DIN EN 62132-2-2011
集成电路.电磁抗扰性的测量.第2部分:辐射抗干扰的测定.横电磁波传输室和宽带横电磁波传输室方法(IEC 62132-2-2010);德文版本EN 62132-2-2011

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010); German version EN 62132-2:2011

DIN EN 62132-2-2011 发布历史

DIN EN 62132-2-2011由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2011-07，并于 2011-07-01 实施。

DIN EN 62132-2-2011 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DIN EN 62132-2-2011 发布之时，引用了标准

• IEC 60050-131-2002 国际电工词汇.第131部分:电路理论
• IEC 61967-2 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
• IEC 62132-1-2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰度的测量.第1部分:一般条件和定义

DIN EN 62132-2-2011的历代版本如下：

• 2011年07月 DIN EN 62132-2-2011 集成电路.电磁抗扰性的测量.第2部分:辐射抗干扰的测定.横电磁波传输室和宽带横电磁波传输室方法(IEC 62132-2-2010);德文版本EN 62132-2-2011

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DIN EN 62132-2-2011 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

DIN EN 62132-2-2011

发布日期

2011年07月

实施日期

2011年07月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

DE-DIN

引用标准

IEC 60050-131-2002 IEC 60050-161 IEC 61967-2 IEC 62132-1-2006

被代替标准

DIN IEC 62132-2-2006

DIN EN 62132-2-2011系列标准

谁引用了DIN EN 62132-2-2011 更多引用