ZH
EN
ES

Образец сканирующего электронного микроскопа..

Образец сканирующего электронного микроскопа.., Всего: 17 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Образец сканирующего электронного микроскопа.., являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения.

Professional Standard - Petroleum, Образец сканирующего электронного микроскопа..

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, Образец сканирующего электронного микроскопа..

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Образец сканирующего электронного микроскопа..

GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Образец сканирующего электронного микроскопа..

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), Образец сканирующего электронного микроскопа..

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Образец сканирующего электронного микроскопа..

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Образец сканирующего электронного микроскопа..

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, Образец сканирующего электронного микроскопа..

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Образец сканирующего электронного микроскопа..

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Образец сканирующего электронного микроскопа..

KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

KR-KS, Образец сканирующего электронного микроскопа..

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.