ZH
EN
ES
Полупроводниковый материал
Полупроводниковый материал, Всего: 30 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Полупроводниковый материал, являются: Изоляционные жидкости, Полупроводниковые материалы, Режущие инструменты, Электронные компоненты в целом, Испытание металлов, Словари, Аналитическая химия, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Обработка поверхности и покрытие.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Полупроводниковый материал
- GB/T 14264-1993 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
- GB/T 14264-2009 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
- GB/T 31469-2015 Смазочно-охлаждающая жидкость для полупроводниковых материалов
- GB/T 14844-1993 Обозначения полупроводниковых материалов
- GB/T 1550-1997 Стандартные методы измерения типа проводимости примесных полупроводниковых материалов
- GB/T 4298-1984 Метод активационного анализа для определения элементарных примесей в полупроводниковых кремниевых материалах
RO-ASRO, Полупроводниковый материал
HU-MSZT, Полупроводниковый материал
Professional Standard - Electron, Полупроводниковый материал
- SJ/T 11775-2021 Многоканатная пила, используемая для полупроводниковых материалов.
- SJ/Z 3206.13-1989 Общие правила анализа спектра излучения полупроводниковых материалов
- SJ 20744-1999 Общие правила спектрального анализа инфракрасного поглощения на концентрацию примесей в полупроводниковых материалах
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Полупроводниковый материал
- GB/T 14844-2018 Обозначения полупроводниковых материалов
- GB/T 1550-2018 Методы испытаний типа проводимости примесных полупроводниковых материалов
- GB/T 36646-2018 Оборудование для получения нитридных полупроводниковых материалов методом газофазной эпитаксии гидридов
Group Standards of the People's Republic of China, Полупроводниковый материал
- T/CASME 798-2023 Specialized processing tools for semiconductor materials
- T/CNIA 0143-2022 Сосуды из сверхчистой смолы для анализа следов примесей в полупроводниковых материалах
- T/ZJATA 0017-2023 Оборудование для химического осаждения из паровой фазы (CVD) для получения полупроводниковых материалов из карбида кремния
- T/SHDSGY 135-2023 Новая энергетическая технология производства полупроводниковых кремниевых пластин
RU-GOST R, Полупроводниковый материал
Association Francaise de Normalisation, Полупроводниковый материал
- XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ - определение условий облучения для проверки фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов.
- XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
European Committee for Standardization (CEN), Полупроводниковый материал
- PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
- CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий.
German Institute for Standardization, Полупроводниковый материал
- DIN 50439:1982 Испытание материалов для полупроводниковой техники; Определение профиля концентрации легирующей примеси монокристаллического полупроводникового материала вольт-емкостным методом и ртутным контактом
- DIN 50433-2:1976 Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов по фигуре оптического отражения
- DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 Фотокатализ - Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерения этих условий; Немецкая версия CEN/TS 16599:2014.
- DIN 50435:1988 Испытание полупроводниковых материалов; определение изменения радиального удельного сопротивления пластинок кремния или германия четырехзондовым методом постоянного тока
- DIN 50433-1:1976 Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов методом рентгеновской дифракции
- DIN 50431:1988 Испытание полупроводниковых материалов; измерение удельного сопротивления монокристаллов кремния или германия четырехзондовым методом постоянного тока с коллинеарной матрицей
British Standards Institution (BSI), Полупроводниковый материал
- BS PD CEN/TS 16599:2014 Фотокатализ. Условия облучения для испытания фотокаталитических свойств полупроводниковых материалов и измерение этих условий