ASTM F1372-93(1999)
用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜(SEM)的标准测试方法

Standard Test Method for Scanning Electron Microscope (SEM) Analysis of Metallic Surface Condition for Gas Distribution System Components


ASTM F1372-93(1999) 中,可能用到以下仪器设备

 

SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature

SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature

牛津仪器(上海)有限公司

 

自动化钢铁夹杂物AZtecSteel系统

自动化钢铁夹杂物AZtecSteel系统

牛津仪器(上海)有限公司

 

Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜

Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

HTQ-5610三重四极杆串联质谱系统

HTQ-5610三重四极杆串联质谱系统

宁波华仪宁创智能科技有限公司

 

GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)

TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

赛默飞Verios 5 XHR SEM超高分辨扫描电镜

赛默飞Verios 5 XHR SEM超高分辨扫描电镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Quanta SEM

Quanta SEM

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Helios Hydra 双光束FIB-SEM

Helios Hydra 双光束FIB-SEM

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

MR-3德国主动消磁系统

MR-3德国主动消磁系统

北京携测技术有限公司

 

Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜

Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜

复纳科学仪器(上海)有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

电镜原位偏压加热系统

电镜原位偏压加热系统

上海纳腾仪器有限公司

 

ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

复纳科学仪器(上海)有限公司

 

ParticleX 钢铁夹杂物分析系统

ParticleX 钢铁夹杂物分析系统

复纳科学仪器(上海)有限公司

 

ParticleX 汽车清洁度分析系统

ParticleX 汽车清洁度分析系统

复纳科学仪器(上海)有限公司

 

蔡司AMCS-Mining自动矿物分析系统

蔡司AMCS-Mining自动矿物分析系统

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ParticleX 全自动颗粒分析系统

ParticleX 全自动颗粒分析系统

复纳科学仪器(上海)有限公司

 

PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统

PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统

安徽泽攸科技有限公司

 

Säntis 300全晶圆工业阴极荧光CL-SEM系统

Säntis 300全晶圆工业阴极荧光CL-SEM系统

北京正通远恒科技有限公司

 

FLEXICUT 精密切割机

FLEXICUT 精密切割机

普锐斯(上海)贸易有限公司

 

标准号
ASTM F1372-93(1999)
发布
1999年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F1372-93(2005)
当前最新
ASTM F1372-93(2020)
 
 

推荐

扫描电镜工作原理

成象系统和电子束系统均内置在真空柱中。真空柱底端即为右图所示密封室,用于放置样品。之所以要用真空,主要基于以下两点原因:电子束系统灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以除了在使用SEM时需要用真空以外,平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。为了增大电子平均自由程,从而使得用于成象电子更多。...

扫描电镜技术及其在碳材料表征中应用

二十世纪60年代以来,出现了扫描电子显微镜SEM)技术,这样使人类观察微小物质能力发生质飞跃依靠扫描电子显微镜高分辨率、良好景深和简易操作方法,扫描电子显微镜SEM)迅速成为一种不可缺少工具,并且广泛应用于科学研究和工程实践中近年来,随着现代科学技术不断发展,相继开发了环境扫描电子显微镜(ESEM)、扫描隧道显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)等其它一些新电子显微技术这些技术出现...

高温原位纳米压痕仪服务

InSEM HT与扫描电子显微镜SEM)和聚焦离子束(FIB)工作室,或独立真空工作室兼容。配有的InView软件可帮助高级研究人员开发新实验。科学出版文献表明,InSEM HT结果与传统大规模高温测试数据匹配良好。测试温度范围宽以及拥有成本低特点使InSEM HT成为材料开发研究计划中很有价值设备。...

扫描电子显微镜机构组成

之所以要用真空,主要基于以下两点原因:  电子束系统灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以除了在使用SEM时需要用真空以外,平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。  为了增大电子平均自由程,从而使得用于成象电子更多。  电子束系统  电子束系统由电子枪和电磁透镜两部分组成,主要用于产生一束能量分布极窄、电子能量确定电子束用以扫描成象。  ...


ASTM F1372-93(1999) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号