ASTM E1588-10e1
扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
Standard Guide for Gunshot Residue Analysis by Scanning Electron Microscopy/ Energy Dispersive X-ray Spectrometry
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ASTM E1588-10e1 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ASTM E1588-10e1
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E1588-16
- 当前最新
- ASTM E1588-20
- 本文件将对参与通过 SEM/EDS 分析 GSR 样品的法医实验室人员有用 (4)。 GSR 的 SEM/EDS 分析是一种非破坏性方法，可提供 (5, 6) 形态信息和单个颗粒的元素分布。颗粒分析与批量样品方法形成对比，例如原子吸收分光光度法 (AAS) (7)、中子活化分析 (NAA) (8)、电感耦合等离子体原子发射光谱法 (ICP-AES) 和电感耦...
推荐
常见仪器原理及其所提供信息。。。
；扫描电子显微术SEM☆分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成像 ☆谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等 ☆提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等 原子吸收AAS☆原理：通过原子化器将待测试样原子化，待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光，从而使用检测器检测到的能量变低...
实验员必备的材料成分分析技术大全
：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术 SEM分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收 AAS原理：通过原子化器将待测试样原子化，待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光...
材料成分分析技术大全，实验员快收藏！
：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术 SEM分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收 AAS原理：通过原子化器将待测试样原子化，待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光...
材料成分分析技术大全
：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术 SEM分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收 AAS原理：通过原子化器将待测试样原子化，待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光...