SJ/T 10705-1996
半导体器件键合丝表面质量检验方法

Standard practice for inspection of surface quality of semiconductor lead-bonding wire

SJ/T 10705-1996 中，可能用到以下仪器设备

 

徕卡EZ系列立体显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JASM-6200 ClairScope 大气压扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JCM-6000plus NeoScope 台式扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

SteREO Discovery v20体视显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

聚焦离子束系统

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

MML 单目镜系列显微镜

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优莱博技术（北京）有限公司

 

Anton Paar Conscan白光共聚焦显微镜

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安东帕（上海）商贸有限公司

 

徕卡DM750P偏光显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡Leica DMS1000 B 系列数字检查和测量显微镜系统

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡Leica DMS1000模块化数字显微镜系统

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica M165和M165C立体显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 体视显微镜 DVM6

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 体视显微镜 S6D

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 体视显微镜 S6E

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 体视显微镜 S4E

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 体视显微镜 EZ4 E

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡S9I/S9D/S9E 体式显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 体视显微镜 M80

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 体视显微镜 M60

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 体视显微镜 EZ4 W

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 体视显微镜 M165 FC

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 体视显微镜 M50

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡M205 FA 和 M205 FCA 荧光体视显微镜

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荧光成像的模块化立体显微镜 Leica MZ10 F

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡 M205A体式显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

徕卡Leica M125立体显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

蔡司 EVO MA 25/LS 25钨灯丝系列扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SUPRA™ 55场发射扫描电镜

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蔡司SUPRA™40超高分辨率场发射扫描电子显微镜

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日本电子JSM-7500F 冷场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

Prisma E SEM扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

SJ/T 10705-1996

标准号
SJ/T 10705-1996
发布日期
1996年07月22日
实施日期
1996年11月01日
废止日期
2010-02-25
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
CN-SJ
适用范围
本标准规定了半导体器件键合丝表面质量检验方法。 本标准适用于各种键合丝表面质量的检验。

SJ/T 10705-1996 中可能用到的仪器设备

体视显微镜/立体显微镜 数码显微镜 扫描电镜SEM 条码扫描仪


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