EN
RU
ES
光学显微镜扫描系统
本专题涉及光学显微镜扫描系统的标准有141条。
国际标准分类中，光学显微镜扫描系统涉及到光学设备、词汇、长度和角度测量、分析化学、有色金属、空气质量、教育、热力学和温度测量、电子显示器件、机械试验、光电子学、激光设备、犯罪行为防范、光学和光学测量、涂料和清漆、医学科学和保健装置综合、物理学、化学、半导体分立器件、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，光学显微镜扫描系统涉及到放大镜与显微镜、技术管理、光学仪器综合、基础标准与通用方法、记录仪器及光线示波器、光学设备、教学专用仪器、、化学、电子光学与其他物理光学仪器、犯罪鉴定技术、公共医疗设备、光电子器件综合、油、气处理设备、电子元件综合、半导体分立器件综合。
行业标准-商品检验，关于光学显微镜扫描系统的标准
- SN/T 4388-2015 皮革鉴定 扫描电镜和光学显微镜法
英国标准学会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- BS 7012-12:1997 光学显微镜 偏光显微镜参考系统
- BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
- BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
- BS EN ISO 14880-1:2005 光学和光子学.显微透镜系列.词汇
- BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
- BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析 词汇 扫描探针显微镜中使用的术语
- BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
- BS ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
- BS EN ISO 14880-1:2016 光学和光子学.显微透镜系列.词汇和常规属性
- BS ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- BS EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微透镜系列.几何学特征试验方法
- BS EN ISO 14880-2:2007 光学和光子学.显微物镜系列.波像差的试验办法
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- BS ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统
- 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析 词汇 第 2 部分：扫描探针显微镜中使用的术语
- BS EN ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微镜系列.不同于波前像差的光学特征试验办法
- BS ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统
- DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
- BS CECC 00013:1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
- BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征
韩国科技标准局，关于光学显微镜扫描系统的标准
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
- KS B ISO 8576:2006 光学和光学仪器.显微镜.偏光显微镜的参考系统
- KS D 2713-2016 NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
- KS D 2713-2016(2021) NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
- KS B ISO 8576-2006(2021) 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统
- KS B ISO 8576-2006(2016) 光学和光学仪器 - 显微镜 - 偏光显微镜参考系
- KS B ISO 9345-2:2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统
- KS B ISO 9345-2:2016 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第2部分：无限光学校正系统
- KS B ISO 14880-2:2013 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
- KS B ISO 14880-2:2008 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
- KS B ISO 9345-2-2016(2021) 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统
美国材料与试验协会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- ASTM E2382-04 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
- ASTM E986-97 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
- ASTM E2809-13 在法医油漆检查中使用扫描电子显微镜/X射线光谱法的标准指南
- ASTM E2090-00 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM E2090-12 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM F1438-93(1999) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
- ASTM F1438-93(2020) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
- ASTM E1588-95(2001) 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-08 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-10 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-95 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
- ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
- ASTM F1438-93(2012) 使用气体分配系统组件中扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准试验方法
- ASTM F1372-93(2005) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法
- ASTM F1372-93(2012) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜 (SEM) 分析的标准试验方法
- ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
- ASTM E2090-06 使用光学和扫描电子显微镜从洁净室刮水器释放的颗粒和纤维的尺寸分化计数的标准测试方法
- ASTM E2090-12(2020) 使用光学和扫描电子显微镜从洁净室刮水器释放的颗粒和纤维的尺寸分化计数的标准测试方法
- ASTM E280-98(2004)e1 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
- ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E280-21 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
- ASTM E2809-22 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
德国标准化学会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- DIN ISO 8576:2002-06 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜参考系统
- DIN ISO 8576:2002 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜基准系统 (ISO 8576:1996)
- DIN ISO 9345-2:2005 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:完全修正光学系统
- DIN EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法(ISO 14880-4-2006)
- DIN EN ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法(ISO 14880-3-2006)
国际标准化组织，关于光学显微镜扫描系统的标准
- ISO 8576:1996 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜的参考系统
- ISO 22493:2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
- ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
- ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
- ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
- ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
- ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
- ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
- ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
- ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇.技术勘误2
- ISO 14880-1:2016 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇和常规属性
- ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统
- ISO 14880-2:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
- ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法
- ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法
- ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
国家质检总局，关于光学显微镜扫描系统的标准
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
- GB/T 22061-2008 显微镜.偏光显微术的参考系统
- GB/T 31226-2014 扫描隧道显微术测定气体配送系统部件表面粗糙度的方法
- GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统
KR-KS，关于光学显微镜扫描系统的标准
- KS B ISO 8576-2023 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统
- KS B ISO 9345-2-2016 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统
- KS B ISO 9345-2-2023 显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第2部分:无限校正光学系统
日本工业标准调查会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- JIS K 3850-1:2006 空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 3850-1:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
- JIS K 0147-2:2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
- JIS B 7251:2000 偏振光显微镜的参照系统
- JIS B 7132-2:2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统
- JIS B 7132-2:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分：无限远校正光学系统
行业标准-教育，关于光学显微镜扫描系统的标准
- JY/T 0586-2020 激光扫描共聚焦显微镜分析方法通则
RU-GOST R，关于光学显微镜扫描系统的标准
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- GOST R 8.636-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
- GOST 8.594-2009 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.鉴定方法
- GOST R 8.594-2009 确保测量一致性的国家体系.扫描电子显微镜
- GOST R 8.631-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子测量显微镜.验证方法
- GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
- GOST R 8.630-2007 国家测量统一性保证体系.原子能扫描探测显微镜.验证方法
- GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
- GOST 15114-1978 光学设备的显微镜系统.分辨极限的目视测定法
- GOST R 8.593-2009 确保测量一致性的国家体系.原子力扫描隧道显微镜.检定规程
中国团体标准，关于光学显微镜扫描系统的标准
- T/QGCML 1940-2023 扫描电子显微镜原位高温力学测试装置
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
德国机械工程师协会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 光学 3D 测量系统 基于区域扫描的光学系统
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 光学 3-D 测量系统 基于区域扫描的光学系统
- VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 光学 3D 测量系统 基于区域扫描的多视图系统
行业标准-机械，关于光学显微镜扫描系统的标准
- JB/T 8380-1996 偏光显微镜 参考系统
行业标准-公共安全标准，关于光学显微镜扫描系统的标准
- GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1937-2021 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1939-2021 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1522-2018 法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1521-2018 法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1519-2018 法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1520-2018 法庭科学 黑火药、烟火药元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 823.3-2018 法庭科学油漆物证的检验方法 第3部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法
法国标准化协会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- NF X21-069-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
- NF S10-132-1:2016 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇和一般属性
- NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法
- NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 光学 显微物镜系列 第2部分：波前像差的试验办法
- FD T16-203:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
工业和信息化部，关于光学显微镜扫描系统的标准
- SJ/T 11759-2020 光伏电池电极栅线高宽比的测量 激光扫描共聚焦显微镜法
未注明发布机构，关于光学显微镜扫描系统的标准
- JIS K 0182:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂法向弹簧常数的测定
欧洲标准化委员会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- EN ISO 14880-1:2019 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇
- EN ISO 14880-1:2005 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇
- EN ISO 14880-2:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
- EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法 ISO 14880-4-2006
- EN ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法 ISO 14880-3-2006
GOSTR，关于光学显微镜扫描系统的标准
- PNST 508-2020 纳米技术 单壁碳纳米管 通过扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法表征
国家计量技术规范，关于光学显微镜扫描系统的标准
- JJF 1951-2021 基于结构光扫描的光学三维测量系统校准规范
丹麦标准化协会，关于光学显微镜扫描系统的标准
- DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
