ASTM E2382-04
扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南
Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
ASTM E2382-04 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- ASTM E2382-04
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E2382-04(2012)
- 当前最新
- ASTM E2382-04(2020)
- 1.1 所有显微镜都会受到伪影的影响。本文件的目的是描述扫描隧道显微镜 (STM) 和原子力显微镜 (AFM) 中常见的与探针运动以及针尖和表面相互作用的几何考虑有关的伪影，提供示例的文献参考，其中可能的话，对文物的来源提供解释。由于扫描探针显微镜领域是一个新兴领域，因此本文件并不意味着全面，而是为显微镜工作者提供指导，帮助他们了解可能遇到的陷阱。识别伪影的...
ASTM E2382-04相似标准
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实验室检验检测工具--扫描探针显微镜
扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM,磁力显微镜MFM等等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器,是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及高分辨图形处理技术等现代科技成果的光...
什么是扫描探针显微镜？
同时受制其定量化分析的不足，因此SPM 的计量化也是人们正在致力于研究的另一重要方向，这对于半导体工业和超精密加工技术来说有着非同一般的意义扫描隧道显微镜(STM)在化学中的应用研究虽然只进行了几年，但涉及的范围已极为广泛。因为扫描隧道显微镜(STM)的最早期研究工作是在超高真空中进行的，因此最直接的化学应用是观察和记录超高真空条件下金属原子在固体表面的吸附结构。...
扫描探针显微镜的应用介绍
同时受制其定量化分析的不足，因此SPM 的计量化也是人们正在致力于研究的另一重要方向，这对于半导体工业和超精密加工技术来说有着非同一般的意义扫描隧道显微镜(STM)在化学中的应用研究虽然只进行了几年，但涉及的范围已极为广泛。因为扫描隧道显微镜(STM)的最早期研究工作是在超高真空中进行的，因此最直接的化学应用是观察和记录超高真空条件下金属原子在固体表面的吸附结构。...