ASTM E2382-04
扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南

Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy


说明：

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标准号
ASTM E2382-04
发布
2004年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E2382-04(2012)
当前最新
ASTM E2382-04(2020)
 
 
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ASTM E2382-04 中可能用到的仪器设备

扫描电镜SEM 透射电镜TEM 扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM 激光器 电化学工作站 光学仪器组件 电镜制样设备

谁引用了ASTM E2382-04 更多引用

ASTM E2859-11(2017) 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南


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