GB/T 40128-2021由国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 发布于 2021-05-21,并于 2021-12-01 00:00:00.0 实施。
GB/T 40128-2021 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
GB/T 40128-2021 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 40128-2021 。
本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。 本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量,测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100nm,其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。
利用微机械剥离技术,研究人员首先从层状材料中剥离出更薄的层状材料,这样剥离出的层状材料具有新鲜的表面层,当两个新鲜表面层相互摩擦时,就会出现一些薄片碎屑。这种现象虽然在生活中很常见,但由于薄片的特殊厚度,导致无法观察薄片的显微结构----薄片在基质上常常显得非常透明。然而随着电子显微技术特别是原子力显微镜的发明,人们得以近距离观察研究这类薄片的结构。...
2.扫描探针技术扫描探针技术包括原子力显微术(AFM)和扫描隧道显微术(STM)两种模式,可以分别观测材料的表面形貌和原子结构。AFM 被认为是表征Gr片层结构的最有力且最直接有效的工具。单层Gr的厚度通常在0.4~0.7nm,通过AFM的高度曲线可以直接估算出Gr的层数。如图3所示的Gr主要由单层Gr和双层Gr组成。...
最近,香港理工大学的柴扬(通讯作者)、香港理工大学和南昌大学的王雨(通讯作者)等人在透射电镜下原位观察二硫化钼片这样一种新型二维材料在高温下生长的过程。他们巧妙地设计了一个化学合成路径,采用基于微机电系统(MEMS)技术的加热样品台和原位高分辨透射电镜(in-situ TEM),首次实现了对二硫化钼的生长过程的原子尺度实时观察和记录。...
该方法成本效益比低,可实现超有序结构材料的量产,并且开拓了以原子层厚度的二维纳米材料为基础的集成单元制备新领域。...
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