GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
哪些标准引用了GB/T 20724-2006
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- 标准号
- GB/T 20724-2006
- 发布日期
- 2006年12月25日
- 实施日期
- 2007年08月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- N53
- 国际标准分类号
- 71.040.99
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 18907-2002
- 适用范围
- 本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10-9m～×10-3m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
GB/T 20724-2006系列标准
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