ZH
EN
ES

тонкопленочная подложка

тонкопленочная подложка, Всего: 7 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к тонкопленочная подложка, являются: Изоляционные материалы, Стекло, Аналитическая химия.

Association Francaise de Normalisation, тонкопленочная подложка

• NF C26-113-4*NF EN 60371-3-4:1995 Спецификация на изоляционные материалы на основе слюды. Часть 3: спецификации на отдельные материалы. Лист 4: слюдяная бумага на полиэфирной пленке со связующим из эпоксидной смолы B-стадии.

International Electrotechnical Commission (IEC), тонкопленочная подложка

• IEC 60371-3-4:1992/AMD1:2006 Технические условия на изоляционные материалы на основе слюды. Часть 3. Технические условия на отдельные материалы. Лист 4. Слюдяная бумага на полиэфирной пленочной основе со связующим из эпоксидной смолы Б-стадии; Поправка 1

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, тонкопленочная подложка

• HD 352.3.4 S1-1994 Спецификация на изоляционные материалы на основе слюды. Часть 3. Спецификации для отдельных материалов. Лист 4. Слюдяная бумага на полиэфирной пленочной основе со связующим веществом из эпоксидной смолы B-стадии.
• EN 60371-3-4:1995 Спецификация на изоляционные материалы на основе слюды. Часть 3. Спецификации для отдельных материалов. Лист 4. Слюдяная бумага на полиэфирной пленке со связующим веществом из эпоксидной смолы B-стадии (включает поправку A1: 2006 г.)

German Institute for Standardization, тонкопленочная подложка

• DIN EN 60371-3-4:2007 Спецификация на изоляционные материалы на основе слюды. Часть 3. Спецификации на отдельные материалы. Лист 4. Слюдяная бумага на полиэфирной пленке со связующим на основе эпоксидной смолы B-стадии (IEC 60371-3-4:1992 + A1:2006); Немецкая версия EN 60371-3-4:1995 + A1:2006

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), тонкопленочная подложка

• KS L 2108-2001 Методы испытаний адгезии тонких пленок на стеклянной подложке

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, тонкопленочная подложка

• GB/T 33826-2017 Измерение толщины нанопленки на стеклянной подложке — профилометрический метод.

Другие:   Субстрат, светодиодная подложка, светодиодная подложка, Решетка подложки, Измерение толщины нанопленки на стеклянной подложке, изоляционная подложка, светодиод +подложка+, Дефект подложки, Субстрат, монокристаллическая подложка, Структура подложки, тонкопленочная подложка, кремниевая подложка, Субстратная соль, монокристаллическая подложка, кремниевая подложка, Инструмент для подложки, пленка-подложка, Подготовка основания, пенопластовая подложка.