести пластмасс, используемых в полупроводниковом приборостроении

Другие:   Фотокаталитические свойства полупроводников, Фотокаталитические свойства полупроводников, Полупроводниковые каталитические характеристики, Оптические свойства полупроводников, Полупроводники с фотокаталитическими свойствами., полупроводниковый чип, полупроводниковый элемент, Полупроводник с каталитическими характеристиками, Свойства органических полупроводниковых материалов, Влияние на производительность полупроводников, Полупроводниковые световые характеристики, Полупроводниковые характеристики, Физические свойства огнестойкости, Каталитические свойства полупроводников, Полупроводниковые характеристики, Свойства полупроводникового материала, Свойства полупроводникового материала, Проверка производительности Подтверждение производительности, Подтверждение производительности, Проверка производительности Подтверждение производительности.