ZH
EN
ES

Электронная микроскопия благородных металлов

Электронная микроскопия благородных металлов, Всего: 65 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронная микроскопия благородных металлов, являются: Оптика и оптические измерения, Оптическое оборудование, Финансы. Банковское дело. Денежные системы. Страхование, Линейные и угловые измерения, Обработка поверхности и покрытие, Цветные металлы, Изделия цветных металлов, Испытание металлов, Продукция химической промышленности, Производство металлов, Аналитическая химия.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Электронная микроскопия благородных металлов

GB/T 34831-2017 Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.
GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Professional Standard - Finance, Электронная микроскопия благородных металлов

JRT 0267-2023

British Standards Institution (BSI), Электронная микроскопия благородных металлов

BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронная микроскопия благородных металлов

KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа

SE-SIS, Электронная микроскопия благородных металлов

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), Электронная микроскопия благородных металлов

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

International Organization for Standardization (ISO), Электронная микроскопия благородных металлов

ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Association Francaise de Normalisation, Электронная микроскопия благородных металлов

NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Danish Standards Foundation, Электронная микроскопия благородных металлов

DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

German Institute for Standardization, Электронная микроскопия благородных металлов

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронная микроскопия благородных металлов

GB/T 17472-2008 Технические условия на пасты из драгоценных металлов, применяемые в микроэлектронике
GB/T 17472-2022 Технические условия на пасты из драгоценных металлов, применяемые в микроэлектронике
GB/T 17473.2-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение крупности
GB/T 17473.3-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение листового сопротивления.
GB/T 17473.5-2008 Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение вязкости
GB/T 17473.4-2008 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике.Определение адгезии
GB/T 17473.6-2008 Метод испытаний паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение разрешающей способности.
GB/T 17473.2-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение крупности
GB/T 17473.3-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение поверхностного сопротивления.
GB/T 17473.1-2008 Метод определения паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение содержания сухих веществ
GB/T 17473.5-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение вязкости.
GB/T 17473.6-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение разрешающей способности.
GB/T 17473.4-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение адгезии.
GB/T 17473.1-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Определение содержания твердых веществ.
GB/T 17473.7-2008 Метод испытания паст из драгоценных металлов, применяемых в микроэлектронике. Определение паяемости и стойкости к распаиванию.
GB/T 17473.7-1998 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в толстопленочной микроэлектронике. Испытание паяемости и стойкости к выщелачиванию припоя.
GB/T 43088-2023 Метод определения плотности дислокаций в металлических тонкокристаллических образцах методами микролучевого анализа и электронной микроскопии

ES-UNE, Электронная микроскопия благородных металлов

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

Professional Standard - Public Safety Standards, Электронная микроскопия благородных металлов

GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

AENOR, Электронная микроскопия благородных металлов

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Электронная микроскопия благородных металлов

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

IT-UNI, Электронная микроскопия благородных металлов

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

AT-ON, Электронная микроскопия благородных металлов

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронная микроскопия благородных металлов

ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)

BE-NBN, Электронная микроскопия благородных металлов

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронная микроскопия благородных металлов

JIS H 7804:2005 Метод определения размера частиц в металлических катализаторах с помощью электронного микроскопа

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Электронная микроскопия благородных металлов

GB/T 17473.7-2022 Методы испытаний паст из драгоценных металлов, используемых в микроэлектронике. Часть 7. Определение паяемости и стойкости к выщелачиванию припоя.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Электронная микроскопия благородных металлов

GJB 950.3A-2008 Методы анализа минорных элементов благородных металлов и их сплавов. Часть 3. Определение минорных палладия и родия в платиновых сплавах атомно-эмиссионным спектрометрическим методом с индуктивно-связанной плазмой.
GJB 950.2A-2008 Методы анализа малых элементов благородных металлов и их сплавов.Часть 2. Определение малых элементов золота и железа в платине и платиновых сплавах, палладиевых сплавах атомно-эмиссионным методом с индуктивно-связанной плазмой.
GJB 950.1A-2008 Методы анализа малых элементов драгоценных металлов и их сплавов. Часть 1: Определение незначительных содержания свинца, сурьмы, висмута и железа в золоте и золотых сплавах, серебре и серебряных сплавах, палладиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Электронная микроскопия благородных металлов

GJB 950.1A-2021 Методы анализа микроэлементов драгоценных металлов и их сплавов Часть 1. Определение следовых количеств свинца, сурьмы, висмута, железа, цинка и кадмия в золоте и сплавах золота, серебре и сплавах серебра и сплавах палладия методом индуктивной связи