ZH
EN
ES

образцы СЭМ

образцы СЭМ, Всего: 17 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к образцы СЭМ, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения.

Professional Standard - Petroleum, образцы СЭМ

• SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, образцы СЭМ

• SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, образцы СЭМ

• GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, образцы СЭМ

• GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), образцы СЭМ

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), образцы СЭМ

• JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, образцы СЭМ

• JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, образцы СЭМ

• JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
• JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, образцы СЭМ

• JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), образцы СЭМ

• KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
• KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
• KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

KR-KS, образцы СЭМ

• KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Другие:   Образец сканирования, Образец сканирования, образец сканирования, образец сканирования, Образцы сканирующей электронной микроскопии, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Скорость сканирования образца, образцы СЭМ, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Подготовка образца сканирования, образцы сканирующего электронного микроскопа, Подготовка образцов для сканирования, и образцы сканирующего электронного микроскопа, образцы СЭМ, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Методы подготовки проб для сканирующей электронной микроскопии, Образец сканирующего электронного микроскопа.., Держатель образцов для сканирующего электронного микроскопа.