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電子プローブのサンプル前処理

電子プローブのサンプル前処理は全部で 38 項標準に関連している。

電子プローブのサンプル前処理 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 光学および光学測定、 包括的なテスト条件と手順、 分析化学、 非鉄金属製品、 電灯および関連器具、 香辛料・調味料、食品添加物、 原子力工学、 タバコ、タバコ製品およびタバコ産業用機器、 セラミックス、 語彙、 電気工学総合、 道路車両装置。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子プローブのサンプル前処理

• GB/T 17365-1998 金属・合金電子プローブの定量分析用サンプルの調製方法
• GB/T 17366-1998 鉱物岩石の電子プローブ分析用サンプルの調製方法
• GB/T 4930-1993 標準サンプルの電子プローブ分析に関する一般的な技術条件
• GB/T 17363-1998 金製品の電子プローブ定量法
• GB/T 4930-2008 マイクロビーム分析、電子プローブ分析、標準サンプル技術条件のガイドライン
• GB/T 17363.1-2009 金製品中の金含有量を非破壊で測定する方法 パート 1: 電子プローブ微量分析
• GB/T 23113-2023 放電ランプの水銀含有量検出のためのサンプルの準備

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子プローブのサンプル前処理

• GB/T 4930-2021 マイクロビーム分析および電子プローブマイクロ分析用標準試料の技術的条件に関するガイドライン

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 電子プローブのサンプル前処理

• IPC TM-650 5.6-1973 プリント回路サンプルの準備

Association Francaise de Normalisation, 電子プローブのサンプル前処理

• NF V03-926*NF ISO 5502:1993 油糧種子残留物試験サンプルの調製
• NF EN 12229:2014 スポーツ用床材 - ニードルパンチ繊維および人工芝サンプルの調製方法
• NF V32-051:1968 調味料と調味料 マスタードシード 実験室分析用のサンプルの調製。
• NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。
• NF C93-400-16-1*NF EN 60512-16-1:2008 電子機器用コネクタの試験および測定 パート 16-1: 接点および端子の機械的試験 試験 16a: プローブの損傷

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 電子プローブのサンプル前処理

• NEMA LL 6-1999 統合された電子コンパクト蛍光ランプのサンプル前処理と TCLP 手順

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子プローブのサンプル前処理

• KS D ISO 22489:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
• KS D ISO 22489:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。

KR-KS, 電子プローブのサンプル前処理

• KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
• KS D ISO 22489-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。

RU-GOST R, 電子プローブのサンプル前処理

• GOST 28106-1989 銅カソード サンプリングとサンプル前処理、抵抗率測定用のサンプル
• GOST 28106-2015 銅陰極 抵抗率測定のためのサンプルと試験片のサンプリングと準備

British Standards Institution (BSI), 電子プローブのサンプル前処理

• BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
• BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
• BS ISO 23692:2021 マイクロビーム分析と電子プローブ微量分析を用いた連続鋳鋼製品中のMn樹枝状偏析の定量分析
• BS EN 60512-16-1:2008 電子機器用コネクタ テストと測定 接点と端子の機械的テスト テスト 16a: プローブの故障
• 20/30393735 DC BS ISO 23692 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 連続鋳造鋼製品中の Mn デンドライト偏析の定量分析

International Organization for Standardization (ISO), 電子プローブのサンプル前処理

• ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
• ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
• ISO 23692:2021 マイクロビーム分析、電子プローブマイクロ分析、連続鋳造鋼製品中のMn樹枝状偏析の定量分析。
• ISO/CD 17297 マイクロビーム解析「TEM試料作製への集束イオンビームの応用」用語解説

US-FCR, 電子プローブのサンプル前処理

• FCR NE-F-11-4T-1972 電子マイクロプローブを使用して、PUO2-UO2 燃料ペレットの均一性の性能指数を決定します (新しい設計は無効です)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子プローブのサンプル前処理

• ASTM D5139-90(1996) 原子力発電所用塗装適格試験片のサンプル調製に関する標準仕様書
• ASTM D5139-19 原子力発電所用塗装適格試験片のサンプル調製に関する標準仕様書

Professional Standard - Tobacco, 電子プローブのサンプル前処理

• YC/T 510-2014 タバコの分子生物学的検査のためのタバコ葉サンプルの調製のための液体窒素法

ES-UNE, 電子プローブのサンプル前処理

• UNE-EN 60512-16-1:2008 電子機器用コネクタの試験および測定 パート 16-1: 接点および端子の機械的試験 試験 16a: プローブの損傷

German Institute for Standardization, 電子プローブのサンプル前処理

• DIN EN 60512-16-1:2009-03 電子機器用コネクタの試験および測定 パート 16-1: 接点および端子の機械的試験 試験 16a: プローブの損傷

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子プローブのサンプル前処理

• JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子プローブのサンプル前処理

• IEC 62321-2:2013 電気製品中の特定物質の定量 第２部 分解・分解機械サンプルの作成

その他：   サンプルの準備, 土壌サンプルの準備, 標準サンプルの調製, 石灰サンプルの準備, 分析サンプルの調製, サンプル前処理操作, 電子プローブサンプルの準備, 電子プローブサンプルの準備, 電子プローブサンプルの準備, 電子プローブ装置用サンプルの調製, 電子プローブ装置のサンプル調製方法, 電子プローブ装置のサンプル作製方法, 電子プローブ装置のサンプル前処理, 電子プローブサンプルの準備, 電子プローブサンプルの準備, 電子プローブサンプルの準備, 電子プローブサンプルの準備, 粉末サンプルの調製, 電子プローブサンプルの調製, 電子プローブのサンプル前処理.