Подготовка проб для электронных зондов

Подготовка проб для электронных зондов, Всего: 48 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка проб для электронных зондов, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Условия и процедуры испытаний в целом, Аналитическая химия, Изделия цветных металлов, Лампы и сопутствующее оборудование, Строительные материалы, Специи и приправы. Пищевые добавки, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Табак, табачные изделия и сопутствующее оборудование, Атомная энергетика, Керамика, Словари.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Подготовка проб для электронных зондов

GB/T 17365-1998 Способ подготовки образцов металла и сплава для электронно-зондового микроанализа
GB/T 17366-1998 Методы подготовки образцов минералов и горных пород для ЭПМА
GB/T 4930-1993 Общие характеристики стандартного образца для электронно-зондового микроанализа
GB/T 17363-1998 Метод количественного электронно-зондового микроанализа золотых изделий
GB/T 4930-2008 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
GB/T 17363.1-2009 Неразрушающий контроль содержания золота в золотых изделиях. Часть 1. Метод электронно-зондового микроанализа.
GB/T 23113-2023 Подготовка проб для определения содержания ртути в газоразрядных лампах

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка проб для электронных зондов

GB/T 4930-2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Подготовка проб для электронных зондов

IPC TM-650 5.6-1973 Подготовка образцов печатных плат

SCC, Подготовка проб для электронных зондов

NEMA LL 2-1997(R2002) Процедуры подготовки проб компактной люминесцентной лампы со штифтами и TCLP
BS ISO 22489:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
CEI EN 60512-16-1:2009 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16а. Повреждение зонда.
DANSK DS/EN 60512-16-1:2008 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16а. Повреждение зонда.

Association Francaise de Normalisation, Подготовка проб для электронных зондов

NF EN 12229:2014 Спортивные полы. Способ подготовки иглопробивных образцов текстиля и синтетического газона для испытаний.
NF V03-926*NF ISO 5502:1993 Остатки масличных культур. Подготовка тестовых образцов.
NF X21-006:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
NF V32-051:1968 Специи и приправы. Семена горчицы. Подготовка пробы для лабораторного анализа.
NF C93-400-16-1*NF EN 60512-16-1:2008 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16а. Повреждение зонда.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Подготовка проб для электронных зондов

JJF 1029-2024 Технические требования к разработке (производству) стандартных материалов для количественного анализа электронными зондами

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Подготовка проб для электронных зондов

KS D ISO 22489:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 22489:2012 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
KS D ISO 22489-2023 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.

KR-KS, Подготовка проб для электронных зондов

KS D ISO 22489-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 22489-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), Подготовка проб для электронных зондов

NEMA LL 6-1999 Процедуры подготовки проб встроенной электронной компактной люминесцентной лампы и TCLP

RU-GOST R, Подготовка проб для электронных зондов

GOST 28106-1989 Медные катоды. Отбор и подготовка проб и образцов для определения удельного электросопротивления.
GOST 28106-2015 Медные катоды. Отбор и подготовка образцов и деталей для определения удельного электросопротивления.

British Standards Institution (BSI), Подготовка проб для электронных зондов

BS ISO 22489:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
BS ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
BS ISO 23692:2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии
BS EN 60512-16-1:2008 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16а. Повреждение зонда.
20/30393735 DC BS ISO 23692. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии
24/30465997 DC Микролучевой анализ. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов ПЭМ. Словарь

International Organization for Standardization (ISO), Подготовка проб для электронных зондов

ISO 22489:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 23692:2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии.
ISO/CD 17297 Микролучевой анализ. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов ПЭМ. Словарь

GSO, Подготовка проб для электронных зондов

BH GSO ISO 22489:2017 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
GSO IEC 60512-16-1:2015 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16а. Повреждение зонда.
GSO ISO 22489:2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
BH GSO IEC 60512-16-1:2016 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16а. Повреждение зонда.

US-FCR, Подготовка проб для электронных зондов

FCR NE-F-11-4T-1972 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОКАЗАТЕЛЯ ПУО2-UO2 ОДНОРОДНОСТИ ТОПЛИВЫХ ТАБЕЛЕТ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОЗОНДА (НЕАКТИВНО ДЛЯ НОВОЙ КОНСТРУКЦИИ)

Professional Standard - Tobacco, Подготовка проб для электронных зондов

YC/T 510-2014 Измерения для молекулярной биологии табака. Подготовка образцов табачного листа. Метод жидкого азота.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Подготовка проб для электронных зондов

ASTM D5139-90(1996) Типовые условия на подготовку образцов для квалификационных испытаний покрытий, предназначенных для использования на атомных электростанциях
ASTM D5139-19 Типовые условия на подготовку образцов для квалификационных испытаний покрытий, предназначенных для использования на атомных электростанциях

ES-UNE, Подготовка проб для электронных зондов

UNE-EN 60512-16-1:2008 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16a. Повреждение зонда (одобрено AENOR в ноябре 2008 г.)

German Institute for Standardization, Подготовка проб для электронных зондов

DIN EN 60512-16-1:2009-03 Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 16-1. Механические испытания контактов и выводов. Испытание 16a. Повреждение зонда (IEC 60512-16-1:2008); Немецкая версия EN 60512-16-1:2008 / Примечание: DIN IEC 60512-8 (1994-05) остается действительным до...

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Подготовка проб для электронных зондов

JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе