ZH
EN
ES

Как пользоваться электронным микроскопом

Как пользоваться электронным микроскопом, Всего: 32 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как пользоваться электронным микроскопом, являются: Безопасность техники, Медицинское оборудование, Аналитическая химия, Физика. Химия, Сырье для резины и пластмасс, Оптика и оптические измерения, Краски и лаки, Испытание металлов, Обработка поверхности и покрытие, Смазочные материалы, индустриальные масла и сопутствующие товары, Технология строительства, Оптическое оборудование.

US-CFR-file, Как пользоваться электронным микроскопом

• CFR 33-149.403-2013 Судоходство и судоходные воды. Часть149:Глубоководные порты: проектирование, строительство и оборудование. Раздел 149.403: Как я могу запросить использование альтернативного или дополнительного оборудования или процедур для пожаротушения и предотвращения пожара?
• CFR 40-86.1861-17-2014 Защита окружающей среды. Часть 86: Контроль выбросов от новых и находящихся в эксплуатации дорожных транспортных средств и двигателей. Раздел 86.1861-17: Как работают программы NMOG+NOX и кредитные программы за выбросы в результате испарения?

Danish Standards Foundation, Как пользоваться электронным микроскопом

• DS-håndbog 116.3.6:2021 Использование преобразователей частоты и контроль токов утечки и блуждающих токов. В чем смысл?
• DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
• DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
• DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

Group Standards of the People's Republic of China, Как пользоваться электронным микроскопом

• T/SHDSGY 101-2022 Первичное использование электронного мочевого пузыря и пиелоскопа

International Organization for Standardization (ISO), Как пользоваться электронным микроскопом

• ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
• ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
• ISO 8322-10:1995 Строительство зданий. Измерительные приборы. Процедуры определения точности при использовании. Часть 10. Разница между нестеклянными отражателями и электронными призмами для измерения расстояния (традиционными стеклянными призмами).
• ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
• ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.

British Standards Institution (BSI), Как пользоваться электронным микроскопом

• BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
• PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
• PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
• DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

Association Francaise de Normalisation, Как пользоваться электронным микроскопом

• FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
• FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

BE-NBN, Как пользоваться электронным микроскопом

• NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как пользоваться электронным микроскопом

• ASTM D3849-14a Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
• ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
• ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
• ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
• ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
• ASTM B651-83(2019) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
• ASTM D7416-08 Стандартная практика анализа смазочных материалов, находящихся в эксплуатации, с использованием конкретной пятичастной (диэлектрическая проницаемость, диэлектрическая проницаемость с временным разрешением и переключающимися магнитными полями, лазерный счетчик частиц)

German Institute for Standardization, Как пользоваться электронным микроскопом

• DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

未注明发布机构, Как пользоваться электронным микроскопом

• DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

IT-UNI, Как пользоваться электронным микроскопом

• UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

GOSTR, Как пользоваться электронным микроскопом

• PNST 507-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика с помощью просвечивающей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

BELST, Как пользоваться электронным микроскопом

• STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

Другие:   Как использовать ВЭЖХ, Использование электронного микроскопа, использование СЭМ, Как использовать энергетический спектр сканирующего электронного микроскопа, Как анализировать электронный микроскоп, Использование электронного микроскопа, Как использовать муравьиную кислоту, использование СЭМ, А как насчет электронного микроскопа?, Использование нескольких электронных микроскопов., Как насчет сканирующего электронного микроскопа?, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом, Как использовать инфракрасный порт, Как использовать фтир, Как пользоваться электронным микроскопом, как использовать тг, Как использовать электрофорез, Как использовать инфракрасный порт, Как пользоваться сканирующим электронным микроскопом, Использование СЭМ.