ZH

EN

ES

монокристалл

монокристалл, Всего: 332 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к монокристалл, являются: Полупроводниковые материалы, Цветные металлы, Промышленные печи, Бумага и картон, Изоляционные жидкости, Словари, Изделия цветных металлов, Комплектующие и аксессуары для телекоммуникационного оборудования, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Гальванические элементы и батареи, Режущие инструменты, Станки, Порошковая металлургия, Профессиональная безопасность. Промышленная гигиена, Изделия из железа и стали, Установки в зданиях, Испытание металлов, Солнечная энергетика, Оптоволоконная связь, Полупроводниковые приборы, Продукция химической промышленности, Энергетика и теплопередача в целом, Оптика и оптические измерения, Атомная энергетика, Материалы для армирования композитов, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Керамика, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ. ТЕРМИНОЛОГИЯ. СТАНДАРТИЗАЦИЯ. ДОКУМЕНТАЦИЯ, Оптическое оборудование, Проведение материалов, Ювелирные изделия, Терминология (принципы и координация), Качество воздуха, Элементы зданий, Компоненты для электрооборудования, Измерения радиации, Физика. Химия, Стекло, Сварка, пайка и пайка, Лампы и сопутствующее оборудование, Электронные компоненты в целом.


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, монокристалл

  • GB/T 5238-2019 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
  • GB/T 20230-2022 Монокристалл фосфида индия
  • GB/T 20229-2022 Монокристалл фосфида галлия
  • GB/T 20228-2021 Монокристалл арсенида галлия
  • GB/T 12964-2018 Полированные пластины монокристаллического кремния.
  • GB/T 26069-2022 Отожженные пластины монокристаллического кремния
  • GB/T 25076-2018 Монокристаллический кремний для солнечных батарей.
  • GB/T 12965-2018 Монокристаллический кремний в виде нарезанных и притертых пластин.
  • GB/T 26071-2018 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
  • GB/T 39137-2020 Определение ориентации монокристалла тугоплавкого металла
  • GB/T 37418-2019 Оксиортосиликат лютеция, сцинтилляционные монокристаллы оксиортосиликата лютеция-иттрия
  • GB/T 11094-2020 Монокристалл арсенида галлия и режущая пластина, выращенные методом горизонтального Бриджмена
  • GB/T 5252-2020 Метод определения дислокационной плотности монокристаллического германия
  • GB/T 8760-2020 Метод определения дислокационной плотности монокристаллического арсенида галлия
  • GB/T 41325-2022 Монокристаллические кремниевые пластины низкой плотности с полировкой кристаллов для интегральных схем
  • GB/T 39123-2020 Спецификация на монокристаллический материал теллурида кадмия-цинка для детектора рентгеновского и гамма-излучения
  • GB/T 1551-2021 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния — метод линейного четырехточечного зонда и метод двухточечного зонда постоянного тока.
  • GB/T 41153-2021 Определение содержания примесей бора, алюминия и азота в монокристалле карбида кремния — масс-спектрометрия вторичных ионов.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, монокристалл

  • GB/T 5238-2009 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
  • GB/T 5238-2009(英文版) Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
  • GB/T 12962-1996 Монокристаллический кремний
  • GB/T 12962-2005 Монокристаллический кремний
  • GB/T 5238-1995 Монокристаллический германий
  • GB/T 12962-2015 Монокристалл кремния
  • GB/T 15713-1995 Срезы монокристаллического германия
  • GB/T 29504-2013 Монокристаллический кремний 300 мм
  • GB/T 20229-2006 Сигнальный кристалл фосфида галлия
  • GB/T 20230-2006 Сигнальный кристалл фосфида индия
  • GB/T 20228-2006 Монокристалл арсенида галлия
  • GB/T 14843-1993 Монокристаллы ниобата лития
  • GB/T 31092-2014 Слиток монокристаллического сапфира
  • GB/T 31092-2022 Монокристаллический сапфировый слиток
  • GB/T 12964-2003 Полированные пластины монокристаллического кремния.
  • GB/T 29506-2013 Пластины полированного монокристаллического кремния диаметром 300 мм.
  • GB/T 30656-2014 Полированные пластины монокристаллического карбида кремния.
  • GB/T 25076-2010 Монокристаллический кремний солнечного элемента
  • GB/T 30656-2023 Монокристаллическая полированная пластина карбида кремния
  • GB/T 26072-2010 Германиевый монокристаллический солнечный элемент
  • GB/T 1555-1997 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
  • GB/T 11072-1989 Поликристалл антимонида индия, монокристаллы и срезы в свежем виде.
  • GB/T 11072-2009 Поликристалл антимонида индия, монокристаллы и срезы в свежем виде.
  • GB/T 1555-2023 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника
  • GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
  • GB/T 12965-1996 Монокристаллический кремний в виде нарезанных и притертых срезов.
  • GB/T 12965-2005 Монокристаллический кремний, нарезанный ломтиками и притертый ломтик
  • GB/T 12632-1990 Общие характеристики одиночных кремниевых солнечных элементов
  • GB/T 1551-2009 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния
  • GB/T 26065-2010 Спецификация на полированные тестовые кремниевые пластины
  • GB/T 30858-2014 Подложка из полированного монокристаллического сапфира
  • GB/T 13843-1992 Подложки из полированного монокристаллического сапфира
  • GB/T 25075-2010 Монокристалл арсенида галлия для солнечных батарей
  • GB/T 29420-2012 Лазерные кристаллические устройства на основе ванадата, легированного Nd
  • GB/T 29508-2013 Монокристаллический кремний толщиной 300 мм в виде нарезанных и измельченных ломтиков.
  • GB/T 34213-2023 Оксид алюминия высокой чистоты для монокристалла сапфира
  • GB/T 11094-2007 Горизонтальный монокристалл арсенида галлия, выращенный Бриджменом, и режущая пластина
  • GB/T 26071-2010 Монокристаллический кремний в виде нарезанных кусочков для фотоэлектрических солнечных элементов.
  • GB/T 29421-2012 Приборы из ванадатных двояковыряющихся кристаллов
  • GB/T 11094-1989 Монокристаллы арсенида галлия, выращенные на лодке, и срезы As-cut
  • GB/T 9532-2012 Обозначения пьезоэлектрических кристаллов
  • GB/T 30866-2014 Метод испытаний для измерения диаметра пластин монокристаллического карбида кремния
  • GB/T 18032-2000 Метод контроля микроскопического дефекта AB в монокристалле арсенида галлия
  • GB/T 32278-2015 Метод испытания плоскостности одиночной пластины карбида кремния
  • GB/T 5252-1985 Монокристалл германия. Проверка плотности дислокационных ямок травления.
  • GB/T 11093-1989 Монокристаллы арсенида галлия, выращенные методом Чохральского в жидкой капсуле, и срезы As-срезов
  • GB/T 5252-2006 Монокристалл германия. Проверка плотности дислокационных ямок травления.
  • GB/T 8760-2006 Монокристалл арсенида галлия – определение плотности дислокаций
  • GB/T 11093-2007 Инкапсулированные в жидкость монокристаллы арсенида галлия, выращенные методом Чохральского, и нарезанные срезы
  • GB/T 26044-2010 Монокристаллический круглый медный провод и чертежный материал для передачи сигнала
  • GB 8760-1988 Монокристалл арсенида галлия – Определение плотности дислокаций
  • GB/T 41765-2022 Метод определения плотности дислокаций монокристаллического карбида кремния
  • GB/T 8760-1988 Монокристалл арсенида галлия. Определение плотности дислокаций.
  • GB/T 1552-1995 Методика измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния и германия коллинеарной четырехзондовой решеткой
  • GB/T 1551-1995 Метод испытания удельного сопротивления кремниевых и германиевых брусков с помощью двухточечного зонда
  • GB/T 26074-2010 Монокристалл германия. Измерение удельного сопротивления линейным четырехточечным зондом постоянного тока.
  • GB/T 41751-2022 Метод определения радиуса кривизны кристаллической плоскости пластин монокристаллической подложки GaN
  • GB/T 42676-2023 Рентгенодифракционный метод проверки качества монокристалла полупроводника
  • GB/T 15250-1994 Метод испытаний на затухание объемных акустических волн в пьезоэлектрических кристаллах ниобата лития
  • GB/T 30118-2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.
  • GB/T 10067.410-2014 Основные технические условия на электронагревательные установки. Часть 410: Печь для выращивания монокристаллов.
  • GB/T 30839.46-2015 Классификация энергопотребления промышленных электротепловых установок. Часть 46. Печи для выращивания кристаллов.
  • GB/T 42263-2022 Определение содержания азота в монокристалле кремния — метод вторично-ионной масс-спектрометрии.
  • GB/T 30867-2014 Метод испытаний для измерения толщины и изменения общей толщины пластин монокристаллического карбида кремния
  • GB/T 31351-2014 Метод неразрушающего контроля микротрубной плотности полированных пластин монокристаллического карбида кремния
  • GB/T 11297.7-1989 Метод определения удельного сопротивления и коэффициента Холла в монокристаллах InSb
  • GB/T 22452-2008 Общее техническое состояние нелинейно-оптических устройств на кристаллах боратов
  • GB/T 22453-2008 Метод измерения нелинейно-оптических боратных кристаллических устройств
  • GB/T 24574-2009 Методы испытаний фотолюминесцентного анализа монокристаллического кремния на примеси Ⅲ-Ⅴ
  • GB 11297.7-1989 Метод определения удельного сопротивления монокристалла InSb и коэффициента Холла
  • GB/T 30868-2014 Метод испытаний для измерения плотности микротрубок пластин монокристаллического карбида кремния. Химическое травление.
  • GB/T 42271-2022 Метод определения удельного сопротивления полуизолирующего монокристаллического карбида кремния бесконтактным измерением
  • GB/T 11297.6-1989 Стандартный метод отображения и измерения ямок дислокационного травления в монокристалле антимонида индия.
  • GB/T 13389-1992 Практика преобразования между удельным сопротивлением и плотностью легирующей примеси для кремния, легированного бором и фосфором.
  • GB/T 32282-2015 Измерение плотности дислокаций в монокристалле нитрида галлия методом катодолюминесцентной микроскопии
  • GB/T 19199-2015 Методы определения концентрации акцепторов углерода в полуизолирующих монокристаллах арсенида галлия методом инфракрасной абсорбционной спектроскопии
  • GB/T 19199-2003 Метод определения концентрации углерода полуизолирующего монокристаллического арсенида галлия методом измерения инфракрасного поглощения
  • GB/T 32188-2015 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN
  • GB/T 13389-2014 Практика преобразования между удельным сопротивлением и плотностью легирующей примеси для кремния, легированного бором, фосфором и мышьяком.
  • GB/T 4326-1984 Монокристаллы внешних полупроводников. Измерение холловской подвижности и коэффициента Холла.
  • GB/T 4326-2006 Измерение подвижности Холла и коэффициента Холла внешними полупроводниковыми монокристаллами
  • GB 4326-1984 Монокристаллы внешних полупроводников - измерение подвижности Холла и коэффициента Холла
  • GB/T 32189-2015 Атомно-силовая микроскопия. Исследование шероховатости поверхности монокристаллической подложки нитрида галлия.
  • GB/T 17170-2015 Метод определения концентрации глубоких доноров EL2 в полуизолирующих монокристаллах арсенида галлия методом инфракрасной абсорбционной спектроскопии
  • GB/T 35306-2023 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ УГЛЕРОДА И КИСЛОРОДА В МОНОКРИСТАЛЛЕ КРЕМНИЯ Низкотемпературная инфракрасная спектроскопия с Фурье-преобразованием
  • GB/T 13066-1991 Бланк спецификации на однопереходные транзисторы
  • GB/T 9532-1988 Обозначения пьезоэлектрических кристаллов LiNbO3, LiTaO3, Bi12GeO20, Bi12SiO20.

Professional Standard - Machinery, монокристалл

  • JB/T 10439-2004 Печи для выращивания кристаллов Печи для выращивания кристаллов серии TDR методом Чохральского
  • JB/T 5633-1991 Монокристаллическая печь. Градация энергопотребления
  • JB/T 7996-1999 Обычный абразив Одиночный алунд
  • JB/T 7996-2012 Обычный абразив. Монокристаллический плавленый оксид алюминия.
  • JB/T 12068-2014 Печь для выращивания монокристаллов германия TDR-Z методом Чохральского
  • JB/T 5203-1991 Монокристаллический плавленый оксид алюминия Метод химического анализа
  • JB/T 5203-2012 Методы химического анализа монокристаллического плавленого оксида алюминия

UNKNOWN, монокристалл

  • YB 1602-1983 Монокристалл кремния
  • YB 1602-83 Монокристалл кремния
  • YB 1603-83 Отрезные и шлифовальные диски из монокристалла кремния.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB13/T 1314-2010 Квадратный стержень из монокристаллического кремния солнечного качества, пластина из монокристаллического кремния
  • DB13/T 1828-2013 Монокристаллическая кремниевая пластина солнечного качества
  • DB13/T 5092-2019 Общие технические требования к квадратным затравочным кристаллам для слитков монокристаллического кремния солнечного качества
  • DB13/T 5631-2022 Технические условия на производство кварцевых тиглей для выращивания монокристаллического кремния для материалов электронной техники

Group Standards of the People's Republic of China, монокристалл

  • T/ZSA 72-2019 Монокристаллический карбид кремния
  • T/IAWBS 001-2021 Монокристалл карбида кремния
  • T/ZZB 1389-2019 Монокристаллические кремниевые фотоэлектрические элементы
  • T/ZZB 2675-2022 Монокристаллический кремний в виде притертых пластин для ТВС.
  • T/ZZB 0044-2016 Печи для выращивания кристаллов серии TDR
  • T/ZZB 1927-2020 Автоматическая машина для резки монокремния
  • T/JSAS 015-2021 Монокристаллические кремниевые солнечные элементы
  • T/GZHG 006-2019 Большой монокристаллический оксид никеля-кобальта-лития-марганца (NCM523)
  • T/ZZB 0497-2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах
  • T/CISA 167-2021 Лигатура монокристаллического суперсплава DD419
  • T/HEBQIA 073-2022 Сверхпроводящие магниты для монокристаллического кремния Чохральского
  • T/CISA 086-2021 DD405 Мастер-сплав монокристаллического суперсплава
  • T/SZBX 118-2023 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
  • T/CASME 465-2023 Текстуризатор для монокремния без IPA
  • T/IAWBS 005-2018 6-дюймовые полированные пластины монокристаллического карбида кремния
  • T/CEC 290-2019 Технические требования к монокристаллической пластине с задним контактом
  • T/CEMIA 004-2018 Кварцевые тигли для выращивания монокристаллов кремния в фотоэлектрической промышленности
  • T/CEMIA 023-2021 Кварцевый тигель для выращивания монокремния полупроводника
  • T/CECA 69-2022 Монокристаллические тонкопленочные подложки для устройств на ПАВ
  • T/ZZB 0648-2018 Монокристаллический полированный кремний Чохральского диаметром 200 мм, легированный фосфором
  • T/NXCL 017-2022 Монокристаллический полированный кремний Чохральского диаметром 300 мм, сильно легированный фосфором
  • T/NXCL 016-2022 Монокристаллическая полированная пластина кремния Чохральского диаметром 200 мм, сильно легированная сурьмой
  • T/CSTM 00033-2020 Условия использования оптических неорганических монокристаллов для обнаружения ядерного излучения
  • T/CEMIA 005-2018 Практика изготовления кварцевых тиглей для выращивания фотоэлектрического монокристалла кремния
  • T/ZZB 2283-2021 Порошок графита сверхвысокой чистоты для полупроводникового кристалла карбида кремния.
  • T/ICMTIA SM0027-2022 Монокристаллическая полированная кремниевая пластина p-типа диаметром 300 мм для передовых технологий памяти
  • T/IAWBS 014-2021 Метод определения дислокационной плотности полированных пластин карбида кремния
  • T/CEMIA 024-2021 Практика изготовления кварцевых тиглей для выращивания полупроводникового монокремния
  • T/IAWBS 018-2022 Метод определения плотности дислокаций монокристаллических полированных алмазных пластин
  • T/STSI 7-2020 Фотоэлектрические модули, используемые в строительстве. Общие технические требования к U-образным монокристаллическим компонентам.
  • T/IAWBS 013-2019 Метод измерения удельного сопротивления полуизолирующей подложки из карбида кремния
  • T/ZZB 2407-2021 Композитный гидроксид никеля-кобальта-марганца, применяемый в монокристаллическом катодном материале
  • T/IAWBS 017-2022 Метод испытаний на полную ширину на половине высоты кривой рентгеновского качания двойного кристалла монокристаллической алмазной подложки
  • T/IAWBS 015-2021 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки Ga2O3
  • T/IAWBS 016-2022 Метод рентгеновского испытания кривой качания двойного кристалла на полувысоте для одиночной пластины карбида кремния
  • T/CAB 0181-2022 Методы измерения характеристических параметров сцинтилляторов LYSO и LSO.
  • T/CNIA 0101-2021 Техническая спецификация для оценки продукции «зеленого» дизайна, монокристаллическая полированная пластина карбида кремния
  • T/IAWBS 011-2019 Методы испытаний измерения удельного сопротивления проводящих пластин карбида кремния бесконтактным вихретоковым датчиком
  • T/ZJSEIA 004-2022 Клейкая пленка из сополимера этилена и винилацетата (ЭВА) для фотоэлектрических модулей из монокристаллического кремния.
  • T/CECA 83-2023 Монокристаллические пластины, восстановленные танталатом лития и ниобатом лития - технические требования и методы измерения светлоты и цветовой разницы.

Professional Standard - Light Industry, монокристалл

  • QB/T 1173-2002 Монокристаллический каменный сахар
  • QB/T 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар

Professional Standard - Non-ferrous Metal, монокристалл

  • YS/T 554-2007 Монокристаллы ниобата лития
  • YS/T 42-2010 Монокристаллы танталата лития
  • YS/T 554-2006 Монокристалл ниобата лития
  • YS/T 1167-2016 Травленые пластины монокристаллического кремния
  • YS 783-2012 Норма энергозатрат на единицу продукции инфракрасного монокристалла германия
  • YS/T 978-2014 Направляющий щит из углерод/углеродных композитов монокристаллической печи
  • YS/T 977-2014 Теплоизоляционный цилиндр из углеродных/углеродных композитов монокристаллической печи
  • YS/T 792-2012 Тигель из углерод-углеродных композитов, используемый в монокристаллической печи
  • YS/T 557-2006 Метод испытаний на затухание акустических волн пьезоэлектрического монокристалла ниобата лития
  • YS/T 1600-2023 Определение микроэлементов-примесей в монокристалле карбида кремния. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.

轻工业部, монокристалл

  • QB 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар

Professional Standard - Electron, монокристалл

  • SJ/Z 2655-1986 Коллекция монокристаллических дефектов Germaninm
  • SJ 20607-1996 Спецификация кристалла молибдената
  • SJ 20444-1994 Спецификация монокристалла ниобата лития
  • SJ 3241-1989 Монокристаллический стержень и пластина арсенида галлия
  • SJ 3243-1989 Монокристаллические бруски и пластины фосфида индия
  • SJ/T 10173-1991 Солнечная батарея из монокристаллического кремния TDA75
  • SJ 20606-1996 Спецификация монокристалла диоксида теллура
  • SJ/T 11450-2013 Характеристики энергопотребления монокристаллической печи
  • SJ/T 11854-2022 Монокристаллическая кремниевая печь Чохральского для фотоэлектрических систем.
  • SJ/T 11502-2015 Спецификация на полированные пластины монокристаллического карбида кремния
  • SJ/T 11505-2015 Спецификация сапфировых монокристаллических полированных пластин
  • SJ/T 11853-2022 Зона подвески с положительным давлением, плавильная печь монокристаллического кремния
  • SJ/T 11500-2015 Метод испытаний для измерения кристаллографической ориентации монокристаллического карбида кремния
  • SJ/T 11501-2015 Метод испытаний для определения типа кристалла монокристаллического карбида кремния
  • SJ 2572-1985 Кремниевые монокристаллические стержни и листы для солнечных батарей.
  • SJ/T 11864-2022 Полуизолирующая монокристаллическая подложка из карбида кремния
  • SJ 3245-1989 Методы измерения дислокации монокристалла фосфида индия
  • SJ 20641-1997 Спецификация монокристаллов антимонида индия для использования в инфракрасных детекторах
  • SJ 3244.3-1989 Методы измерения кристаллоориентации монокристаллов арсенида галлия и фосфида индия
  • SJ/T 11499-2015 Метод испытаний для измерения электрических свойств монокристаллического карбида кремния
  • SJ 20640-1997 Спецификация на срезы монокристаллов антимонида индия для использования в инфракрасных детекторах
  • SJ 20750-1999 Спецификация на радиационно-стойкие монокристаллические кремниевые пластины для военных КМОП-интегральных схем
  • SJ 20858-2002 Методы измерения электрических параметров монокристаллического материала карбида кремния
  • SJ 20605-1996 Спецификация монокристалла танталата лития, используемого в устройствах на ПАВ
  • SJ/T 2428-1983 Клибрация для астронавтических стандартных монокристаллических кремниевых солнечных элементов
  • SJ 2915-1988 Термины и определения для монокристаллических СВЧ-ферритовых устройств.
  • SJ/T 31108-1994 Требования к готовности и методы проверки и оценки монокристаллических печей CG3000
  • SJ/T 31109-1994 Требования к готовности и методы контроля и оценки монокристаллических печей высокого давления
  • SJ/T 11504-2015 Метод испытаний качества поверхности полированного монокристаллического карбида кремния
  • SJ 20844-2002 Метод определения микрозонной однородности полуизолирующего монокристаллического арсенида галлия
  • SJ 20843-2002 Количественное определение плотности микроскопических дефектов AB в монокристалле арсенида галлия
  • SJ/T 2429-1983 Метод испытаний электрических характеристик космических монокристаллических кремниевых солнечных элементов
  • SJ/T 11503-2015 Методы испытаний измерения шероховатости поверхности полированных пластин монокристаллического карбида кремния
  • SJ/T 11494-2015 Методы испытаний фотолюминесцентного анализа монокристаллического кремния на примеси III-V классов.
  • SJ/T 11207-1999 Измерение магнитных свойств монокристаллических магнитных пленок YIG
  • SJ/T 10625-1995 Метод определения содержания межузельного атомарного кислорода германия методом инфракрасной абсорбции
  • SJ/T 10333-1993 Методы измерения однопереходных транзисторов
  • SJ 3249.2-1989 Методы измерения концентрации углерода в полуизоляционном монокристалле арсенида галлицема методом инфракрасного поглощения
  • SJ 3249.1-1989 Методы измерения удельного сопротивления полуизоляционного монокристаллического материала арсенида галлия и фосфида индия

RU-GOST R, монокристалл

  • GOST 16153-1980 Монокристаллический германий. Технические характеристики
  • GOST 24392-1980 Монокристаллический кремний и германий. Измерение удельного электросопротивления четырехзондовым методом
  • GOST R 57548-2017 Вакуумная индукционная плавка для получения изделий с монокристаллической структурой. Технические требования

IN-BIS, монокристалл

  • IS 9709-1980 Технические характеристики синтетического монокристалла кварца
  • IS 4540-1968 Спецификация на компоненты и оборудование монокристаллических полупроводниковых выпрямителей
  • IS 3895-1966 Спецификация для монокристаллических полупроводниковых выпрямительных ячеек и батарей

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, монокристалл

  • GJB 3076A-2021 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия
  • GJB 3076-1997 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия
  • GJB 2917A-2018 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
  • GJB 2917A-2004 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
  • GJB 2917-1997 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
  • GJB 1926-1994 Спецификация монокристаллического материала арсенида галлия
  • GJB 10342-2021 Спецификация на полированные монокристаллические пластины антимонида индия
  • GJB 10343-2021 Спецификация на полированные монокристаллические пластины антимонида галлия
  • GJB 1927A-2021 Метод испытания монокристаллического материала арсенида галлия
  • GJB 1927-1994 Метод испытания монокристаллического материала арсенида галлия
  • GJB 9804-2020 Спецификация на монокристаллические стержни из молибден-ниобиевого сплава для использования в ядерной промышленности
  • GJB 1431-1992 Общие технические условия на солнечные элементы из монокристаллического кремния для космического использования
  • GJB 395-1987 Монокристаллический фторид магния для модуляционной пластины ракеты воздух-воздух
  • GJB 1431A-2014 Общие характеристики монокристаллического кремниевого солнечного элемента для космического применения
  • GJB 1944A-2017 Спецификация монокристаллов кремния для космических солнечных элементов
  • GJB 2452-1995 Спецификация на монокристаллические пластины теллурида кадмия для инфракрасных детекторов
  • GJB 2918-1997 Спецификация для монолитов из плавленого кремния с высоким сопротивлением детекторного класса
  • GJB 581-1988 Монокристаллический фторид кальция для ракет «земля-воздух» с инфракрасным наведением
  • GJB 2652-1996 Спецификация на материалы монокристаллического теллурида кадмия-цинка для инфракрасных детекторов
  • GJB 2652A-2004 Спецификация на материалы монокристаллического теллурида кадмия-цинка для инфракрасных детекторов
  • GJB 757-1989 Большой одиночный чип из синтетической слюды для радиолокационных микроволновых устройств
  • GJB 8512-2015 Спецификация на полированные монокристаллические пластины германия для космических солнечных элементов
  • GJB 2918A-2017 Спецификация на полированные пластины расплавленного монокристалла кремния в зоне высокого сопротивления детекторного класса
  • GJB 1431/1-2000 Технические характеристики монокристаллических кремниевых солнечных элементов серий TDJ и TDB для космического использования
  • GJB 1431/1A-2021 Технические характеристики монокристаллических кремниевых солнечных элементов серий TDJ и TDB для космического использования
  • GJB 396-1987 Метод испытаний монокристаллического фторида магния для использования в модуляционных дисках ракет класса «воздух-воздух»
  • GJB 2834-1997 Спецификация на монокристаллы и полированные пластины арсенида галлия для космических солнечных элементов

工业和信息化部, монокристалл

  • JC/T 2417-2017 Пьезоэлектрический монокристаллический материал тетраборат лития
  • YS/T 1182-2016 Технические характеристики безопасного производства монокристаллов германия
  • YB/T 4589-2017 Углерод/углеродный композитный материал для изоляции монокристаллических печей.
  • YB/T 4587-2017 Углерод/углеродный композитный нагревательный элемент для монокристаллической печи
  • YB/T 4588-2017 Пластинчатая структура углерод/углеродные композиционные материалы для монокристаллических печей
  • JC/T 2545-2019 Пироэлектрический монокристалл для высокопроизводительных инфракрасных детекторов
  • JB/T 13942-2020 Синтез промышленного крупного монокристаллического алмаза суперабразивным гидростатическим давлением
  • JC/T 2513-2019 Метод испытаний на защиту от серых пятен монокристаллических компонентов титанилфосфата калия
  • JC/T 2512-2019 Технические требования к монокристаллическим компонентам из монокристаллов титанилфосфата калия с высокими противообрастающими свойствами для твердотельных лазеров

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, монокристалл

  • GB/T 34210-2017 Метод испытаний для определения ориентации монокристалла сапфира
  • GB/T 33763-2017 Метод определения плотности дислокаций монокристалла сапфира
  • GB/T 35305-2017 Монокристаллические полированные пластины арсенида галлия для солнечных батарей
  • GB/T 34481-2017 Метод испытаний для измерения плотности ямок травления (EPD) в срезах монокристаллического германия с низкой плотностью дислокаций
  • GB/T 35306-2017 Метод определения содержания углерода и кислорода в монокристаллическом кремнии — низкотемпературная инфракрасная спектрометрия с преобразованием Фурье.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, монокристалл

  • JJG 48-2004 Стандартный срез удельного сопротивления монокристаллического кремния
  • JJG 48-1990 Регламент проверки стандартного среза удельного сопротивления монокристаллического кремния

Professional Standard - Building Materials, монокристалл

  • JC/T 1048-2007 Тигли из плавленого кварца для выращивания монокристаллического кремния
  • JC/T 1048-2018 Кварцевый тигель для выращивания монокристаллического кремния
  • JC/T 2025-2010 Пьезоэлектрические монокристаллы ниобата-титаната свинца-магния (PMNT).
  • JC/T 2343-2015 Монокристаллическая трубка из оксида алюминия, изготовленная методом выращивания кристаллов с пленочной подачей по краям
  • JC/T 2139-2012 Монокристалл парателлурита высокой чистоты для ядерной физики

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, монокристалл

  • YB 1603-1983 Отрезные и шлифовальные диски из монокристалла кремния.

机械电子工业部, монокристалл

  • JB 5203-1991 Метод химического анализа монокристаллического корунда

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB36/ 771-2013 Норма энергопотребления на единицу продукции монокристаллического кремния Чохральского

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB15/T 2234-2021 Норма энергопотребления на единицу продукции монокристаллического кремния Чохральского

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, монокристалл

  • JJF 1256-2010 Спецификация калибровки рентгеновского оборудования для ориентации монокристаллов
  • JJF 1760-2019 Спецификация калибровки для стандартных срезов удельного сопротивления монокристаллического кремния

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB61/T 512-2011 Правила проверки пластин монокристаллического кремния для солнечных элементов
  • DB61/T 511-2011 Правила проверки монокристаллических кремниевых стержней для солнечных элементов

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB31/ 792-2014 Норма энергопотребления на единицу продукции для монокристаллического кремния и кремниевых пластин
  • DB31/T 792-2014 Норма энергопотребления на единицу продукции монокристалла кремния и его кремниевой пластины
  • DB31/ 792-2020 Норма энергопотребления на единицу продукции монокристалла кремния и его кремниевой пластины

German Institute for Standardization, монокристалл

  • DIN 50431:1988 Испытание полупроводниковых материалов; измерение удельного сопротивления монокристаллов кремния или германия четырехзондовым методом постоянного тока с коллинеарной матрицей
  • DIN EN 62276:2017-08 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2016); Немецкая версия EN 62276:2016 / Примечание: DIN EN 62276 (2013-08) остается действительным наряду с этим стандартом до 28 ноября 2019 г.
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 49/1401/CD:2022); Текст на немецком и английском языках / Примечание: Дата выпуска 28 апреля 2023 г. *Предназначено для замены стандарта DIN EN 62276 (2017-08).

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), монокристалл

  • KS D 2715-2006 Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
  • KS D 2715-2017 Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
  • KS D 0260-1999 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЛАСТИН МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ ЧЕТЫРЕХТОЧЕЧНЫМ ЗОНДОМ
  • KS C IEC 62276:2007 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ) – Технические характеристики и методы измерения
  • KS D 0260-1989(1994) МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЛАСТИН МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ ЧЕТЫРЕХТОЧЕЧНЫМ ЗОНДОМ
  • KS D 0257-2002(2017) Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в монокристалле кремния методом фотопроводящего распада
  • KS D 0257-2002(2022) Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в монокристалле кремния методом фотопроводящего распада
  • KS C IEC 62276:2019 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • KS D 0257-2002 Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в монокристалле кремния методом фотопроводящего распада

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), монокристалл

  • JIS H 0612:1975 Методы испытаний удельного сопротивления пластин монокристаллического кремния четырехточечным зондом
  • JIS C 6760:2014 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.
  • JIS H 0604:1995 Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в монокристалле кремния методом фотопроводящего распада

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB51/T 2499-2018 Наименование и квалификационная оценка монокристаллических драгоценных камней, обработанных пломбой

American National Standards Institute (ANSI), монокристалл

  • ANSI/ASTM D6058:2001 Практика определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде
  • ANSI/ASTM D6057:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом фазово-контрастной микроскопии

Association Francaise de Normalisation, монокристалл

  • NF C93-616:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • NF C93-616:2006 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.
  • NF C93-616*NF EN 62276:2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, монокристалл

  • DB35/T 1118-2011 Нелинейные оптические монокристаллические компоненты из титанилфосфата калия с защитой от золы

International Electrotechnical Commission (IEC), монокристалл

  • IEC 62276:2005 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.
  • IEC 62276:2012 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • IEC PAS 62276:2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройства на поверхностных акустических волнах. Технические характеристики и метод измерения
  • IEC 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

Professional Standard - Aviation, монокристалл

  • HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ
  • HB 7762-2005 Технические условия на лигатуры направленно-затвердевания и монокристаллические суперсплавы для авиационных двигателей.

British Standards Institution (BSI), монокристалл

  • BS EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • BS EN 62276:2005 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • BS EN 62276:2006 Монокристаллические пластины, применяемые в устройствах на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • BS EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
  • 23/30468947 DC BS EN 62276. Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

PL-PKN, монокристалл

  • PN M59102-1973 Маркировочная продукция Абразивные материалы на связке и монокристаллические Классификация и обозначение

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., монокристалл

  • IEEE 1859-2017 Монокристаллы на основе релаксоров для применения в преобразователях и исполнительных устройствах

IEC - International Electrotechnical Commission, монокристалл

  • PAS 62276-2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройств на поверхностных акустических волнах - характеристики и метод измерения (редакция 1.0)

CZ-CSN, монокристалл

  • CSN 34 5941-1984 Арсенид галлия и фоспид галлия монокристаллические. Определение удельного сопротивления и коэффициента Холла

Professional Standard - Geology, монокристалл

  • DZ/T 0294-2016 Скрининг и идентификация бесцветных монокристаллических алмазов, синтезированных методом химического осаждения из газовой фазы

Danish Standards Foundation, монокристалл

  • DS/EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, монокристалл

  • EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), монокристалл

  • EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

ES-UNE, монокристалл

  • UNE-EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в январе 2017 г.)

American Society for Testing and Materials (ASTM), монокристалл

  • ASTM F847-94(1999) Стандартные методы испытаний для измерения кристаллографической ориентации плоских поверхностей на пластинах монокристаллического кремния рентгеновскими методами
  • ASTM D6058-96(2011) Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте
  • ASTM D6058-96(2016) Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте
  • ASTM D6058-96(2006) Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте
  • ASTM D6058-96(2001) Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте
  • ASTM D6058-96 Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте

廊坊市市场监督管理局, монокристалл

  • DB1310/T 227-2020 Технологическая спецификация кварцевого тигля для выращивания монокристаллического кремния для электронных материалов

Lithuanian Standards Office , монокристалл

  • LST EN 62276-2006 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2012)

KR-KS, монокристалл

  • KS C IEC 62276-2019 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), монокристалл

  • IEEE Std 1859-2017 Стандарт IEEE для монокристаллов на основе релаксоров для применения в преобразователях и приводах
  • IEEE P1859/D7, September 2016 Утвержденный IEEE проект стандарта для монокристаллов на основе релаксоров для применения в преобразователях и приводах
  • IEEE P1859/D8, February 2017 Утвержденный IEEE проект стандарта для монокристаллов на основе релаксоров для применения в преобразователях и приводах

GOSTR, монокристалл

  • PNST 406-2020 Зеленые стандарты. Фотоэлектрические монокристаллические модули. Критерии и индикаторы подтверждения соответствия экологически чистым продуктам




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.