ZH
EN
ES

Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов

Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов, Всего: 7 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов, являются: Аналитическая химия.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов

GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
GB/T 40109-2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод глубинного профиля бора в кремнии.

International Organization for Standardization (ISO), Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов

ISO 12406:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.
ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

British Standards Institution (BSI), Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов

BS ISO 12406:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии
BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Глубинное профилирование масс-спектрометрии вторичных ионов

GB/T 32495-2016 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.