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XPS-Methode

Für die XPS-Methode gibt es insgesamt 6 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst XPS-Methode die folgenden Kategorien: analytische Chemie.

International Organization for Standardization (ISO), XPS-Methode

• ISO/CD 5861 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
• ISO/DIS 5861:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall

British Standards Institution (BSI), XPS-Methode

• BS ISO 16531:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
• 19/30399949 DC BS ISO 16531. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPS-Methode

• GB/T 34326-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS

American Society for Testing and Materials (ASTM), XPS-Methode

• ASTM E2735-13 Standardhandbuch für die Auswahl der für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Experimente (XPS) erforderlichen Kalibrierungen

Sonstige:   XPS, +++++ xps, +++++xps, XPS-Kalibrierung, aes xps, XPS-Kalibrierungsmethode, Moxps, XPS-Messung, +xps, XPS-Kalibrierungsmethode, XPS-Korrekturmethode, XPS-Kalibrierungsmethode, XPS-Methode, XPS-Methode, xps xps, xps+ xps, XPS und High Energy XPS, XPS-Messmethode.