ASTM F1190-18
中子照射无偏电子元件的标准指南

Standard Guide for Neutron Irradiation of Unbiased Electronic Components


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ASTM F1190-18

标准号
ASTM F1190-18
发布
2018年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM F1190-18
 
 
引用标准
ASTM E1249 ASTM E1250 ASTM E1854 ASTM E1855 ASTM E2450 ASTM E264 ASTM E265 ASTM E668 ASTM E720 ASTM E721 ASTM E722 ASTM F1892 ASTM F980 MIL-STD-750 MIL-STD-883
1.1 本指南严格仅适用于将无偏硅 (Si) 或砷化镓 (GaAs) 半导体元件(集成电路、晶体管和二极管)暴露于中子辐射以确定元件中的永久性损坏。国家标准中规定的经过验证的 1-MeV 位移损伤函数目前不适用于其他半导体材料。 1.2 本指南的内容(注明了偏差)也可能适用于由其他材料组成的半导体的暴露,但国家标准中规定的经过验证的 1-MeV 位移损伤函数...

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