ASTM E2735-14(2020)
用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南

Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments


ASTM E2735-14(2020) 中,可能用到以下耗材

 

Ni-Cr Thin Film Depth Profile

Ni-Cr Thin Film Depth Profile

上海安谱科学仪器有限公司

 

ASTM E2735-14(2020)

标准号
ASTM E2735-14(2020)
发布
2020年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E2735-14(2020)
 
 
引用标准
ASTM E1078 ASTM E1127 ASTM E1217 ASTM E1523 ASTM E1577 ASTM E1634 ASTM E1636 ASTM E1829 ASTM E2108 ASTM E995 ASTM E996 ISO 10810 ISO 14606 ISO 14701 ISO 14976 ISO 15470 ISO 15472 ISO 18115-1 ISO 18115-2 ISO 18116 ISO 18117 ISO 18118 ISO 18516 ISO 19318 ISO 20903 ISO 21270 ISO 24237 ISO/TR 15969 ISO/TR 18392 ISO/TR 19319
1.1 本指南描述了一种方法,使用户和分析人员能够确定校准和标准,以通过 X 射线光电子能谱 (XPS) 获得有意义的表面化学数据,并针对特定分析目标和数据收集时间优化仪器。 1.2 本指南提供了有组织的信息集合或一系列选项,但不建议具体的行动方案。本指南不能取代教育或经验,应与专业判断结合使用。本指南的所有方面并非都适用于所有情况。 1.3 以 SI 单位...

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