BS CECC 00013-1985
电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验

Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice

BS CECC 00013-1985 发布历史

Describes equipment and procedures to be used for SEM inspection of discrete semiconductor devices and integrated circuits.

BS CECC 00013-1985由英国标准学会 GB-BSI 发布于 1985-08-30，并于 1985-08-30 实施。

BS CECC 00013-1985 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合,L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合,31.200 集成电路、微电子学。

BS CECC 00013-1985的历代版本如下：

• 1985年08月30日 BS CECC 00013-1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验

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标准号

BS CECC 00013-1985

发布日期

1985年08月30日

实施日期

1985年08月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L10;L40

国际标准分类号

31.080.01;31.200

发布单位

GB-BSI

适用范围

Describes equipment and procedures to be used for SEM inspection of discrete semiconductor devices and integrated circuits.

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