GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
GB/T 20724-2006 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 20724-2006
- 发布日期
- 2006年12月25日
- 实施日期
- 2007年08月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- N53
- 国际标准分类号
- 71.040.99
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 18907-2002
- 适用范围
- 本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10-9m～×10-3m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
GB/T 20724-2006系列标准
GB/T 20721-2022 自动导引车 通用技术条件
GB/T 20722-2006 激光加工机器人 通用技术条件
GB/T 20723-2006 弧焊机器人 通用技术条件
GB/T 20729-2006 封闭管道中导电液体流量的测量 法兰安装电磁流量计 总长度
GB/T 20728-2021 封闭管道中流体流量的测量 科里奥利流量计的选型、安装和使用指南
GB/T 20727-2006 封闭管道中流体流量的测量 热式质量流量计
GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
GB/T 20725-2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则