T/CSTM 00003-2019
二维材料厚度测量 原子力显微镜法
Thickness measurements of two-dimensional materials Atomic force microscopy (AFM)
T/CSTM 00003-2019 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- T/CSTM 00003-2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 中国团体标准
- 当前最新
- T/CSTM 00003-2019
- 本标准规定了二维材料厚度测量 原子力显微镜法的原理、仪器设备、样品前处理、测试方法、厚度计算方法、测量结果的不确定度评定及测试报告。 本标准适用于可以与基底形成台阶的二维材料厚度测量。
T/CSTM 00003-2019相似标准
推荐
一种包裹二维材料的原子力显微镜探针制备方法
本发明的实施例提供一种包裹二维材料的原子力显微镜探针制备方法，涉及原子力显微镜探针的修饰与加工技术领域。...
学术干货丨XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
透射电子显微镜必须在真空中操作；影像是二维的，可通过三维重建得到三维效果；透射电镜法典型测量范围为1nm~500μm。AFM：采用原子力显微镜法在得到其粒径数据的同时可观察到纳米粒子的形貌，并通过原子力显微镜还可观察到纳米粒子的三维形貌，但是该法也存在一定的局限性，由于观察的范围有限，得到的数据不具有统计性。...
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
原子力显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。 此外，透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性，观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒，影响了测量准确性。所以，透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。 X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。...
北京大学张艳锋Nat. Commun.：化学气相沉积法制备二硫化钽薄膜
【图片导读】图1 2H-TaS2薄膜合成示意图(a) 低压化学气相沉积法(LPCVD)制备薄膜的生长过程；(b) Ta和S的X射线光电子能谱分析(XPS)峰;(c-e) 三角形状的TaS2的形成；(f) 2H-TaS2薄膜的SEM图像；(g) 样品的原子力显微镜(AFM)照片；(h) 生长时间延长至20分钟后的SEM图像；(i) 薄膜边缘与初始演变的薄膜有着相同的厚度；(j) 样品的光学显微镜(OM...