K46 电力半导体器件、部件 标准查询与下载

KS C IEC 60748-4-2:2003 半导体器件.集成电路.空白详细规范.A/D转换器规范书

이 규격은 1993년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-4-2 Semiconduc

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 4：Interface integrated circuits－Section 2：Blank detail specification for linear analogue－to－digital converters(ADC)

KS C 7515-2003 反射型透光灯

이 규격은 투광 조명에 사용하는 반사면을 내장한 백열 텅스텐 램프(이하 램프라 한다.)

Reflector lamps

KS C IEC 60748-20:2003 半导体器件.集成电路.第20部分:薄膜集成电路及混合薄膜集成电路的总规范

이 규격은 KS C IEC 60748-1 제4장 2.4와 마찬가지로 수동 및 능동의 필

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 20：Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits

KS C IEC 60748-2-2:2003 半导体器件.集成电路.第2部分:数字集成电路.第2节:54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列的HCMOS数字集成电路类规范

서 문 이 규격은 1992년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-2-2 Semi

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 2:Family specification for HCMOS digital integrated circuits, series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU

KS C IEC 60748-20-1:2003 半导体器件.集成电路.第20部分:薄膜集成电路及混合薄膜集成电路的总规范.

서 문 이 규격은 1994년 제1판으로 발행된 IEC 60748-20-1 Semi

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 20：Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits－Section 1：Requirements for internal visual examination

KS C IEC 60748-4-1:2003 半导体器件.集成电路.空白详细规范.D/A转换器规范书

서 문 이 규격은 1993년에 제1판으로 발행된 IEC 60748-4-1 Semi

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 4：Interface integrated circuits－Section 1：Blank detail specification for linear digital－to－analogue converters(DAC)

KS C IEC 60747-14-1:2003 半导体器件.第14-1部分:半导体传感器.总则和分类

이 규격은 센서 규격서와 관련하여 다양한 종류의 센서 규격서 기초가 되는 일반적인 항목

Semiconductor devices－Part 14－1：Semiconductor sensors－General and classification

KS C IEC 60145:2003 乏时计(无功能量计)

이 규격은 새로이 제조된 유도형 무효 전력량계로서 주파수 40∼60 Hz(c/s), 정

Var－hour(reactive energy) meters

NF C53-700-1/A1:2003 高压直流电(HVDC)输送用闸流晶体管的试验.第1部分:电气试验

Testing of thyristor valves for high-voltage direct current (HVDC) transmission - Part 1 : electrical testing.

KS C IEC 60971:2003 半导体变流器.变流器连接用识别码

이 규격은 IEC 60146에 기술되어 있는 컨버터 장치용 다이오드와 사이리스터의 스택

Semiconductor convertors-Identification code for convertor connections

KS C IEC 60749-4:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验

이 규격은 습한 환경에서 비밀봉성 패키지된 반도체 소자들의 신뢰성을 평가하기 위한 목

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 4：Damp heat, steady state, highly accelerated stress test(HAST)

KS C IEC 60749-9:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性

이 규격의 목적은 인쇄회로기판 조립 공정으로부터 생기는 납땜 플럭스 찌꺼기를 제거하 는

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 9:Permanence of marking

KS C IEC 60749-11:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法

이 시험은 온도의 한계값 또는 급격한 변화에 갑자기 노출되는 경우, 소자의 내성과 이와

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 11：Rapid change of temperature－Two－fluid－bath method

KS C IEC 60747-4-2:2002 半导体器件.分立器件和集成电路.第4-2部分:微波二极管和晶体管.集成线路微波放大器.空白详细规范

서 문 이 규격은 2000년에 제1판으로 발행된 IEC 60747-4-2&

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 4－2：Microwave diodes and transistors－Integrated-circuit microwave amplifiers－Blank detail specification

KS C IEC 60747-4-1:2002 半导体器件.分立器件.第4-1部分:微波二极管和晶体管.微波领域有效晶体管.空白详细规范

마이크로파 다이오드와 트랜지스터 중에서 마이크로파 전계 효과 트랜지스터에 관한 표준을

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 4－1：Microwave diodes and transistors－Microwave field effect transistors－Blank detail specification

KS C IEC 60747-11:2002 半导体器件.分立器件.第11部分:分立器件分规范

이 품종 규격은 광전 소자를 제외한 개별 반도체 소자에 적용한다.

Discrete semiconductor devices－Part 11：Sectional specification for discrete devices

KS C IEC 60749-13:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分:盐性环境

이 규격은 반도체 소자의 내식성을 알아 내기 위한 염수 환경 시험에 관하여 규정한다.

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 13:Salt atmosphere

KS C IEC 60749-3:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

이 규격은 반도체 소자가 재료, 설계, 구조, 표시 및 마무리 작업이 적용 가능한 구매

Discrete semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 3：External visual examination

KS C 8108-2002 钒灯镇流器

이 규격은 KS C 7610, KS C IEC 60192 및 KS C IEC 60662에서

Ballasts for sodium vapour lamps

KS C IEC 60748-2-3:2002 半导体器件.集成电路.第2部分:数字集成电路.第3节:HCMOS规范

서 문 이 규격은 1992년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-3, Semic

Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 3:Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits(series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU)