ZH
EN
ES

Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре, Всего: 44 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре, являются: Полупроводниковые приборы, Полупроводниковые материалы, Механические конструкции электронного оборудования.

British Standards Institution (BSI), Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• BS EN 60749-6:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Хранение при высокой температуре.
• BS EN 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Срок службы при высоких температурах.
• BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Срок службы при высоких температурах
• BS IEC 60747-14-5:2010 Полупроводниковые приборы - Полупроводниковые датчики - Полупроводниковый датчик температуры с PN-переходом
• BS EN 60749-6:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Хранение при высокой температуре.
• BS EN 60749-25:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Температурное циклирование.
• BS EN 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.

Danish Standards Foundation, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• DS/EN 60749-6/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• DS/EN 60749-6:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• DS/EN 60749-23/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• DS/EN 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

Association Francaise de Normalisation, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• NF C96-013-6-16*NF EN 60191-6-16:2013 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: глоссарий по тестированию полупроводников и розеткам для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA.
• NF EN 60749-6:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высоких температурах.

AENOR, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• UNE-EN 60749-6:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• UNE-EN 60749-23:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

German Institute for Standardization, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• DIN EN 60749-6:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре (IEC 60749-6:2002); Немецкая версия EN 60749-6:2003
• DIN EN 60749-6:2017-11 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре (IEC 60749-6:2017); Немецкая версия EN 60749-6:2017 / Примечание: DIN EN 60749-6 (2003-04) остается действительным наряду с этим стандартом до 07 апреля 2020 г.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• KS C IEC 60749-6:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• KS C IEC 60749-23:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• KS C IEC 60749-23:2021 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• KS C IEC 60749-23-2006(2016) Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• KS C IEC 60749-6:2020 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

International Electrotechnical Commission (IEC), Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• IEC 60749-6:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• IEC 60749-6:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• IEC 60749-6:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• IEC 60747-14-5:2010 Полупроводниковые приборы. Часть 14-5. Полупроводниковые датчики. Полупроводниковый датчик температуры с PN-переходом.
• IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• IEC 60749-23:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• IEC 60749-23:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• EN 60749-6:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• GB/T 4937.23-2023 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.

KR-KS, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• KS C IEC 60749-23-2021 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах.
• KS C IEC 60749-6-2020 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

Group Standards of the People's Republic of China, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• T/IAWBS 009-2019 Испытание установившейся температуры и влажности с высоким напряжением смещения для силовых полупроводниковых приборов

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• GJB 128-1986 Спецификация аэрофотосъемки для военного топографического картографирования
• GJB 128B-2021 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств

未注明发布机构, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• GJB 128A-1997 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств

RU-GOST R, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• GOST 28578-1990 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

Defense Logistics Agency, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре

• DLA MIL-STD-750 E-2006 СТАНДАРТ МЕТОДА ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Другие:   Рекомендации по однократному испытанию полупроводниковых приборов, используемых в аэрокосмической отрасли, на воздействие тяжелых ионов, Полупроводниковые приборы. Тонкопленочные стандартные образцы для испытаний микроэлектромеханических устройств на растяжение., Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов Часть 6, Испытание на хранение полупроводников при высоких температурах, Полупроводниковое устройство, высокая температура, высокотемпературный полупроводниковый прибор, Полупроводниковые приборы при высокой температуре, высокотемпературный полупроводниковый прибор, Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов, Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов Часть V, Испытание полупроводниковых приборов при высокой температуре, Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств.