本发明的实施例提供一种包裹二维材料的原子力显微镜探针制备方法,涉及原子力显微镜探针的修饰与加工技术领域。...
原子力显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。 此外,透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性,观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒,影响了测量准确性。所以,透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。 X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。...
透射电子显微镜必须在真空中操作;影像是二维的,可通过三维重建得到三维效果;透射电镜法典型测量范围为1nm~500μm。 AFM:采用原子力显微镜法在得到其粒径数据的同时可观察到纳米粒子的形貌,并通过原子力显微镜还可观察到纳米粒子的三维形貌,但是该法也存在一定的局限性,由于观察的范围有限,得到的数据不具有统计性。...
AFM在二维材料研究中的应用新型二维材料自2004年石墨烯被发现以来,探寻其他新型二维晶体材料一直是二维材料研究领域的前沿。正如石墨烯一样,大尺寸高质量的其他二维晶体不仅对于探索二维极限下新的物理现象和性能非常重要,而且在电子、光电子等领域具有诸多新奇的应用。原子力显微镜(AFM)一直被广泛用于二维材料的形态和厚度表征。...
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