ZH
EN
ES

джедек 22

джедек 22, Всего: 127 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к джедек 22, являются: Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Применение информационных технологий, Обработка поверхности и покрытие, Механические конструкции электронного оборудования.


未注明发布机构, джедек 22

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, джедек 22

  • JEDEC JESD22A121A-2008 Метод испытаний для измерения роста усов на поверхности олова и сплавов олова
  • JEDEC JESD22-A109-A-2001 Герметичность
  • JEDEC JESD22-A115-A-1997 Метод испытаний A115-A, модель машины для испытания чувствительности к электростатическому разряду (ESD) (MM) -A114-B, JEDEC JESD22-A114-A, JEDEC JES
  • JEDEC JESD22-A117A-2006 Электрически стираемое программируемое ПЗУ (EEPROM) Программирование/стирание на долговечность и испытание на сохранение данных
  • JEDEC JESD22-A118-2000 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный HAST
  • JEDEC JESD22-A119-2004 Срок хранения при низкой температуре
  • JEDEC JESD22-A120-2001 Метод испытаний для измерения коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах
  • JEDEC JESD22-A122-2007 Силовая езда на велосипеде
  • JEDEC JESD22A111-2004 Процедура оценки для определения возможности крепления нижней боковой платы путем полного погружения в пайку небольших твердотельных устройств для поверхностного монтажа
  • JEDEC JESD22A121.01-2005 Метод испытаний для измерения роста усов на поверхности олова и сплавов олова
  • JEDEC JESD22-A119A-2015 Срок хранения при низкой температуре
  • JEDEC JESD22-A121A-2008 Метод испытаний для измерения роста усов на поверхности олова и сплавов олова
  • JEDEC JESD22-A118A-2011 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный HAST
  • JEDEC JESD22-A111A-2010 Процедура оценки для определения возможности крепления нижней боковой платы путем полного погружения в пайку небольших твердотельных устройств для поверхностного монтажа
  • JEDEC JESD22-A122A-2016 Силовая езда на велосипеде
  • JEDEC JESD22-A113H-2016 Расширение карты универсального флэш-накопителя (UFS), версия 3.0
  • JEDEC JESD22-A108D-2010 Температура, смещение и срок службы
  • JEDEC JESD22-A104E-2014 Температурный цикл
  • JEDEC JESD22-A107C-2013 Соленая атмосфера
  • JEDEC JESD22-A101D-2015 Испытание на устойчивость к устойчивому смещению температуры и влажности
  • JEDEC JESD22-A100C-2007 Циклическое испытание на долговечность при изменении температуры, влажности и отклонения
  • JEDEC JESD22-A100D-2013 Циклическое испытание на долговечность при изменении температуры, влажности и отклонения
  • JEDEC JESD22-B115A-2010 Тяга шарика припоя
  • JEDEC JESD22-A100-B-2000 Циклическое испытание на долговечность при изменении температуры, влажности и отклонения
  • JEDEC JESD22-A101-B-1997 Испытание на устойчивость к устойчивому смещению температуры и влажности
  • JEDEC JESD22-A102-C-2000 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный автоклав
  • JEDEC JESD22-A103C-2004 Срок хранения при высоких температурах
  • JEDEC JESD22-A104C-2005 Температурный цикл
  • JEDEC JESD22-A105C-2004 Циклическое изменение мощности и температуры
  • JEDEC JESD22-A106B-2004 Тепловой удар
  • JEDEC JESD22-A107B-2004 Соленая атмосфера
  • JEDEC JESD22-A108C-2005 Температура, смещение и срок службы
  • JEDEC JESD22-A110-B-1999 Метод испытаний A110-B Высокоскоростное стресс-тестирование при температуре и влажности (HAST)
  • JEDEC JESD22A113E-2006 Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность
  • JEDEC JESD22-A114E-2007 Тестирование чувствительности электростатического разряда (ESD) Модель человеческого тела (HBM)
  • JEDEC JESD22-B101A-2004 Внешний визуальный
  • JEDEC JESD22-B108A-2003 Испытание на копланарность полупроводниковых приборов поверхностного монтажа
  • JEDEC JESD22-B109-2002 Растягивающее усилие флип-чипа
  • JEDEC JESD22-B110A-2004 Механический удар узла сборки
  • JEDEC JESD22-B111-2003 Метод испытания компонентов портативных электронных устройств на падение с уровня платы
  • JEDEC JESD22-B113-2006 Метод испытания на циклический изгиб на уровне платы для определения характеристик надежности межсоединений компонентов портативных электронных устройств
  • JEDEC JESD22-B115-2007 Тяга шарика припоя
  • JEDEC JESD22-B116-1998 Метод испытаний B116: Испытание на сдвиг проволочной связки
  • JEDEC JESD22-B117A-2006 Срез шарика припоя
  • JEDEC JESD22B112-2005 Методика измерения коробления высокотемпературной упаковки
  • JEDEC JESD22-A108F-2017 Расширение карты универсального флэш-накопителя (UFS), версия 3.0
  • JEDEC JESD22-A104F-2020 Температурный цикл
  • JEDEC JESD22-A110E-2015 Высокоскоростное стресс-тестирование при температуре и влажности (HAST)
  • JEDEC JESD22-A115C-2010 Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD), модель машины (MM)
  • JEDEC JESD22B113A-2012 Метод испытания на циклический изгиб на уровне платы для определения характеристик надежности межсоединения микросхем SMT для портативных электронных устройств
  • JEDEC JESD22-A117C-2011 Электрически стираемое программируемое ПЗУ (EEPROM), программирование/стирание, долговечность и стресс-тест сохранения данных
  • JEDEC JESD22-B109A-2009 Растягивающее усилие флип-чипа
  • JEDEC JESD22-A115B-2010 Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD), модель машины (MM)
  • JEDEC JESD22-A113F-2008 Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность
  • JEDEC JESD22-A113G-2015 Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность
  • JEDEC JESD22-A102D-2010 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный автоклав
  • JEDEC JESD22-A102E-2015 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный автоклав
  • JEDEC JESD22-A118B-2015 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный HAST
  • JEDEC JESD22-A109B-2011 Герметичность
  • JEDEC JESD22-A110C-2009 Высокоскоростное стресс-тестирование при температуре и влажности (HAST)
  • JEDEC JESD22-A110D-2010 Высокоскоростное стресс-тестирование при температуре и влажности (HAST)
  • JEDEC JESD22-A103D-2010 Срок хранения при высоких температурах
  • JEDEC JESD22-A103E-2015 Срок хранения при высоких температурах
  • JEDEC JESD22-A120B-2014 Метод испытаний для измерения коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых в электронных устройствах
  • JEDEC JESD22B114A-2011 Отметить разборчивость
  • JEDEC JESD22-B118-2011 Внешний визуальный осмотр полупроводниковых пластин и кристаллов
  • JEDEC JESD22-A114F-2008 Тестирование чувствительности электростатического разряда (ESD) Модель человеческого тела (HBM)
  • JEDEC JESD22-A100E-2020 Циклическое отклонение температуры-влажности с испытанием на долговечность при поверхностной конденсации
  • JEDEC JESD82-22-2006 Технический паспорт измерительного чипа для диагностических линий FBDIMM
  • JEDEC JESD8-22-2009 HSUL_12 LPDDR2 ввода/вывода
  • JEDEC JESD22-B106E-2016 Расширение карты универсального флэш-накопителя (UFS), версия 3.0
  • JEDEC JESD22-B106D-2008 Устойчивость к ударам при пайке для устройств, монтируемых через отверстие
  • JEDEC JESD22-C101D-2008 Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду
  • JEDEC JESD22-B101B-2009 Внешний визуальный
  • JEDEC JESD22-B101C-2015 Внешний визуальный
  • JEDEC JESD22-B100B-2003 Физические размеры
  • JEDEC JESD22-B102D-2004 Паяемость
  • JEDEC JESD22-B103B-2002 Вибрация, переменная частота
  • JEDEC JESD22-B104C-2004 Механический шок
  • JEDEC JESD22-B105C-2003 Честность руководства
  • JEDEC JESD22-B106C-2005 Метод испытания B106C на устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через отверстие
  • JEDEC JESD22-B107C-2004 Постоянство маркировки
  • JEDEC JESD22-C101C-2004 Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду
  • JEDEC JESD22-A118B.01-2021 Расширение карты универсального флэш-накопителя (UFS), версия 3.0
  • JEDEC JESD22-B109C-2021 Растягивающее усилие флип-чипа
  • JEDEC JESD22-B109B-2014 Растягивающее усилие флип-чипа
  • JEDEC JESD22-B102E-2007 Паяемость
  • JEDEC JESD22-B110B-2013 Механический удар – компоненты и узлы
  • JEDEC JESD22-B105D-2011 Честность руководства
  • JEDEC JESD22-A103E.01-2021 Срок хранения при высоких температурах (незначительная редакционная редакция JESD22-A103E, октябрь 2015 г.)
  • JEDEC JESD22-B107D-2011 Марк Перманенси
  • JEDEC JESD22-C101F-2013 Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду
  • JEDEC JESD22-B115A.01-2016 Тяга шарика припоя
  • JEDEC JESD22-B108B-2010 Испытание на копланарность полупроводниковых приборов поверхностного монтажа
  • JEDEC JESD22-B117B-2014 Срез шарика припоя
  • JEDEC JESD8-22B-2014 HSUL_12 Ввод-вывод LPDDR2 и LPDDR3 с дополнительным ODT
  • JEDEC JESD22-B103B.01-2016 Расширение карты универсального флэш-накопителя (UFS), версия 3.0

  ДЖЕДЕК, джедек jesd22a121a-2008, джедек jesd22-c101d-2008, джедек 22, джедек jesd22, jedec22 b116, джедек jesd22-c101f-2013, джедек 22-b111, джедек jesd22-c101, джедек-22-a102, джедек jesd22b112, джедек jesd22-b108b, джедек 22-b117, джедек jesd22-b117a-2006, jedec22, джедек jesd22-a114f, джедек jesd22-a118, джедек jesd22-a115-a, джедек jesd22-a101d, ДЖЕДЕК 22 А102.

 



©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.