ZH
EN
ES

Атомно-силовая микроскопия и сканирование

Атомно-силовая микроскопия и сканирование, Всего: 16 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Атомно-силовая микроскопия и сканирование, являются: Линейные и угловые измерения, Цветные металлы, Термодинамика и измерения температуры, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Атомно-силовая микроскопия и сканирование

ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Атомно-силовая микроскопия и сканирование

KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Group Standards of the People's Republic of China, Атомно-силовая микроскопия и сканирование

T/QGCML 1940-2023

International Organization for Standardization (ISO), Атомно-силовая микроскопия и сканирование

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Атомно-силовая микроскопия и сканирование

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Атомно-силовая микроскопия и сканирование

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, Атомно-силовая микроскопия и сканирование

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Атомно-силовая микроскопия и сканирование

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Атомно-силовая микроскопия и сканирование

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

KR-KS, Атомно-силовая микроскопия и сканирование

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.