GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction


GB/T 20724-2006 发布历史

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m~×10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

GB/T 20724-2006由国家质检总局 CN-GB 发布于 2006-12-25,并于 2007-08-01 实施。

GB/T 20724-2006 在中国标准分类中归属于: N53 电化学、热化学、光学式分析仪器,在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。

GB/T 20724-2006 发布之时,引用了标准

GB/T 20724-2006的历代版本如下:

  • 2006年12月25日 GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
  • 2021年12月31日 GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2006



标准号
GB/T 20724-2006
发布日期
2006年12月25日
实施日期
2007年08月01日
废止日期
中国标准分类号
N53
国际标准分类号
71.040.99
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 18907-2002
适用范围
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10-9m~×10-3m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

GB/T 20724-2006系列标准


GB/T 20724-2006 中可能用到的仪器设备





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