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Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor, Total: 44 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor son: Dispositivos semiconductores, Materiales semiconductores, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos..


British Standards Institution (BSI), Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • BS EN 60749-6:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Almacenamiento a alta temperatura
  • BS EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vida útil a alta temperatura
  • BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vida útil a alta temperatura
  • BS IEC 60747-14-5:2010 Dispositivos semiconductores - Sensores semiconductores - Sensor de temperatura semiconductor de unión PN
  • BS EN 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Almacenamiento a alta temperatura.
  • BS EN 60749-25:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Ciclos de temperatura
  • BS EN 60749-38:2008 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de prueba de error leve para dispositivos semiconductores con memoria.

Danish Standards Foundation, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

Association Francaise de Normalisation, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: almacenamiento a alta temperatura.
  • NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.
  • NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.
  • NF C96-013-6-16*NF EN 60191-6-16:2013 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6-16: glosario de pruebas de semiconductores y zócalos de precalentamiento para BGA, LGA, FBGA y FLGA
  • NF EN 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: almacenamiento a alta temperatura.

AENOR, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • UNE-EN 60749-6:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
  • UNE-EN 60749-23:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.
  • UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.

German Institute for Standardization, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • DIN EN 60749-6:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura (IEC 60749-6:2002); Versión alemana EN 60749-6:2003
  • DIN EN 60749-6:2017-11 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura (IEC 60749-6:2017); Versión alemana EN 60749-6:2017 / Nota: DIN EN 60749-6 (2003-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2020-04-07.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • KS C IEC 60749-6:2004 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura
  • KS C IEC 60749-23:2006 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura
  • KS C IEC 60749-23:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
  • KS C IEC 60749-23-2006(2016) Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura
  • KS C IEC 60749-6:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

International Electrotechnical Commission (IEC), Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • IEC 60749-6:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
  • IEC 60749-6:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
  • IEC 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
  • IEC 60747-14-5:2010 Dispositivos semiconductores - Parte 14-5: Sensores semiconductores - Sensor de temperatura semiconductor de unión PN
  • IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
  • IEC 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
  • IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
  • IEC 60749-23:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • EN 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • GB/T 4937.23-2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.

KR-KS, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • KS C IEC 60749-23-2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
  • KS C IEC 60749-6-2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

Group Standards of the People's Republic of China, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • T/IAWBS 009-2019 Prueba de humedad y temperatura en estado estacionario con polarización de alto voltaje para dispositivos semiconductores de potencia

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • GJB 128-1986 Especificación de fotografía aérea para cartografía topográfica militar.
  • GJB 128B-2021 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos

未注明发布机构, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • GJB 128A-1997 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos

RU-GOST R, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  • GOST 28578-1990 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos.

Defense Logistics Agency, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor

  Guía de prueba de efecto de evento único de iones pesados para dispositivos semiconductores aeroespaciales, Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos, Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 6, Prueba de almacenamiento de semiconductores a alta temperatura., Dispositivo semiconductor de alta temperatura., Dispositivos semiconductores de alta temperatura., Dispositivos semiconductores a altas temperaturas., Dispositivos semiconductores de alta temperatura., Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores., Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 5, Prueba de alta temperatura de dispositivo semiconductor, Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos.

 



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