ASTM E995-04
螺旋电子光谱法和X射线光电光谱法中减去背景技术的标准指南
Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
- 标准号
- ASTM E995-04
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E995-11
- 当前最新
- ASTM E995-16
- 引用标准
- ASTM E673 ASTM E996
- AES 中的背景扣除技术最初被用作增强相对较弱的俄歇信号的方法，以将其与二次和背散射电子的缓慢变化的背景区分开来。对从俄歇峰线形状获取有用信息的兴趣、对俄歇光谱更高定量准确性的关注以及数据收集技术的改进，导致了各种背景扣除技术的发展。同样，XPS 中背景扣除技术的使用主要源于对化学态（结合能值）测定的兴趣、XPS 光谱更高的定量准确性以及数据采集的改进。采集...