找不到引用ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南 的标准
清华大学分析中心表面分析室主任姚文清致开幕词X射线光电子能谱(XPS)被广泛用于材料的表面分析。近十年来,我国XPS谱议数量及XPS相关的学术论文数量呈现飞跃式发展趋势。为了帮助X射线光电子能谱仪的操作者规范地使用XPS谱仪,准确地进行典型样品有效和有意义的XPS分析,刘芬老师对国家标准《X射线光电子能谱分析指南》进行了解读与宣贯。...
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