ASTM E1588-10e1由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2010。
ASTM E1588-10e1 在中国标准分类中归属于: C04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 11.020 医学科学和保健装置综合。
本文件将对参与通过 SEM/EDS 分析 GSR 样品的法医实验室人员有用 (4)。 GSR 的 SEM/EDS 分析是一种非破坏性方法,可提供 (5, 6) 形态信息和单个颗粒的元素分布。颗粒分析与批量样品方法形成对比,例如原子吸收分光光度法 (AAS) (7)、中子活化分析 (NAA) (8)、电感耦合等离子体原子发射光谱法 (ICP-AES) 和电感耦合等离子体质谱法 (ICP) -MS),在测定总元素浓度之前溶解或提取采样材料,从而牺牲形态信息和单个颗粒识别。 X 射线荧光光谱法 (XRF) 是一种用于绘制弹孔周围 GSR 粒子位置和分布图的技术,以确定射击距离 (9)。与基于溶液的批量分析方法不同,XRF 是非破坏性的;然而,XRF 仍然不提供形态信息,并且无法识别单个 GSR 颗粒。
1.1 本指南涵盖了通过手动和手动扫描电子显微镜/能量色散 X 射线光谱法 (SEM/EDS) 来分析枪弹残留物 (GSR)。自动化方法。分析可以手动进行,操作员操纵显微镜控制和 EDS 系统软件,也可以自动方式进行,其中一些分析量由预设软件功能控制。
1.2 由于商业系统的软件和硬件格式各不相同,因此将以最通用的术语提供指南。有关正确的术语和操作,请参阅每个系统的 SEM/EDS 系统手册。
1.3 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
;扫描电子显微术SEM☆分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成像 ☆谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等 ☆提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等 原子吸收AAS☆原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光,从而使用检测器检测到的能量变低...
:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术 SEM分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收 AAS原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光...
:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术 SEM分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收 AAS原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光...
:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术 SEM分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收 AAS原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光...
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